• ВХОД
  •  

    Полное описание

    621.315.592.9/S38-099960
    Schubert, M. Infrared ellipsometry on semiconductor layer structures : phonons, plasmons, and polaritons / M. Schubert. - Electronic text data. - Berlin ; Heidelberg : Springer, 2005. - (Springer tracts in modern physics, ISSN 0081-3869 ; 209). - URL: http://dx.doi.org/10.1007/b11964. - ISBN 3-540-23249-4.
    ГРНТИ УДК
    47.01.77621.315.592.9

    Кл.слова (ненормированные): полупроводниковые структуры -- инфракрасная эллипсометрия
    Доп. точки доступа:
    SpringerLink (Online service)
    Экз-ры полностью 621.315.592.9/S38-099960
    http://dx.doi.org/10.1007/b11964



    Просмотр издания