Приложение
для AndroidПолное описание
Российский симп. по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исслед. твердых тел (17 ; 2011 ; Черноголовка). XVII Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел. РЭМ-2011 : 30 мая - 2 июня 2011 г. : тезисы докл. / Российский симп. по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исслед. твердых тел (17 ; 2011 ; Черноголовка) . - Черноголовка : ИПТМ РАН, 2011. - 279 с. - Загл. обл. : РЭМ-2011. - Библиогр. в конце отд. ст. - 220 экз. - ISBN 978-5-89589-054-7 : Б. ц. - Текст : непосредственный.
В надзаг.: Научный совет РАН по электронной микроскопии
| ГРНТИ | УДК | |
| 31.19.01 | 537.533.35(063) | |
| 29.35.43 | 543-16(062) |
Рубрики:
Микроскопия электронная -- Съезды и конференции
Твердые тела -- Методы исследования -- Съезды и конференции
Имеются экземпляры в отделах: всего 2 : ХР (2)
Свободны: ХР (2)
Растровый туннельный микроскоп с широким растром наблюдения / Ин-т сверхтвердых материалов. - 18 с. - Текст : непосредственный.Давыдов Д.Н. Низкотемпературная сканирующая туннельная микроскопия : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.01 / Д. Н. Давыдов, 1991. - 18 с. - Текст : непосредственный.Лобкис О.И. Дифракционные эффекты и формирование изображения в акустическом микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ-мат.наук:01.04.06 / О. И. Лобкис, 1991. - 20 с. - Текст : непосредственный.Стрепетов А.Н. Формирование и регистрация изображения в нейтронном микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.16 / А. Н. Стрепетов, 1991. - 29 с. - Текст : непосредственный.Рабинович В.Б. Пути повышения сборочно-юстировочной технологичности конструкций световых микроскопов : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.11.07 / В. Б. Рабинович, 1991. - 21 с. - Текст : непосредственный.Тавров А.В. Экспериментальная регистрация субмикронных структур поверхности на компьютерном фазовом микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.27.03 / А. В. Тавров, 1992. - 17 с. - Текст : непосредственный.Гавриков С.И. Электронно-микроскопические исследования окислов с использованием видеозаписи и цифровой обработки изображений : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:01.04.07 / С. И. Гавриков, 1992. - 16 с. - Текст : непосредственный.Стабилизатор луча 35-BST : Инструкции / ВЦП. - 13 c. - Текст : непосредственный.Инструкция по работе и описание электронного микроскопа JEM-100CX фирмы Джеол. Гл.5. Работа на приборе / ВЦП. - 194 c. - Текст : непосредственный.Инструкция по работе и описание электронного микроскопа JEM-100CX фирмы Джеол. Гл. 6. Обслуживание / ВЦП. - 206 c. - Текст : непосредственный.Система "МГВ АУТОМАТИК" : Информация по техн.обслуживанию / ВЦП. - 119 c. - Текст : непосредственный.Информация по обслуживанию автоматического устройства "MVG Automatik" / ВЦП. - 193 c. - Текст : непосредственный.Электронный микроскоп модель JEM-2000EX/FX : Спецификация деталей / ВЦП.Киев.ред. - 63 c. - Текст : непосредственный.Антонов А.П. Исследование и разработка методов,алгоритмов и устройств управления съемом и предварительной обработки информации в сканирующем туннельном микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.05 / А. П. Антонов, 1996. - 17 с. - Текст : непосредственный.Селектор изображений ИМС / ТПП Москвы. - 4 c. - Текст : непосредственный.Техника контроля и измерений с помощью электронных лучей / ТПП БССР. - 29 c. - Текст : непосредственный.Литвинов В.Л. Исследование и разработка методов и алгоритмов предварительной обработки изображений в задачах электронной микроскопии : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.01 / В. Л. Литвинов, 1997. - 16 с. - Текст : непосредственный.Карнав Т.Б. Базовые решения уравнения Хилла и сортировка заряженных частиц в анализаторах гиперболоидных масс-спектрометров : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.11.09 / Т. Б. Карнав, 1999. - 16 с. - Текст : непосредственный.Черемисин А.А. Адаптивные методы анализа молекулярных систем : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук: 01.04.14 / А. А. Черемисин, 1999. - 42 с. - Текст : непосредственный.Сысоев А.А. Транспортировка микроколичеств вещества и диссипация ионных сгустков во времяпролетных рефлектронных ионно-оптических системах с мембранными сепараторами : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук: 01.04.14 / А. А. Сысоев, 1999. - 19 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыВсесоюзное совещание по электронной микроскопии : Тез.докл. / Всесоюзное совещание по электронной микроскопии (4 ; 1963 ; Сумы) , 1960. - 39 c. - Текст : непосредственный.Scanning tunneling microscopy : Intern.colloquium on scanning tunneling microscopy,held in Hirosima,9-11 Dec.1993 / Ed. A. Kawazu, 1994. - V,3657-3790,11 p. p. - Текст : непосредственный.Взаимодействие ионов с поверхностью : Материалы XII Междунар.конф.,5-8 сент.1995 г.,Звенигород / Российская акад. наук. Науч. совет по физике плазмы. Т. 2, 1995. - 346 с. - Текст : непосредственный.Взаимодействие ионов с поверхностью : Материалы XII Междунар.конф.,5-8 сент.1995 г.,Звенигород / Российская АН.Науч.совет по физике плазмы. Т. 1, 1995. - 313 с. - Текст : непосредственный.Papers presented at the 3rd international conference on adhesion and surface analysis,held at Loughborough,12-14,Apr.1994 / International conference on adhesion and surface analysis (3 ; 1994 ; Loughborough) , 1995. - 261-350 p. p. - Текст : непосредственный.Surface analysis'94 : Papers from surface analysis'94,held at Burlington(Ma),15-17 June 1994 / Ed. J. T. Grant, 1995. - 59-120 p. p. - Текст : непосредственный.Scanning tunneling microscopy : 2nd intern.colloquium on scanning tunneling microscopy,held in Kanazawa,Dec.8-10,1994 / Ed. A. Kawazu, 1995. - 3309-3411 p. p. - Текст : непосредственный.Praktische Oberflächenanalytik : Beitr.zu einem Workshop im Forschungszentrum Karlsruhe vom 9.-11.Nov.1994 / ed. J. Goschnick, ed. J. Schuricht, 1995. - 200 S. - Текст : непосредственный.Photons and local probes : Proc.of the NATO advanced research workshop on photons and local probes,Reichenau,Sept.11-17,1994 / ed. O. Marti, ed. R. M@:oller, 1995. - IX,360 p. p. - Текст : непосредственный.Forces in scanning probe methods : Proc.of the NATO advanced study inst.on forces in scanning probe methods Schluchsee,March 7-18,1994 / Ed. H.-J. Guntherodt, 1995. - XIII,644 p. p. - Текст : непосредственный.Proceedings of the European conference on applications of surface and interface analysis,held 4-8 Oct.1993,Catania / ECASIA 93, 1994. - III,632 p. p. - Текст : непосредственный.Papers from the ECASIA 93 conference,4-8 Oct.1993,Catania,Italy / ECASIA 93, 1994. - 323 с. - Текст : непосредственный.Papers presented at the guantitative surface analysis conference,held 8-11 Sept.1992,Guidford / QSA-7, 1993. - 609-748 p. p. - Текст : непосредственный.Surface analysis'95 : Papers from surface analysis'95,Penn State Research Park(Pa),7-8 June 1995 / Ed. J. T. Grant, 1996. - 77-144 p. p. - Текст : непосредственный.Papers from the eighth International conference on scanning tunneling microscopy/spectroscopy and related techniques / International conference on scanning tunneling microscopy/spectroscopy and related techniques (1996 ; New York) , 1996. - 585-1576 p. p. - Текст : непосредственный.Scanning tunneling microscopy : Papers were presented at the inten. colloquium on scanning tunneling microscopy,Kanazawa,Dec.7-9,1995 / Ed. S. Hosoki, 1996. - 3695-3797 p. p. - Текст : непосредственный.Взаимодействие ионов с поверхностью : Материалы XIII Междунар.конф.,1-5 сент.1997г.,Звенигород / Российская академия наук. Научный совет по физике плазмы. Т. 1, 1997. - 306 с. - Текст : непосредственный.Proceedings / Multi-national congress on electron microskopy(1997;Portoroz). Pt. 1 : Microscopy applications in the life sciences, 1996. - 165-290 p. p. - Текст : непосредственный.Proceedings / Multi-national congress on electron microskopy(1997;Portoroz). Pt. 2 : Microscopy applications in the material science, 1997. - 68 p. - Текст : непосредственный.Proceedings / Multi-national congress on electron microskopy(1997;Portoroz). Pt. 3, 1997. - 126 p. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыЗаказ фрагмента документа ₽