• ВХОД
  •  

    Полное описание

    621.382.004.6/D30-567685
    Defects in high-k gate dielectric stacks : nano-electronic semiconductor devices / ed. E. Gusev. - Electronic text data. - Dordrecht : Springer, 2006. - (NATO science series. Ser. II, Mathematics, physics and chemistry, ISSN 1568-2609 ; 220). - URL: http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-4367-8. - ISBN 978-1-4020-4366-6.
    ГРНТИ УДК
    47.33621.382.004.6

    Рубрики:
    Полупроводниковые приборы -- Дефекты

    Доп. точки доступа:
    Gusev, E.\ed.\
    SpringerLink (Online service)
    Экз-ры полностью 621.382.004.6/D30-567685
    http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-4367-8



    Просмотр издания