• ВХОД
  •  

    Полное описание

    621.3.049.77.001./C52-711165
    Chiang, C. Design for manufacturability and yield for nano-scale cmos / C. Chiang, J. Kawa. - Electronic text data. - Dordrecht : Springer, 2006. - (Series on integrated circuits and systems, ISSN 1558-9412). - URL: http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-5188-3. - ISBN 978-1-4020-5188-3.
    ГРНТИ УДК
    47.14.07621.3.049.77.001.2

    Рубрики:
    Интегральные схемы -- Проектирование

    Доп. точки доступа:
    Kawa, J.
    SpringerLink (Online service)
    Экз-ры полностью 621.3.049.77.001./C52-711165
    http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-5188-3



    Просмотр издания