Приложение
для AndroidПолное описание
Мир физики и техники : учебное пособие. - М. : Техносфера, 20 - . - Текст : непосредственный.
2(15) : Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения : учеб. пособие / М. М. Криштал [и др.]. - 2009. - 206 с. : ил. - Библиогр.: с. 55-56 (10 назв.). - 1500 экз. - ISBN 978-5-94836-200-7 () : Б. ц.
| ГРНТИ | УДК | |
| 29.35.43 | 537.533.35 | |
| 31.19 | 543.422.8.063 |
Рубрики:
Микроскопия электронная
Рентгеноспектральный анализ микрохимический
Доп. точки доступа:
Криштал, Михаил Михайлович (доктор физико-математических наук, профессор ; 1969-)
Ясников, И.С.
Полунин, В.И.
Филатов, А.М.
Ульяненков, А.Г.
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХРЦ (1)
Свободны: ХРЦ (1)
Мир физики и техники. 2(15) : Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения : Учеб. пособие / М. М. Криштал [и др.], 2009. - 206 с. - Текст : непосредственный.Криштал, Михаил Михайлович. Микродуговое оксидирование алюминиево-кремниевых сплавов : монография / М. М. Криштал, П. В. Ивашин, А. В. Полунин, 2016. - 127 с. - Текст : непосредственный.
Техническая оптика : пер. с нем. / Г. Шредер, Х. Трайбер, 2006. - 423 с. - Текст : непосредственный.Брайдерт Г.-Й. Проектирование холодильных установок. Расчеты, параметры, примеры / Г. -Й. Брайдерт, 2006. - 335 с. - Текст : непосредственный.Балдев Р. Применения ультразвука : Пер. с англ. / Р. Балдев, В. Раджендран, П. Паланичами, 2006. - 575 с. - Текст : непосредственный.Шмидт В. Оптическая спектроскопия для химиков и биологов / В. Шмидт; пер. с англ. Н. П. Ивановской; под ред. С. В. Савилова, 2007. - 367 с. - Текст : непосредственный.Основы ЯМР / Б. Блюмих; пер. с англ. Н.Е.Агаповой, 2007. - 152 с. - Текст : непосредственный.Физика твердого тела для инженеров : Учеб. пособие / В. А. Гуртов, Р. Н. Осауленко; науч. ред. Л. А. Алешина, 2007. - 518 с. - Текст : непосредственный.Лазеры. Исполнение, управление, применение : пер. с нем. / Ю. Айхлер, Г.-И. Айхлер, 2008. - 438 с. - Текст : непосредственный.Доссат Р.Д. Основы холодильной техники / Р. Д. Доссат, Т. Д. Хоран; пер. с англ. С. В. Аникина; под ред. Л. Г. Каплана, 2008. - 821 с. - Текст : непосредственный.Справочник инженера-механика : пер. с англ. / Р.Л. Тимингс; под ред. И.Ю. Шкадиной, 2008. - 629 с. - Текст : непосредственный.Зализняк, В. Е. Основы вычислительной физики : Учеб пособие. Ч. 1 : Введение в конечно-разностные методы, 2008. - 223 с. - Текст : непосредственный.Справочник по физике. Формулы, таблицы, схемы : пер с нем. / Под ред. Х. Штекера, 2009. - 1263 с. - Текст : непосредственный.Мир физики и техники : учебник по общей электротехнике / Г. Шатенье [и др.]; пер. с фр. В. Н. Грасевича, 2009. - 623 с. - Текст : непосредственный.Мир физики и техники. 2(15) : Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения : Учеб. пособие / М. М. Криштал [и др.], 2009. - 206 с. - Текст : непосредственный.Лазерно-искровая эмиссионная спектроскопия / Д. Кремерс, Л. Радзиемски: пер. с англ. А. А. Горбатенко и др.; под общ. ред. Н. Б. Зорова, 2009. - 358 с. - Текст : непосредственный.Эгертон Р.Ф. Физические принципы электронной микроскопии. Введение в просвечивающую, растровую и аналитическую электронную микроскопию / Р. Ф. Эгертон; пер. с англ. С. А. Иванова, 2010. - 300 с. - Текст : непосредственный.Патентование изобретений в области высоких и нанотехнологий / Д. Ю. Соколов, 2010. - 135 с. - Текст : непосредственный.Блюмих Б. Основы ЯМР : для ученых и инженеров / Б. Блюмих; пер. с англ. П. А. Белякова; под ред. В. П. Ананикова, 2011. - 252 с. - Текст : непосредственный.Компрессоры. Современное применение / Х. П. Блох ; пер. с англ. Л. Н. Кодомского ; под ред. Т. С. Дегятревой, А. А. Курганова, 2011. - 344, 15 с. - Текст : непосредственный.Промышленное применение аккумуляторных батарей. От автомобилей до авиакосмической промышленности и накопителей энергии : [сборник] / под ред. М. Бруссили, Д. Пистойя ; пер. с англ. Н. Г. Максимовой ; под ред. И. В. Кокоревой, 2011. - 782 с. - Текст : непосредственный.Просвечивающая электронная микроскопия и дифрактометрия материалов / Б. Фульц, Д. М. Хау; пер. с англ. В. И. Даниленко; под ред. А. В. Мохова, 2011. - 903 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыКоличественное определение платины и палладия в геологических образцах с помощью экстракции комплексов йода и атомной абсорбционной спектрометрией в графитовой печи / ВЦП. - 10 с. - Текст : непосредственный.Растровый туннельный микроскоп с широким растром наблюдения / Ин-т сверхтвердых материалов. - 18 с. - Текст : непосредственный.Справочник по проведению точных химических анализов фотометрическим методом с использованием аппаратуры фирмы "Д-р Ланге" / ВЦП. - 273 c. - Текст : непосредственный.Ганеев А.А. Спектрально-фазовые эффекты и их аналитическое применение : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат.наук:02.00.02 / А. А. Ганеев, 1991. - 32 с. - Текст : непосредственный.Воробьев А.Е. Масс-спектрометрические исследования термодесорбции газов,имплантированных и растворенных в объеме твердых тел : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.07 / А. Е. Воробьев, 1991. - 18 с. - Текст : непосредственный.Чекалин Н.В. Селективные лазерные методы определения,разделения и концентрирования элементов и их соединений : Дис.на соискание ученой степени д-ра физ.-мат.наук в форме науч.докл.:02.00.02 / Н. В. Чекалин, 1991. - 47 с. - Текст : непосредственный.Свинцова Л.Д. Электрохимическая пробоподготовка в диафрагменном электролизере и ее использование для инверсионновольтамперометрического определения токсичных металлов в природных водах : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.хим.наук:02.00.02 / Л. Д. Свинцова, 1991. - 26 с. - Текст : непосредственный.Гиясов А.Ш. Избирательное экстракционно-фотометрическое определение таллия и висмута пиридиновыми азосоединениями и золота основными красителями : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.хим.наук:02.00.02 / А. Ш. Гиясов, 1991. - 22 с. - Текст : непосредственный.Тимербаев А.Р. Жидкостная хроматография хелатов:химические аспекты теории и применение в неорганическом анализе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра хим.наук:02.00.02 / А. Р. Тимербаев, 1991. - 37 с. - Текст : непосредственный.Кузьмина А.М. Физико-химические свойства оксида бериллия по рентгенографическим данным : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.07 / А. М. Кузьмина, 1991. - 15 с. - Текст : непосредственный.Неронов Ю.И. Исследования в области ЯМР-спектроскопии изотопного замещения и определение отношений магнитных моментов легчайших ядер с точностью до восьмого-девятого знака : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат.наук:01.04.03 / Ю. И. Неронов, 1991. - 32 с. - Текст : непосредственный.Мордехай А.В. Ионная динамика в ячейках спектрометров ионного циклотронного резонанса для прецизионных измерений : Автореферат диссертации на соискание ученой степени физ.-мат.наук:01.04.17 / А. В. Мордехай, 1990. - 24 с. - Текст : непосредственный.Седык Хассан.Люминисцентное определение субмикрограммовых количеств нитритов,нитратов и фосфатов : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.хим.наук:02.00.02 / Седык Хассан, 1990. - 14 с. - Текст : непосредственный.Покровский В.А. Десорбционная масс-спектрометрия и ее применения в химии поверхности : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат.наук:01.04.01 / В. А. Покровский, 1990. - 35 с. - Текст : непосредственный.Блажеевский Н.Е. Реакции дипероксидикарбоновых кислот с третичными аминами и их применение в анализе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.хим.наук:02.00.02 / Н. Е. Блажеевский, 1990. - 16 с. - Текст : непосредственный.Ашуров А.М. Фотоакустический эффект в порошкообразных и твердотельных образцах пригазомикрофонной схеме регистрации : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.06 / А. М. Ашуров, 1991. - 16 с. - Текст : непосредственный.Комаров И.В. Изучение ониевых солей с помощью лантаноидных сдвигающих реагентов : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.хим.наук:02.00.03 / И. В. Комаров, 1991. - 18 с. - Текст : непосредственный.Зиновьев П.В. Хроматографическое определение ультрамикроконцентраций некоторых полиароматических углеводородов в аэрозоле воздуха : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.хим.наук:02.00.02 / П. В. Зиновьев, 1991. - 25 с. - Текст : непосредственный.Саад Ясин Джасим.Эффект насыщения флуоресценции при импульсном лазерном возбуждении и некоторые его аналитические приложения : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.21 / Саад Ясин Джасим, 1991. - 16 с. - Текст : непосредственный.Ней Л.И. Амперометрический сенсор для определения кислорода в водных растворах : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.хим.наук:02.00.02 / Л. И. Ней, 1991. - 18 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыRuijter W.J.de Quantitative high-resolution electron microscopy and holography : Diss. / W.J.de Ruijter, 1992. - 167 p. - Текст : непосредственный.Горелик С.С. Рентгенографический и электронно-оптический анализ : Учеб.пособие для вузов,обучающихся по направлению "Материаловедение и технология новых материалов" / С. С. Горелик, Ю. А. Скаков, Л. Н. Расторгуев, 1994. - 328 c. - Текст : непосредственный.Тронева Н.В. Электронно-зондовый микроанализ неоднородных поверхностей в свете теории распознавания образов / Н.В.Тронева,М.А.Тронева, 1996. - 208 с. - Текст : непосредственный.The TEM-accelerators facility at JAERI-Takasaki and its application to materials science / H.Abe,H.Naramoto,K.Hojou,S.Furuno, 1996. - III,18 p. p. - Текст : непосредственный.Байбурин, В. Б. Многофункциональный комплекс сканирующей зондовой микроскопии и его применение. Ч. 1, 1998. - 120 с. - Текст : непосредственный.Hohenstein M. Rekonstruktion der Elektronen-Austrittswellenfunktion durch Abbildung mit einem Seitenband ihres Frequenzspektrums in der hochauflosenden Elektronenmikroskopie : Diss. / M.Hohenstein, 1991. - 101 S. - Текст : непосредственный.Tuniz C. Doubly bent crystals for X-ray microfocusing applications:calculation of the energy bandpass / C.Tuniz,F.Zanini,F.Zontone, 1990. - 11 p. - Текст : непосредственный.Иванов С.А. Электронная микроскопия : Учеб. пособие / С.А.Иванов, 1991. - 92 с. - Текст : непосредственный.Hugo D.von Einfluss des delokalisierten Anregungsprozesses bei der Bestimmung von Fremdatompositionen mit Hilfe des Channeling Effekts : Diss. / D.von Hugo, 1989. - 86 S. - Текст : непосредственный.Применение кластерного анализа и метода главных компонент для определения фазового состава негомогенных образцов количественным микрорентгеноспектральным методом / И.И.Бондаренко,В.В.Резвицкий,Б.А.Трейгер,Л.Н.Мазалов, 1990. - 57 с. - Текст : непосредственный.Электронная микроскопия и прочность материалов : Сб. науч. тр. / АН УССР.Ин-т проблем материаловедения им.И.Н.Францевича,Науч.совет АН УССР по пробл."Физика твердого тела", 1991. - 134 с. - Текст : непосредственный.Дюков В.Г. Электронная микроскопия локальных потенциалов / В. Г. Дюков, С. А. Непийко, Н. Н. Седов, 1991. - 198 с. - Текст : непосредственный.Advances in optical and electron microscopy. Vol. 11, 1989. - XI, 185 p. 185 p. - Текст : непосредственный.Reimer L. Transmission electron microscopy:Physics of image formation and microanalysis / L.Reimer, 1989. - XIII, 547 p. 547 p. - Текст : непосредственный.Olsen A. CTF. BAS Ver 1.1 : A Basic program for an IBM PC compatible computer for drawing the weak phase object contrast transfer function / A.Olsen,P.Skjerpe, 1989. - 6 p. - Текст : непосредственный.Орелович О.Л. Приемы препарирования образцов трековых мембран для растровой электронной микроскопии / О.Л.Орелович,П.Ю.Апель, 2000. - 8 с. - Текст : непосредственный.Просвечивающая и растровая электронная микроскопия : Учеб. пособие для студентов по спец. 551600, 071000 / В.И.Темных,Г.М.Зеер,Е.М.Артемьев и др., 2000. - 80 с. - Текст : непосредственный.Электронная микроскопия и прочность материалов : Сб. науч. тр. / АН УССР. Ин-т пробл. материаловедения им.И.Н.Францевича, 1989. - 190 с. - Текст : непосредственный.Сороко Л.М. Мезооптический микроскоп как томографические устройство / Л.М.Сороко;Объед. ин-т ядер. исслед., 1989. - 12 с. - Текст : непосредственный.Основы аналитической электронной микроскопии / Под ред. Д.Д.Грена и др.; Пер. с англ. под ред. М. П. Усикова, 1990. - 584 c. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыБолохова Т.А. Развитие микрорентгеноспектрального метода в ультрадлинноволновой области с применением ЭВМ : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.07 / Т. А. Болохова, 1991. - 30 с. - Текст : непосредственный.Руколайне С.А. Прямые и обратные задачи количественного электронно-зондового микроанализа и просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:05.13.16 / С. А. Руколайне, 1994. - 15 с. - Текст : непосредственный.Белозерова О.Ю. Модификация биэкспоненциальной модели в рентгеноспектральном микроанализе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.хим.наук:02.00.02 / О. Ю. Белозерова, 1997. - 21 с. - Текст : непосредственный.Роддатис В.В. Электронная микроскопия бикристаллов и пленок на бикристаллических и ступенчатых подложках : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук: 01.04.07 / В. В. Роддатис, 1999. - 19 с. - Текст : непосредственный.Мурясов Р.Р. Вопросы теории туннелирования электронов в СТМ : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук: 01.04.17 / Р. Р. Мурясов, 2000. - 20 с. - Текст : непосредственный.Лапшин Р.В. Объектно-ориентированное сканирование для зондовой микроскопии и нанотехнологии : автореф. дис. .. канд. техн. наук : 05.27.01 / Р. В. Лапшин, 2002. - 34 с. - Текст : непосредственный.Ruijter W.J.de Quantitative high-resolution electron microscopy and holography : Diss. / W.J.de Ruijter, 1992. - 167 p. - Текст : непосредственный.Scanning tunneling microscopy / Ed.:R.Wiesendanger, H.J.Guntherodt. Pt. 2 : Further applications and related scanning techniques, 1992. - XI,308 p. p. - Текст : непосредственный.Всесоюзное совещание по электронной микроскопии : Тез.докл. / Всесоюзное совещание по электронной микроскопии (4 ; 1963 ; Сумы) , 1960. - 39 c. - Текст : непосредственный.Scanning tunneling microscopy : Intern.colloquium on scanning tunneling microscopy,held in Hirosima,9-11 Dec.1993 / Ed. A. Kawazu, 1994. - V,3657-3790,11 p. p. - Текст : непосредственный.Scanning tunneling microscopy / Ed.:R.Wiesendanger, H.J.Guntherodt. Pt. 3 : Theory of STM and related scanning probe methods, 1993. - XV,375 p. p. - Текст : непосредственный.Scanning tunneling microscopy : 2nd intern.colloquium on scanning tunneling microscopy,held in Kanazawa,Dec.8-10,1994 / Ed. A. Kawazu, 1995. - 3309-3411 p. p. - Текст : непосредственный.Тронева Н.В. Электронно-зондовый микроанализ неоднородных поверхностей в свете теории распознавания образов / Н.В.Тронева,М.А.Тронева, 1996. - 208 с. - Текст : непосредственный.Photons and local probes : Proc.of the NATO advanced research workshop on photons and local probes,Reichenau,Sept.11-17,1994 / ed. O. Marti, ed. R. M@:oller, 1995. - IX,360 p. p. - Текст : непосредственный.Forces in scanning probe methods : Proc.of the NATO advanced study inst.on forces in scanning probe methods Schluchsee,March 7-18,1994 / Ed. H.-J. Guntherodt, 1995. - XIII,644 p. p. - Текст : непосредственный.Papers from the eighth International conference on scanning tunneling microscopy/spectroscopy and related techniques / International conference on scanning tunneling microscopy/spectroscopy and related techniques (1996 ; New York) , 1996. - 585-1576 p. p. - Текст : непосредственный.Scanning tunneling microscopy : Papers were presented at the inten. colloquium on scanning tunneling microscopy,Kanazawa,Dec.7-9,1995 / Ed. S. Hosoki, 1996. - 3695-3797 p. p. - Текст : непосредственный.Миллер М. Зондовый анализ в автоионной микроскопии : Принципы и прил. в материаловеденииПер. с англ. под ред. А. Л. Суворова / М.Миллер,Г.Смит, 1993. - 301 с. - Текст : непосредственный.Scanning tunneling microscopy.Quantum dot structures : Papers presented at the 4th Intern.colloquium on scanning tunneling microscopy,Kanazawa,Dec.12-14,1996 / ed. S. Hosoki, 1997. - Pag.var. - Текст : непосредственный.Сканирующая туннельная микроскопия : Руководство пользователя / И.С.Суровцев,Л.А.Битюцкая,Д.С.Долгих,М.В.Мамута, 1997. - 42 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыЗаказ фрагмента документа ₽