• ВХОД
  •  

    Полное описание

    J2/27448
    Kaupp, G. Atomic force microscopy, scanning nearfield optical microscopy and nanoscratching : application to rough and natural surfaces / G. Kaupp. - Berlin[etc.] : Springer, 2006. - XII, 292 p. : ill. - (NanoScience and technology/ ed.: P. Avouris [et al.], ISSN 1434-4904). - Библиогр. в конце разд. Указ.: с. 279-292. - ISBN 3-540-28405-2 : 3337.65 р. - Текст : непосредственный.
    ГРНТИ УДК
    31.15.35532.6
    544.72

    Рубрики:
    Шероховатость -- Методы исследования
    Поверхностные явления -- Методы исследования
    Экз-ры полностью J2/27448
    Имеются экземпляры в отделах: всего 2 : ХР (1), (1)
    Свободны: ХР (1), (1)
    Копия:



    Заказ фрагмента документа ₽