Приложение
для AndroidПолное описание
Уваров, Е. И. Разработка неразрушающих автоматизированных методов исследования полупроводников и полупроводниковых структур : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук: 01.04.10 / Е. И. Уваров. - Новосибирск : [б. и.], 1997. - 15 с. - Текст : непосредственный.
Библиогр.:с. 14-15 (21 назв.)
| ГРНТИ | УДК | |
| 47.01.81 | 621.315.592.9:620.179(043) | |
| 621.382:620.179(043) |
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Суворов А.Ю. Исследование интерференционных эффектов при брэгговской дифракции пространственно промодулированной рентгеновской волны : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:05.27.01 / А. Ю. Суворов, 1993. - 18 с. - Текст : непосредственный.Рафиков Р.А. Моделирование электрических режимов и разработка устройств для испытаний и тренировок электронных приборов : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.27.02 / Р. А. Рафиков, 1993. - 16 с. - Текст : непосредственный.Вълков И.Ц. Аппаратура и методы электронно-зондового тестирования интегральных микросхем в режиме вторичной электронной эмиссии : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук: 05.27.01 / И. Ц. Вълков, 1994. - 16 с. - Текст : непосредственный.Острова С.О. Метод и приборы электрофлуктуационного неразрушающего контроля качества и надежности электронных элементов : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн. наук: 05.13.05 / С. О. Острова, 1994. - 34 с. - Текст : непосредственный.Григорьева Э.В. Определение элементного состава поверхностей и границ раздела с помощью деконволюции рентгенофотоэлектронных спектров : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:02.00.04 / Э. В. Григорьева, 1996. - 26 с. - Текст : непосредственный.Никитин К.К. Развитие теории и совершенствование методов ключевого усиления и улучшение энергетических характеристик и показателей качества мощных радиотехнических устройств с импульсной модуляцией : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн.наук:05.12.17 / К. К. Никитин, 1997. - 31 с. - Текст : непосредственный.Чекмарев А.Н. Разработка научно-технических основ управления качеством изготовления радиоэлектронных средств : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн. наук: 08.00.20 / А. Н. Чекмарев, 1997. - 32 с. - Текст : непосредственный.Касьян К.Н. Разработка метода диагностирования электрорадиоэлементов аналоговых функциональных узлов на этапе производства : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.12.17 / К. Н. Касьян, 1997. - 21 с. - Текст : непосредственный.Уваров Е.И. Разработка неразрушающих автоматизированных методов исследования полупроводников и полупроводниковых структур : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук: 01.04.10 / Е. И. Уваров, 1997. - 15 с. - Текст : непосредственный.Федоров И.В. Разработка и исследование метода интерферометрического контроля микрокомпонентов радиоэлектронной аппаратуры : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук: 05.12.13 / И. В. Федоров, 1997. - 21 с. - Текст : непосредственный.Наумов М.Б. Основы информационной теории диагностики аналоговой и цифровой аппаратуры сложных систем : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн.наук:05.13.01 / М. Б. Наумов, 1998. - 32 с. - Текст : непосредственный.Логинов Н.А. Исследование методов и средств радиоконтроля и разработка концепции его совершенствования в Российской Федерации : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.12.17 / Н. А. Логинов, 1998. - 16 с. - Текст : непосредственный.Мамаев Ю.Г. Разработка методологии построения экспертных систем для диагностики цифровой РЭА : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук: 05.12.17, 05.13.12 / Ю. Г. Мамаев, 1999. - 20 с. - Текст : непосредственный.Махнист Л.П. Оценивание достоверности сигнатурного анализа для контроля цифровых схем : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук: 05.13.05 / Л. П. Махнист, 1999. - 21 с. - Текст : непосредственный.Стафеев С.К. Комплекс методов и средств оптического неразрушающего контроля материалов микроэлектроники : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн. наук:05.11.07 / С. К. Стафеев, 1999. - 38 с. - Текст : непосредственный.Короленко Е.В. Разработка методического и приборного обеспечения испытаний радиоэлектронных средств на акустические воздействия : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук:05.27.07 / Е. В. Короленко, 1999. - 20 с. - Текст : непосредственный.Увайсов С.У. Методы диагностирования радиоэлектронных устройств систем управления на протяжении их жизненного цикла : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн. наук: 05.13.05 / С. У. Увайсов, 2000. - 46 с. - Текст : непосредственный.Береговая И.Б. Оценка конкурентоспособности радиоэлектронной аппаратуры : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. экон. наук: 08.00.05 / И. Б. Береговая, 2001. - 16 с. - Текст : непосредственный.Гад С.Я. Анализ и синтез моделей и алгоритмов классической и компьютерной диагностики и идентификации радиотехнических и электротехнических систем подвижных объектов : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн. наук:01.04.03 / С. Я. Гад, 2000. - 34 с. - Текст : непосредственный.Михайлов А.Н. Системный анализ элементов радиоэлектронной аппаратуры на основе применения автоматизированной системы температурной диагностики : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук :05.13.01 / А. Н. Михайлов, 2001. - 18 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыЧарный Л.А. Особенности микродефектов в арсениде галлия,выявленные методом диффузного рассеяния рентгеновских лучей : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.10 / Л. А. Чарный, 1992. - 25 с. - Текст : непосредственный.Суворов А.Ю. Исследование интерференционных эффектов при брэгговской дифракции пространственно промодулированной рентгеновской волны : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:05.27.01 / А. Ю. Суворов, 1993. - 18 с. - Текст : непосредственный.Холкин В.Ю. Методы и средства отбраковки потенциально ненадежных полупроводниковых приборов по шумовым характеристикам при повышенных тепловых и электрических нагрузках : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.12.13 / В. Ю. Холкин, 1993. - 21 с. - Текст : непосредственный.Уваров Е.И. Разработка неразрушающих автоматизированных методов исследования полупроводников и полупроводниковых структур : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук: 01.04.10 / Е. И. Уваров, 1997. - 15 с. - Текст : непосредственный.Титков И.Е. Неразрушающая диагностика электронных свойств структур на основе SiC и GaAs/AlGaAs : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук :01.04.10 / И. Е. Титков, 2001. - 16 с. - Текст : непосредственный.Корнилович А.А. Разработка неразрушающих методов исследования полупроводников и низкоразмерных полупроводниковых структур : автореф. дис. .. д-ра техн. наук : 01.04.10 / А. А. Корнилович, 2002. - 38 с. - Текст : непосредственный.Литвиненко О.В. Исследование термоакустических эффектов в кремниевых пластинах : автореф. дис. .. канд. физ.-мат. наук : 01.04.10 / О. В. Литвиненко, 2003. - 18 с. - Текст : непосредственный.Ouwerling G.J.L. Nondestructive one- and two-dimensional doping profiling by inverse methods : Diss. / G.J.L.Ouwerling, 1989. - 193 p. - Текст : непосредственный.Синтез методов и средства неразрушающего контроля качества полупроводниковых изделий на основе моделей неизотермического токораспределения в приборных структурах : автореф. дис. .. д-ра техн. наук : 05.27.01 / В.А. Сергеев, 2005. - 42 c. - Текст : непосредственный.Анализ ключевых характеристик методов локальной диагностики полупроводников - метода наведенного рентгеновским пучком тока и рентгеновского флуоресцентного метода : автореф. дис. .. канд. физ.-мат. наук : 01.04.07, 05.27.01 / Я. Л. Шабельникова, 2013. - 26 с. - Текст : непосредственный.Королев С.А. Микроволновая микроскопия полупроводниковых структур : автореф. дис. .. канд. физ.-мат. наук : 01.04.01 / С. А. Королев, 2018. - 23 с.Дедкова, Анна Александровна. Комплекс методик для оптического исследования рельефа и механических характеристик тонкопленочных структур : 2.2.8. - Методы и приборы контроля и диагностики материалов, изделий, веществ и природной среды : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук / Дедкова Анна Александровна, 2022. - 24 с. - Текст : непосредственный.
Заказ фрагмента документа ₽