Приложение
для AndroidПолное описание
Мир материалов и технологий. - М. : Техносфера, 20 - . - Текст : непосредственный.
6.08 : Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия / Д. Синдо, Т. Оикава; пер. с англ. С.А. Иванова. - 2006. - 253 с. : ил. - Библиогр. в конце глав. - 3000 экз. - ISBN 5-94836-064-4 : Б. ц.
| ГРНТИ | УДК | |
| 31.19.03 | 543.422.8.063 |
Рубрики:
Электронная спектроскопия
Доп. точки доступа:
Оикава, Т.
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Харрис П. Углеродные нанотрубы и родственные структуры : Новые материалы XXI века: Пер. с англ. / П.Харрис, 2003. - 335 с. - Текст : непосредственный.Нанотехнологии : [Учеб.-монография] / Ч. Пул, Ф. Оуэнс, 2005. - 334 с. - Текст : непосредственный.Гамбург Ю.Д. Гальванические покрытия. Справочник по применению / Ю. Д. Гамбург, 2006. - 215 с. - Текст : непосредственный.Мир материалов и технологий. 6.08 : Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия / Д. Синдо, Т. Оикава; пер. с англ. С.А. Иванова, 2006. - 253 с. - Текст : непосредственный.Военные нанотехнологии. Возможности применения и превентивного контроля вооружений : учеб. пособие: пер. с англ. / Ю. Альтман, 2006. - 421 с. - Текст : непосредственный.Клеевые соединения / Ж.-Ж. Вильнав; пер. с франц. Л. В. Синегубовой с предисл. и под ред. Г. В. Малышевой, 2007. - 381 с. - Текст : непосредственный.Техническая микроскопия. Практика работы с микроскопами для технических целей. С микроскопом на "ты" / О. В. Егорова, 2007. - 357 с. - Текст : непосредственный.Пул Ч. Нанотехнологии : учеб. пособие / Ч. Пул, Ф. Оуэнс; пер. с англ. под ред. Ю.И.Головина, 2007. - 375 с. - Текст : непосредственный.Легкие сплавы: от традиционных до нанокристаллов : пер. с англ. Ю. Л. Цвирко / Я. Полмеар, 2008. - 463 с. - Текст : непосредственный.Нанотехнологии : учеб. пособие / Ч. Пул, Ф. Оуэнс; пер. с англ. под ред. Ю. И. Головина, 2009. - 335 с. - Текст : непосредственный.Нанотехнологии, метрология, стандартизация и сертификация в терминах и определениях : словарь / сост. А. С. Авилов и др.; под ред. М. В. Ковальчука, П. А. Тодуа, 2009. - 135 с. - Текст : непосредственный.Ионно-плазменные процессы в тонкопленочной технологии / Е. Берлин, Л. Сейдман, 2010. - 527 с. - Текст : непосредственный.Нанотехнологии / Ч. Пул, Ф. Оуэнс; пер. с англ. под ред. Ю.И. Головина, 2010. - 330 с. - Текст : непосредственный.Анализ аварийных разрушений / А. Д. Мак-Ивили; пер. с англ. Э.М. Лазарева и др., 2010. - 413 с. - Текст : непосредственный.Размерные эффекты в наноматериалах / Э. Родунер; пер. с англ. А. В. Хачояна; под ред. Р. А. Андриевского , 2010. - 350 с. - Текст : непосредственный.Магнитомягкие материалы : Энциклопед. словарь-справ. / Ю. Н. Стародубцев, 2011. - 659 с. - Текст : непосредственный.Плазменно-электролитическое модифицирование поверхности металлов и сплавов : в 2 т. / И. В. Суминов [и др.]; под общ. ред. И. Суминова. Т. 2, 2011. - 511 с. (Введено оглавление). - Текст : непосредственный.Плазменно-электролитическое модифицирование поверхности металлов и сплавов : в 2 т. / И. В. Суминов [и др.]; под общ. ред. И. Суминова. Т. 1, 2011. - 463 с. (Введено оглавление). - Текст : непосредственный.Краткая энциклопедия по структуре материалов / под ред. Д. В. Мартина; пер. с англ. А. А. Шустикова; под ред. Н. И. Бауровой, 2011. - 607 с. (Введено оглавление). - Текст : непосредственный.Легкие баллистические материалы / ред. оригинального изд. А. Бахтанагар; пер. с англ. под общ. ред. С. П. Баженова, 2011. - 392 с. (Введено оглавление). - Текст : непосредственный.
Показать все результатыСправочник по проведению точных химических анализов фотометрическим методом с использованием аппаратуры фирмы "Д-р Ланге" / ВЦП. - 273 c. - Текст : непосредственный.Неронов Ю.И. Исследования в области ЯМР-спектроскопии изотопного замещения и определение отношений магнитных моментов легчайших ядер с точностью до восьмого-девятого знака : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат.наук:01.04.03 / Ю. И. Неронов, 1991. - 32 с. - Текст : непосредственный.Покровский В.А. Десорбционная масс-спектрометрия и ее применения в химии поверхности : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат.наук:01.04.01 / В. А. Покровский, 1990. - 35 с. - Текст : непосредственный.Блажеевский Н.Е. Реакции дипероксидикарбоновых кислот с третичными аминами и их применение в анализе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.хим.наук:02.00.02 / Н. Е. Блажеевский, 1990. - 16 с. - Текст : непосредственный.Болохова Т.А. Развитие микрорентгеноспектрального метода в ультрадлинноволновой области с применением ЭВМ : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.07 / Т. А. Болохова, 1991. - 30 с. - Текст : непосредственный.Наранкевич З. Молекулярная динамика в металлоценах и их клатратных комплексах по данным ЯМР в твердом теле : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.хим.наук:02.00.04 / З. Наранкевич, 1991. - 24 с. - Текст : непосредственный.Макаренко Б.Н. Спектрометрия распыленных нейтральных частиц : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.04 / Б. Н. Макаренко, 1991. - 19 с. - Текст : непосредственный.Салмина Н.Ю. Имитационно-лингвистические алгоритмы анализа и обработки структурной информации : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.16 / Н. Ю. Салмина, 1991. - 17 с. - Текст : непосредственный.Рассказова Р.Б. Исследование и разработка методов и средств обработки аналитической информации : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.01:05.13.05 / Р. Б. Рассказова, 1991. - 17 с. - Текст : непосредственный.Макаров А.А. Квазиизохронное движение заряженных частиц в статических электромагнитных полях : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.20 / А. А. Макаров, 1992. - 20 с. - Текст : непосредственный.Тырышкин А.М. Комбинационные гармоники в спектрах модуляции электронного спинового эха полиориентированных парамагнитных центров : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.17 / А. М. Тырышкин, 1992. - 18 с. - Текст : непосредственный.Тенденции в развитии аналитической аппаратуры / ВЦП. - 10 c. - Текст : непосредственный.Кляцкина Е.И. Сольватные ионоселективные электроды на полииодидные и цинкроданидные анионы и их аналитическое применение : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.хим.наук:02.00.02 / Е. И. Кляцкина, 1993. - 16 с. - Текст : непосредственный.Евсевлеева Л.Г. Динамические характеристики пластифицированных ионоселективных электродов : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. хим. наук:02.00.02 / Л. Г. Евсевлеева, 1993. - 16 с. - Текст : непосредственный.Атомно-абсорбционная система Laboratory Benchtop / ВЦП. - 66 c. - Текст : непосредственный.Обратное титрование / ВЦП. - 50 c. - Текст : непосредственный.Рунов В.К. Развитие оптических сорбционно-молекулярно-спектроскопических методов анализа : Диссертация на соискание ученой степени д-ра хим. наук в форме науч. докл.:02.00.02 / В. К. Рунов, 1994. - 54 с. - Текст : непосредственный.Руколайне С.А. Прямые и обратные задачи количественного электронно-зондового микроанализа и просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:05.13.16 / С. А. Руколайне, 1994. - 15 с. - Текст : непосредственный.Вагина С.Э. Закономерности влияния поверхностных химических реакций на величину аналитического сигнала в ИВА : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.хим.наук:02.00.02 / С. Э. Вагина, 1994. - 20 с. - Текст : непосредственный.Рахманько Е.М. Физико-химические основы применения экстракции солями высших четвертичных аммониевых оснований в анализе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра хим. наук:02.00.04; 02.00.02 / Е. М. Рахманько, 1994. - 53 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыYuan Z.W. Exelfs studies of the atomic fine structure in solids with a convergent beam diffraction coupled eels spectrometer system : Diss / Z.W.Yuan, 1993. - Pag.var. - Текст : непосредственный.Dacca A. Tecniche di spettroscopia elettronica per l'analisi di superfici / A.Dacca,G.Gemme,R.Parodi, 1997. - 15 p. - Текст : непосредственный.Еловиков С.С. Электронная спектроскопия поверхности и тонких пленок / С.С.Еловиков, 1992. - 94 с. - Текст : непосредственный.Рентгеноспектральный электронно-зондовый микроанализ природных объектов / Л.А.Павлова,О.Ю.Белозерова,Л.Ф.Парадина,Л.Ф.Суворова;Отв.ред.А.Г.Ревенко, 2000. - 223 с. - Текст : непосредственный.Соколов О.Б. Развитие экспериментальных возможностей метода электронной спектроскопии с использованием магнитного энергоанализа : Учеб. пособие / О.Б.Соколов,В.Л.Кузнецов, 1990. - 56 c. - Текст : непосредственный.Advances in imaging and electron physics / Ed. P.W.Hawkes. Vol. 123 : Microscopy, spectroscopy, holography and crystallography with electrons , 2002. - XVI,462 p. p. - Текст : непосредственный.Горшков И.И. Физико-химические методы анализа. Электронно-микроскопический анализ : Учеб.пособие / И.И.Горшков, 2001. - 54 с. - Текст : непосредственный.Мир материалов и технологий. 6.08 : Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия / Д. Синдо, Т. Оикава; пер. с англ. С.А. Иванова, 2006. - 253 с. - Текст : непосредственный.Berakdar J. Electronic correlation mapping : from finite to extended systems / J.Berakdar, 2006. - XIII, 192 p. - Текст : непосредственный.Физические методы исследований (металлография, электронная микроскопия, электронная спектроскопия) : учеб. пособие / А. Б. Шеин, 2008. - 108 с. - Текст : непосредственный.Рентгеновские и электронные спектры и химическая связь : сб. ст. / гл. ред. Л. Н. Мазалов, 2011. - 196 с. - Текст : непосредственный.Доломатов, М. Ю. Электронная феноменологическая спектроскопия и ее применение в исследовании сложных веществ в технологии, химии, нанофизике и медицине : монография. Ч. 1 : Электронная феноменологическая спектроскопия в исследовании свойств и структуры молекул и наночастиц, 2019. - 321 с. - Текст : непосредственный.Бутлеровское наследие : серия / Министерство образования и науки Российской Федерации, Уфимский государственный нефтяной технический университет. Кн. 6 : Электронная феноменологическая спектроскопия и её применение в исследовании сложных молекулярных систем в химии, технологии, физике и медицине : монография / М. Ю. Доломатов, М. М. Доломатова, Г. М. Сидоров [и др.] ; под научной редакцией М. Ю. Доломатова, 2024. - 308 с. - Текст (визуальный) : непосредственный.
Болохова Т.А. Развитие микрорентгеноспектрального метода в ультрадлинноволновой области с применением ЭВМ : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.07 / Т. А. Болохова, 1991. - 30 с. - Текст : непосредственный.Руколайне С.А. Прямые и обратные задачи количественного электронно-зондового микроанализа и просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:05.13.16 / С. А. Руколайне, 1994. - 15 с. - Текст : непосредственный.Белозерова О.Ю. Модификация биэкспоненциальной модели в рентгеноспектральном микроанализе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.хим.наук:02.00.02 / О. Ю. Белозерова, 1997. - 21 с. - Текст : непосредственный.Тронева Н.В. Электронно-зондовый микроанализ неоднородных поверхностей в свете теории распознавания образов / Н.В.Тронева,М.А.Тронева, 1996. - 208 с. - Текст : непосредственный.Tuniz C. Doubly bent crystals for X-ray microfocusing applications:calculation of the energy bandpass / C.Tuniz,F.Zanini,F.Zontone, 1990. - 11 p. - Текст : непосредственный.Рентгеноспектральный электронно-зондовый микроанализ природных объектов / Л.А.Павлова,О.Ю.Белозерова,Л.Ф.Парадина,Л.Ф.Суворова;Отв.ред.А.Г.Ревенко, 2000. - 223 с. - Текст : непосредственный.Основы аналитической электронной микроскопии / Под ред. Д.Д.Грена и др.; Пер. с англ. под ред. М. П. Усикова, 1990. - 584 c. - Текст : непосредственный.Мир материалов и технологий. 6.08 : Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия / Д. Синдо, Т. Оикава; пер. с англ. С.А. Иванова, 2006. - 253 с. - Текст : непосредственный.Мир физики и техники. 2(15) : Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения : Учеб. пособие / М. М. Криштал [и др.], 2009. - 206 с. - Текст : непосредственный.Электронно-зондовый микроанализ : [сборник] / пер. с англ. С. Г. Конникова, А. Ф. Сидорова ; под ред. И. Б. Боровского, 1974. - 260 с. - Текст : непосредственный.Сахаров, Никита Владимирович. Электронно-зондовый рентгеновский микроанализ : учебное пособие / Н. В. Сахаров, М. А. Фаддеев ; под редакцией В. Н. Чувильдеева, 2022. - 108 с. - Текст (визуальный) : непосредственный.
Заказ фрагмента документа ₽