Приложение
для AndroidПолное описание
Современные методы анализа дифракционных данных (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия) : программа и материалы 3-го междунар. науч. семинара / Физико-технический ин-т им. А. Ф. Иоффе (Санкт-Петербург). - Великий Новгород : ИПЦ Новгор. гос. ун-та им. Ярослава Мудрого, 2006 (Великий Новгород). - 306 с. : ил. - Библиогр. в конце ст. - 130 экз. - ISBN 5-89896-300-6 : Б. ц. - Текст : непосредственный.
В надзаг.: Физ.-техн. ин-т им. А. Ф. Иоффе РАН, Физ.-техн. ин-т им. А. Ф. Иоффе РАН им. М.В.Ломоносова
| ГРНТИ | УДК | |
| 29.19.19 | 548.7(062) | |
| 29.35.43 | 537.533.35(063) |
Рубрики:
Структурный анализ -- Съезды и конференции
Микроскопия электронная -- Съезды и конференции
Доп. точки доступа:
Физико-технический ин-т им. А. Ф. Иоффе (Санкт-Петербург)
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХРЦ (1)
Свободны: ХРЦ (1)
Современные методы анализа дифракционных данных (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия) : Программа и тезисы докладов 2 науч. семинара с междунар. участием, 26-28 мая 2004 г. / Новгородский гос. ун-т им. Я. Мудрого, 2004. - 144 с. - Текст : непосредственный.Современные методы анализа дифракционных данных (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия) : Программа и материалы 3-го междунар. науч. семинара / Физико-технический ин-т им. А. Ф. Иоффе (Санкт-Петербург), 2006. - 306 с. - Текст : непосредственный.Современные методы анализа дифракционных данных (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия) : сборник материалов и программа Первой международной научной школы-семинара, 21-25 мая 2007 года / Физико-технический ин-т им. А. Ф. Иоффе, 2007. - 172 с. - Текст : непосредственный.
Солнечный цикл : Сб.науч.тр. / Физ.-техн.ин-т им.А.Ф.Иоффе, 1993. - 198 c. - Текст : непосредственный.Голографические оптические элементы и системы : Сб.ст / Рос.АН. Науч.совет по пробл. "Голография".Физ.-техн.ин-т им.А.Ф.Иоффе, 1994. - 134 c. - Текст : непосредственный.Магнитные поля Солнца и гелиосейсмология : Сб.науч.тр. / Рос.АН,Физ.-техн.ин-т им.А.Ф.Иоффе, 1994. - 188 c. - Текст : непосредственный.К 90-летию академика Владимира Максимовича Тучкевича : Сб.ст. / Физ.-техн.ин-т им.А.Ф.Иоффе, 1994. - 47 c. - Текст : непосредственный.Фуллерены и атомные кластеры : Указ.отеч.и иностр.лит. / Физ.-техн.ин-т им.А.Ф.Иоффе Рос.АН и др. Вып. 1, 1993. - 171 с. - Текст : непосредственный.Материалы для термоэлектрических преобразователей : Тезисы докл. IV Межгос. семинара (ноябрь 1994 г.) / Физ.-техн. ин-т им. А.Ф.Иоффе, 1995. - 195 c. - Текст : непосредственный.К 90-летию академика Серафима Николаевича Журкова : Сб. ст. / Рос. АН. Физ.-техн. ин-т им. А.Ф.Иоффе, 1995. - 56 c. - Текст : непосредственный.Анатолий Робертович Регель (1915-1989) : Жизнь и научная деятельность:Очерки / Рос.АН.Физ.-техн.ин-т им.А.Ф.Иоффе. 3, 1995. - 57 с. - Текст : непосредственный.Вопросы теоретической физики : Сб. статей к 100-летию со дня рождения Я.И.Френкеля / Рос.АН. Физико-технический ин-т им. А.Ф.Иоффе, 1994. - 261 c. - Текст : непосредственный.Fullerenes and other carbon clusters : Bibliography index / Ioffe Physico-Technical Institute, 1995. - 376 c. - Текст : непосредственный.Электронные явления в халькогенидных стеклообразных полупроводниках / Физ.-техн. ин-т им. А.Ф.Иоффе, 1996. - 486 с. - Текст : непосредственный.Термоэлектрики и их применение : Докл. межгос. семинара (ноябрь 1996г.) / Физ.-техн. ин-т им. А.Ф.Иоффе, 1997. - 252 сс. - Текст : непосредственный.Анатолий Робертович Регель (1915-1989) : Жизнь и научная деятельность:Очерки / Рос.АН.Физ.-техн.ин-т им.А.Ф.Иоффе. 2, 1992. - 51 с. - Текст : непосредственный.Ядерная астрофизика : Сб. науч. тр. / Рос. АН, Физ.-техн. ин-и им.А.Ф.Иоффе, 1991. - 207 с. - Текст : непосредственный.Космические исследования : Сб. науч. трудов / РАН, Физ.-техн. ин-т, 1991. - 200 с. - Текст : непосредственный.Борис Иосифович Болтакс: жизнь и научная деятельность 1912-1985 / Физико-технический ин-т им. А. Ф. Иоффе (Санкт-Петербург), 1992. - 47 с. - Текст : непосредственный.Термоэлектрики и их применения : Докл.YI Межгос.семинара (окт.1998 г.) / Физико-технический ин-т им. А. Ф. Иоффе (Санкт-Петербург), 1999. - 329 с. - Текст : непосредственный.Аморфные и микрокристаллические полупроводники : Тезисы докл. Всерос. симпозиума с участием ученых из стран СНГСанкт-Петербург, 5-9 июля 1998г. / Физико-техн. ин-т им. А.Ф.Иоффе РАН, 1998. - 165 с. - Текст : непосредственный.Нитриды галлия, индия и алюминия - структуры и приборы : Тез. докл. 4-го Всерос. совещ., 18-19 сент. 2000 г., С.-Петербург / Физико-технический ин-т им. А. Ф. Иоффе (Санкт-Петербург), 2000. - 119 с. - Текст : непосредственный.Термоэлектрики и их применение : Докл.VП Межгос.семинара (нояб.2000г.) / Физико-технический ин-т им. А. Ф. Иоффе (Санкт-Петербург), 2000. - 498 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыРастровый туннельный микроскоп с широким растром наблюдения / Ин-т сверхтвердых материалов. - 18 с. - Текст : непосредственный.Лактионов А.В. Повышение точности рентгеноструктурного анализа с помощью моделирования и анализа профиля отображения : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.18 / А. В. Лактионов, 1991. - 20 с. - Текст : непосредственный.Нестеренко А.П. Анализ и коррекция данных прецизионного рентгендифракционного эксперимента : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.18 / А. П. Нестеренко, 1991. - 23 с. - Текст : непосредственный.Щедрин Б.М. Математические модели для изучения строения вещества дифракционным методом : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат.наук:01.04.18 / Б. М. Щедрин, 1991. - 33 с. - Текст : непосредственный.Куюмчян А.В. Рентгенодифракционные явления на кристаллах с профилированными поверхностями : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.07 / А. В. Куюмчян, 1991. - 20 с. - Текст : непосредственный.Благовещенская Т.А. Влияние микрорельефа и структуры приповерхностного слоев твердых тел на отражение и рассеяние ультрамягкого рентгеновского излучения : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.07 / Т. А. Благовещенская, 1990. - 16 с. - Текст : непосредственный.Давыдов Д.Н. Низкотемпературная сканирующая туннельная микроскопия : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.01 / Д. Н. Давыдов, 1991. - 18 с. - Текст : непосредственный.Сыромятникова А.С. Разработка и применение метода прецизионного определения параметров решетки монокристаллов с использованием ЭВМ в схеме широкоугловой дифракции рентгеновских лучей : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.07 / А. С. Сыромятникова, 1991. - 16 с. - Текст : непосредственный.Львов Ю.М. Рентгеновский малоугловой анализ структуры лиотропных жидких кристаллов и люнгмюровских пленок : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат.наук:01.04.18 / Ю. М. Львов, 1991. - 32 с. - Текст : непосредственный.Шевченко М.Б. Новые эффекты многократного рассеяния в теории дифракции медленных электронов : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук / М. Б. Шевченко, 1991. - 15 с. - Текст : непосредственный.Лобкис О.И. Дифракционные эффекты и формирование изображения в акустическом микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ-мат.наук:01.04.06 / О. И. Лобкис, 1991. - 20 с. - Текст : непосредственный.Стрепетов А.Н. Формирование и регистрация изображения в нейтронном микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.16 / А. Н. Стрепетов, 1991. - 29 с. - Текст : непосредственный.Сергеев Н.А. Форма спиновых откликов ЯМР в твердых телах с внутренней подвижностью : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат.наук:01.07.03 / Н. А. Сергеев, 1991. - 32 с. - Текст : непосредственный.Рабинович В.Б. Пути повышения сборочно-юстировочной технологичности конструкций световых микроскопов : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.11.07 / В. Б. Рабинович, 1991. - 21 с. - Текст : непосредственный.Тавров А.В. Экспериментальная регистрация субмикронных структур поверхности на компьютерном фазовом микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.27.03 / А. В. Тавров, 1992. - 17 с. - Текст : непосредственный.Подурец К.М. Исследование нейтроннооптических явлений в твердых телах с использованием высокого углового разрешения : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.07 / К. М. Подурец, 1992. - 17 с. - Текст : непосредственный.Молотков С.Н. К теории атомной,электронной структуры и туннельной микроскопии поверхности : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат.наук:01.04.07 / С. Н. Молотков, 1992. - 12 с. - Текст : непосредственный.Гавриков С.И. Электронно-микроскопические исследования окислов с использованием видеозаписи и цифровой обработки изображений : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:01.04.07 / С. И. Гавриков, 1992. - 16 с. - Текст : непосредственный.Стабилизатор луча 35-BST : Инструкции / ВЦП. - 13 c. - Текст : непосредственный.Инструкция по работе и описание электронного микроскопа JEM-100CX фирмы Джеол. Гл.5. Работа на приборе / ВЦП. - 194 c. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыModern aspects of small-angle scattering : Proc.of the NATO advanced study inst.on Modern aspects of small-angle scattering Como,May 12-22,1993 / Ed. H. Brumberger, 1994. - XV,463 p. p. - Текст : непосредственный.Direct methods of solving crystal structures : Proc.of a NATO advanced study inst./18th course of the intern. school of crystallography on direct methods of solving crystal structures,Apr.18-29,1990,Erice / International school of crystallography, 1991. - IX,445 p. p. - Текст : непосредственный.Proceedings / Multi-national congress on electron microskopy(1997;Portoroz). Pt. 1 : Microscopy applications in the life sciences, 1996. - 165-290 p. p. - Текст : непосредственный.Proceedings / Multi-national congress on electron microskopy(1997;Portoroz). Pt. 2 : Microscopy applications in the material science, 1997. - 68 p. - Текст : непосредственный.Proceedings / Multi-national congress on electron microskopy(1997;Portoroz). Pt. 3, 1997. - 126 p. - Текст : непосредственный.Proceedings of the workshop on materials structure research at photon factory, Tsukuba, Japan, 24 Dec., 1997 / Workshop on materials structure research at photon factory (1997 ; Tsukuba) , 1998. - 161 p. - Текст : непосредственный.XI Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел : РЭМ'99, июнь 1999 г.Тез. докл. / Российский симп. по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исслед. твердых тел (11 ; 1999) , 1999. - 145 с. - Текст : непосредственный.Second congress on electron microscopy,held in Belgrade,2 to 5 Oct.1996 : Invited papers / cocт. red. S. Ribnikar, 1998. - 129 p. - Текст : непосредственный.Зондовая микроскопия-98 : Материалы Всерос. совещанияНижний Новгород 2-5 марта 1998 г. / Институт физики микроструктур (Нижний Новгород), 1998. - 209 с. - Текст : непосредственный.XVII Российская конференция по электронной микроскопии : ЭМ'98, 15-18 июня 1998 г.Тез.докл. / Российская конф. по электронной микроскопии (17 ; 1998 ; Черноголовка) , 1998. - 325 с. - Текст : непосредственный.Scanning probe microscopy : 7th Intern. colloquium on scanning probe microscopy was held at Atagawa Haitsu, Shizuoka, from Dec.9-11, 1999 / Ed. M. Yoshimura, 2000. - 3701-3833 p. p. - Текст : непосредственный.XVIII Российская конференция по электронной микроскопии ЭМ'2000 : 5 июня-8 июля 2000 г.:Тез. докл. / Российская конф. по электронной микроскопии (18 ; 2000) , 2000. - 338 с. - Текст : непосредственный.Тезисы докладов VII Всесоюзного симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел : (РЭМ-91), г. Звенигород, 1991 г. / Всесоюзный симп. по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (7 ; 1991 ; Звенигород) , 1991. - 175 c. - Текст : непосредственный.Зондовая микроскопия - 2000 : Материалы совещ.Ниж. Новгород, 28 февр.-2 марта 2000 г., 2000. - 388 с. - Текст : непосредственный.Прецизионные структурные исследования кристаллов. Дифракционные методы, математическая обработка и результаты : II всесоюз. совещ. (Юрмала, 13-15 февр. 1990 г.) : Тез. докл. / АН СССР, Ин-т кристаллографии АН ЛатвССР, Ин-т орган. синтеза, 1990. - 64 с. - Текст : непосредственный.Тезисы докладов XIV Всесоюзной конференции по электронной микроскопии, г. Суздаль, 1990 г. / Всесоюзная конф. по электронной микроскопии (14 ; 1990 ; Суздаль) , 1990. - 286 с. - Текст : непосредственный.XII Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел. РЭМ'2001 : 4-6 июня 2001 г.Тез. докл. / Российский симп. по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исслед. твердых тел (12 ; 2001 ; Черноголовка) , 2001. - 193 с. - Текст : непосредственный.Зондовая микроскопия - 99 : Материалы Всерос. совещания, Н.Новгород, 10-13 марта 1999 г., 1999. - 434 с. - Текст : непосредственный.Scanning probe microscopy - 2001 : International workshopProceedingsNizhny Novgorod,February 26-March 1,2001, 2001. - 274 p. - Текст : непосредственный.Современные методы анализа дифракционных данных (топография, дифрактометрия, электронная микроскопия) : Программа и тезисы докладов 2 науч. семинара с междунар. участием, 26-28 мая 2004 г. / Новгородский гос. ун-т им. Я. Мудрого, 2004. - 144 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыВсесоюзное совещание по электронной микроскопии : Тез.докл. / Всесоюзное совещание по электронной микроскопии (4 ; 1963 ; Сумы) , 1960. - 39 c. - Текст : непосредственный.Scanning tunneling microscopy : Intern.colloquium on scanning tunneling microscopy,held in Hirosima,9-11 Dec.1993 / Ed. A. Kawazu, 1994. - V,3657-3790,11 p. p. - Текст : непосредственный.Modern aspects of small-angle scattering : Proc.of the NATO advanced study inst.on Modern aspects of small-angle scattering Como,May 12-22,1993 / Ed. H. Brumberger, 1994. - XV,463 p. p. - Текст : непосредственный.Новые достижения ЯМР в структурных исследованиях : П Всерос.семинар с участием зарубеж.ученых,Казань,5-7 апр.1995 г.Материалы семинара / Российский фонд фундаментальных исслед. (Москва), 1995. - 142 c. - Текст : непосредственный.Scanning tunneling microscopy : 2nd intern.colloquium on scanning tunneling microscopy,held in Kanazawa,Dec.8-10,1994 / Ed. A. Kawazu, 1995. - 3309-3411 p. p. - Текст : непосредственный.Photons and local probes : Proc.of the NATO advanced research workshop on photons and local probes,Reichenau,Sept.11-17,1994 / ed. O. Marti, ed. R. M@:oller, 1995. - IX,360 p. p. - Текст : непосредственный.Forces in scanning probe methods : Proc.of the NATO advanced study inst.on forces in scanning probe methods Schluchsee,March 7-18,1994 / Ed. H.-J. Guntherodt, 1995. - XIII,644 p. p. - Текст : непосредственный.Papers from the eighth International conference on scanning tunneling microscopy/spectroscopy and related techniques / International conference on scanning tunneling microscopy/spectroscopy and related techniques (1996 ; New York) , 1996. - 585-1576 p. p. - Текст : непосредственный.Scanning tunneling microscopy : Papers were presented at the inten. colloquium on scanning tunneling microscopy,Kanazawa,Dec.7-9,1995 / Ed. S. Hosoki, 1996. - 3695-3797 p. p. - Текст : непосредственный.Direct methods of solving crystal structures : Proc.of a NATO advanced study inst./18th course of the intern. school of crystallography on direct methods of solving crystal structures,Apr.18-29,1990,Erice / International school of crystallography, 1991. - IX,445 p. p. - Текст : непосредственный.Proceedings / Multi-national congress on electron microskopy(1997;Portoroz). Pt. 1 : Microscopy applications in the life sciences, 1996. - 165-290 p. p. - Текст : непосредственный.Proceedings / Multi-national congress on electron microskopy(1997;Portoroz). Pt. 2 : Microscopy applications in the material science, 1997. - 68 p. - Текст : непосредственный.Proceedings / Multi-national congress on electron microskopy(1997;Portoroz). Pt. 3, 1997. - 126 p. - Текст : непосредственный.Национальная конференция : Продолж.Всесоюз.совещ.по применению рентгеновских лучей для исслед.материалов:Дубна,25-29 мая 1997 г.:Сб.докл. Т. 2 : Белковая кристаллография. Модулированные структуры, квазикристаллы и фуллерены. Компьютерное моделирование структуры. Малоугловое рассеяние. Поверхностно-чувствительные методы. Рентгеновская и нейтронная оптика. Спектроскопические методы, 1997. - 452 с. - Текст : непосредственный.Национальная конференция : Продолж.Всесоюз.совещ.по применению рентгеновских лучей для исслед.материалов:Дубна,25-29 мая 1997 г.:Сб.докл. Т. 1 : Научная программа РСНЭ'97. Структурный анализ. Структурная электронография, 1997. - 363 с. - Текст : непосредственный.Scanning tunneling microscopy/spectroscopy and related techniques : Proc.of the 9th intern.conf.20-25 July 1997,Hamburg / STM'97;Ed.:J.K.H.Horber et al. Pt. 1, 1998. - 653,XII p. p. - Текст : непосредственный.Scanning tunneling microscopy/spectroscopy and related techniques : Proc.of the 9th intern.conf.20-25 July 1997,Hamburg / STM'97;Ed.:J.K.H.Horber et al. Pt. 2, 1998. - 661-1288,XII p. p. - Текст : непосредственный.Papers presented at the 6th microoptics conference and 14th topical meeting on gradient-index..,Tokyo, Oct.7-9,1997 / MOC/GRIN'97, 1998. - 3633-3637 p. p. - Текст : непосредственный.Proceedings of the workshop on materials structure research at photon factory, Tsukuba, Japan, 24 Dec., 1997 / Workshop on materials structure research at photon factory (1997 ; Tsukuba) , 1998. - 161 p. - Текст : непосредственный.Scanning tunneling microscopy : Sixth intern. colloquium on scanning tunneling microscopy was held at Atagawa Haitsu, Shizuoka, from Dec.10-12, 1998 / Ed. S. Hosoki, 1999. - 3805-3965,/13/ p. p. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыЗаказ фрагмента документа ₽