Полное описание
>
Хадыкин, А. М. Основы надежности электронных средств : учеб. пособие / А.М. Хадыкин, Н.В. Рубан. - Омск : Изд-во ОмГТУ, 2005. - 81 с. - Библиогр.: с. 44-47 (66 нвзв.). - 150 экз. - ISBN 5-8149-0230-2 : Б. ц. - Текст : непосредственный.
В надзаг.:Ом. гос. техн. ун-т
| ГРНТИ | УДК | |
| 47.14.23 | 621.384.019.3 |
Рубрики:
Электронные приборы -- Надежность
Доп. точки доступа:
Рубан, Н.В.
>
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Заказаны экз-ры для отделов: ХР
Основы надежности электронных средств : Учеб. пособие / А.М. Хадыкин, Н.В. Рубан, 2005. - 81 с. - Текст : непосредственный.Основы надежности электронных средств : учеб. пособие / А. В. Баранова, Н. П. Ямпурин, 2005. - 97 с. - Текст : непосредственный.Основы надежности электронных средств : учеб. пособие / А. В. Баранова, Н. П. Ямпурин, 2009. - 150 с. - Текст : непосредственный.Основы надежности электронных средств : учеб. пособие / Н. П. Ямпурин, А. В. Баранова; под ред. Н. П. Ямпурина, 2010. - 238 с. - Текст : непосредственный.
Викторова В.С. Исследование надежности отказоустойчивых вычислительных систем с учетом специальных процедур обработки сбоев : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.13 / В. С. Викторова, 1994. - 28 с. - Текст : непосредственный.Ширшиков А.С. Построение отказоустойчивых управляющих систем на основе иерархической декомпозиции схем алгоритмов : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук:05.13.13 / А. С. Ширшиков, 1993. - 15 с. - Текст : непосредственный.Панюшкин Н.Н. Разработка подсистемы анализа биполярных ИС в условиях внешних воздействующих факторов : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.12 / Н. Н. Панюшкин, 1993. - 17 с. - Текст : непосредственный.Михайлов А.Г. Исследование и разработка отказоустойчивых элементов и узлов информационных систем на основе методов структурной схемотехники : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.05 / А. Г. Михайлов, 1996. - 22 с. - Текст : непосредственный.Строгонов А.В. Прогнозирование долговечности кремниевых биполярных интегральных схем по параметрическим отказам : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук: 05.27.01 / А. В. Строгонов, 1997. - 15 с. - Текст : непосредственный.Акулинин С.А. Деградационные процессы в тонкопленочных компонентах интегральных схем и их влияние на качество и надежность : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн.наук:05.27.01 / С. А. Акулинин, 1999. - 30 с. - Текст : непосредственный.Савченко В.П. Методы и модели исследования остаточного ресурса изделий радиоэлектронной техники : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн. наук: 05.12.13 / В. П. Савченко, 1999. - 35 с. - Текст : непосредственный.Номоконова Н.Н. Методы анализа и оценки индивидуальных свойств интегральных электронных устройств : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук :05.11.16 / Н. Н. Номоконова, 2002. - 34 с. - Текст : непосредственный.Мандзий Б.А. Методы и средства повышения эффективности процедур схемотехнического проектирования радиоэлектронных устройств в надежностном аспекте : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн. наук: 05.12.13 / Б. А. Мандзий, 1991. - 30 с. - Текст : непосредственный.IEEE Transactions on Reliability / IEEE. - Журнал.Dependable computing for critical applications 2 : 2nd intern.working conf.on dependable computing for critical applications,held in Tucson(Az) on Febr.18-20,1991 / Ed.: J. F. Meyer, R. D. Schlichting, 1992. - XIII,437 p. p. - Текст : непосредственный.Применение автоматизированной системы обеспечения надежности и качества аппаратуры : Учеб.пособие / С.Е.Винниченко,В.В.Паднов,С.В.Засыпкин и др., 1993. - 246 c. - Текст : непосредственный.Вопросы надежности радиоэлектронной аппаратуры : Сб.ст. / Пер. с англ. под ред. И.И.Морозова, 1959. - 187 c. - Текст : непосредственный.Управление качеством и надежностью радиоэлектронных средств на стадиях разработки и изготовления методами Тагути : Материалы для руководящего состава / НИИ экономики и информации по радиоэлектронике, Науч.-произв. об-ние "Взлет", 1993. - 18 c. - Текст : непосредственный.Перегуда А.И. Методы расчета показателей надежности ЭВМ : Учеб. пособие по курсу Надежность, контроль и диагностика ЭВМ / А.И.Перегуда, 1994. - 70 c. - Текст : непосредственный.Pacific Rim international symposium on fault tolerant systems,Sept.26-27,Kawasaki,1991 : Proc. / PRFTS'91, 1991. - 259 p. - Текст : непосредственный.Advances in distributed system reliability / ред.compl. S. Rai, ред.compl. D. P. Agrawal, 1992. - IX,333 p. p. - Текст : непосредственный.The 1992 IEEE workshop on fault-tolerant parallel and distributed systems,July 6-7,1992,Amherst(Ma) : Digest of papers / Workshop on fault-tolerant parallel and distributed systems (1992 ; Amherst,Ma) , 1992. - VIII,233 p. p. - Текст : непосредственный.Chen T. Fault diagnosis and fault tolerance : A systematic approach to special topics / T.Chen, 1992. - 197 p. - Текст : непосредственный.Distributed computing network reliability / ред.compl. S. Rai, ред.compl. D. P. Agrawal, 1990. - IX,347 p. p. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыPacific Rim international symposium on fault tolerant systems,Sept.26-27,Kawasaki,1991 : Proc. / PRFTS'91, 1991. - 259 p. - Текст : непосредственный.Кормилицын О.П. Расчет прочности конструкций на ЭВМ : Учеб.пособие / О.П.Кормилицын, 1996. - 104 с. - Текст : непосредственный.Klaassen K.B. Reliability of analoque electronic systems / K.B.Klaassen, 1984. - XII,277 p. p. - Текст : непосредственный.Szeloch R.F. Statystyczne i termiczne problemy niezawodnosci elementow elektronicznych / R.F.Szeloch, 1997. - 160 s. - Текст : непосредственный.Кормилицын О.П. Прочность конструкций изделий электронной техники : Учеб.пособие для вузов по направлениям "Приклад.механика","Электроника и микроэлектроника" / О.П.Кормилицын, 1997. - 128 с. - Текст : непосредственный.Захаров Ю.В. Управление качеством и надежностью электронных средств : Учеб. пособие по спец. "Проектирование и технология радиоэлектрон. устройств", "Конструирование и технология электронно-вычислит. средств" / Ю.В.Захаров, 1998. - 80 с. - Текст : непосредственный.Пакет прикладных программ для оценки надежности электронных систем при проектировании и испытаниях : Материалы по прогр. обеспечению ЭВМ / Институт технической кибернетики (Минск), 1992. - 36 с. - Текст : непосредственный.Журавлев В.М. Машинная оценка стойкости электронных приборов / В. М. Журавлев, В. В. Григорьев, С. Ц. Манжикова, 1991. - 281 с. - Текст : непосредственный.Гуцалюк А.И. Комплексные испытания сложных электронных систем на надежность / А.И.Гуцалюк,В.Л.Тихомиров, 1991. - 35 c. - Текст : непосредственный.Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". Вып. 14(1580) : Физико-статистические методы исследования надежности электронных приборов : По данным отеч.и зарубеж.печати за 1950-1990 гг. / С.Я.Гродзенский, 1990. - 43 с. - Текст : непосредственный.Прогнозирование технического состояния изделий электронной техники на основе моделирования процессов деградации / Укр. респ. дом экон. и науч.-техн. пропаганды, 1990. - 24 c. - Текст : непосредственный.Захаров Ю.В. Управление качеством и надежность электронных средств : Учеб.пособие / Ю.В.Захаров, 2002. - 80 с. - Текст : непосредственный.Сорокин А.А. Оценка показателей надежности электронных устройств и систем : Учеб. пособие / А.А.Сорокин,П.С.Алексеев, 2003. - 88 с. - Текст : непосредственный.Показатели надежности электронных средств : учеб. пособие / А.М. Хадыкин, 2004. - 67 с. - Текст : непосредственный.Основы надежности электронных средств : Учеб. пособие / А.М. Хадыкин, Н.В. Рубан, 2005. - 81 с. - Текст : непосредственный.Основы теории и расчета надежности изделий электронной техники : Учеб. пеособие / Е. В. Зенова, 2005. - 67 с. - Текст : непосредственный.Основы надежности электронных средств : учеб. пособие / А. В. Баранова, Н. П. Ямпурин, 2005. - 97 с. - Текст : непосредственный.Основы надежности электронных средств : учеб. пособие / А. В. Баранова, Н. П. Ямпурин, 2009. - 150 с. - Текст : непосредственный.Основы надежности электронных средств : учеб. пособие / Н. П. Ямпурин, А. В. Баранова; под ред. Н. П. Ямпурина, 2010. - 238 с. - Текст : непосредственный.Мощные сверхкороткоимпульсные и сверхширокополосные электромагнитные излучения и их помеховое и поражающее воздействия на электронную аппаратуру передачи-приема, обработки и хранения информации / В. Б. Авдеев [и др.] ; под ред. В. Г. Герасименко и др., 2008. - 397 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыЗаказ фрагмента документа ₽