Приложение
для AndroidПолное описание
Карташев, В. А. Влияние нерезонансных периодических возмущений на положение иглы туннельного микроскопа / В.А. Карташев, Т.Ф. Бурухина. - М. : [б. и.], 2004. - 20 с. : ил. - (Препринт / Институт прикладной математики им. М. В. Келдыша (Москва) ; 87 за 2004 г.). - Библиогр.: с. 20(1 назв.). - 59 экз. - Б. ц. - Текст : непосредственный.
| ГРНТИ | УДК | |
| 29.35.43 | 621.385.833.2(04) |
Рубрики:
Микроскопы электронные
Доп. точки доступа:
Бурухина, Т.Ф.
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Применение метода наименьших модулей в задаче оценивания тензора инерции орбитальной станции "Мир" по данным измерений кинетического момента гиродинов / Е.Ю.Чебукова,В.В.Сазонов,М.Ю.Беляев,С.Г.Зыков, 1994. - 15 c. - Текст : непосредственный.Хантемиров Р.Р. Методы Рунге-Кутты с плавающими абсциссами для решения жестких обыкновенных дифференциальных уравнений / Р.Р.Хантемиров, 1994. - 30 c. - Текст : непосредственный.Рыков Ю.Г. Использование схемы Глимма в случае общих начальных данных для системы уравнений изэнтропической газовой динамики / Ю.Г.Рыков, 1994. - 17 c. - Текст : непосредственный.Садов Ю.А. Исследование движений симметричной троссовой системы с током методом точечных отображений / Ю.А.Садов,С.Ю.Чебуков, 1994. - 26 c. - Текст : непосредственный.Разработка военных мобильных роботов в США / С.А.Безбогов,А.А.Кирильченко,В.Е.Пряничников и др., 1994. - 36 c. - Текст : непосредственный.Исследование особенностей дальномерной лазерной обзорно-информационной системы / А.К.Платонов,С.А.Безбогов,А.А.Кирильченко,В.С.Ярошевский, 1994. - 28 c. - Текст : непосредственный.Рябенький В.С. Разностные потенциалы, аналогичные интегралам типа Коши / В.С.Рябенький, 1994. - 15 c. - Текст : непосредственный.Брюханов Ю.А. Динамика цифрового фильтра с кусочно-линейной характеристикой типа насыщения. Аналитическое исследование / Ю. А. Брюханов, С. Д. Глызин, Н. К. Рахманова, 1994. - 29 c. - Текст : непосредственный.Рахманов А.И. Об аттракторе двух связанных отображений "Тент" / А.И.Рахманов,Н.К.Рахманова, 1994. - 33 c. - Текст : непосредственный.Сушкевич Т.А. Оптический передаточный оператор при дистанционном зондировании отражающей поверхности / Т. А. Сушкевич, А. К. Куликов, С. В. Максакова, 1994. - 28 c. - Текст : непосредственный.Ипатов С.И. Гравитационное взаимодействие планетезималей, движущихся по близким орбитам / С.И.Ипатов, 1994. - 60 c. - Текст : непосредственный.Сушкевич Т.А. Математические модели азимутальных и сферических гармоник пространственно-частотной характеристики в задачах дистанционного зондирования неоднородной поверхности / Т. А. Сушкевич, Е. М. Петроковец, С. В. Максакова, 1994. - 28 c. - Текст : непосредственный.Беляев М.Ю. Определение ориентации орбитального комплекса "Мир" по показаниям оптического звездного датчика / М. Ю. Беляев, Н. И. Ефимов, В. В. Сазонов, 1994. - 23 c.Галактионов В.А. Examples of nonsymmetric extinction and blow-up for quasilinear heat equations / В.А.Галактионов,С.А.Посашков, 1994. - 24 p. - Текст : непосредственный.Галактионов В.А. On invariant sets and explicit solutions of nonlinear evolution equations with quadratic nonlinearities / В. А. Галактионов, S. A. Posashkov, S. R. Svirshchevskii, 1994. - 36 p. - Текст : непосредственный.Исследование возможности полета к Плутону космического аппарата с солнечной электроракетной двигательной установкой / Г.Б.Ефимов,М.С.Константинов,В.Г.Петухов,Г.Г.Федотов, 1994. - 24 c. - Текст : непосредственный.Павлюков Ю.Б. Численное моделирование процессов многокомпонентной диффузии в термосфере Земли в четырехкомпонентном приближении / Ю.Б.Павлюков, 1994. - 30 c. - Текст : непосредственный.Марин С.Ф. К учету влияния прямой солнечной радиации на движение высокоапогейного ИСЗ / С.Ф.Марин, 1994. - 22 c.Смирнов В.В. Оптимизация параметров пертурбационного маневра космического аппарата в сфере действия Луны / В. В. Смирнов, В. А. Егоров, В. В. Сазонов, 1994. - 22 c. - Текст : непосредственный.Брюно А.Д. Многогранники Клейна для двух кубических форм Давенпорта / А.Д.Брюно,В.И.Парусников, 1994. - 32 c. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыРастровый туннельный микроскоп с широким растром наблюдения / Ин-т сверхтвердых материалов. - 18 с. - Текст : непосредственный.Давыдов Д.Н. Низкотемпературная сканирующая туннельная микроскопия : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.01 / Д. Н. Давыдов, 1991. - 18 с. - Текст : непосредственный.Лобкис О.И. Дифракционные эффекты и формирование изображения в акустическом микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ-мат.наук:01.04.06 / О. И. Лобкис, 1991. - 20 с. - Текст : непосредственный.Стрепетов А.Н. Формирование и регистрация изображения в нейтронном микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.16 / А. Н. Стрепетов, 1991. - 29 с. - Текст : непосредственный.Рабинович В.Б. Пути повышения сборочно-юстировочной технологичности конструкций световых микроскопов : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.11.07 / В. Б. Рабинович, 1991. - 21 с. - Текст : непосредственный.Тавров А.В. Экспериментальная регистрация субмикронных структур поверхности на компьютерном фазовом микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.27.03 / А. В. Тавров, 1992. - 17 с. - Текст : непосредственный.Гавриков С.И. Электронно-микроскопические исследования окислов с использованием видеозаписи и цифровой обработки изображений : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:01.04.07 / С. И. Гавриков, 1992. - 16 с. - Текст : непосредственный.Стабилизатор луча 35-BST : Инструкции / ВЦП. - 13 c. - Текст : непосредственный.Инструкция по работе и описание электронного микроскопа JEM-100CX фирмы Джеол. Гл.5. Работа на приборе / ВЦП. - 194 c. - Текст : непосредственный.Инструкция по работе и описание электронного микроскопа JEM-100CX фирмы Джеол. Гл. 6. Обслуживание / ВЦП. - 206 c. - Текст : непосредственный.Система "МГВ АУТОМАТИК" : Информация по техн.обслуживанию / ВЦП. - 119 c. - Текст : непосредственный.Информация по обслуживанию автоматического устройства "MVG Automatik" / ВЦП. - 193 c. - Текст : непосредственный.Электронный микроскоп модель JEM-2000EX/FX : Спецификация деталей / ВЦП.Киев.ред. - 63 c. - Текст : непосредственный.Антонов А.П. Исследование и разработка методов,алгоритмов и устройств управления съемом и предварительной обработки информации в сканирующем туннельном микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.05 / А. П. Антонов, 1996. - 17 с. - Текст : непосредственный.Селектор изображений ИМС / ТПП Москвы. - 4 c. - Текст : непосредственный.Техника контроля и измерений с помощью электронных лучей / ТПП БССР. - 29 c. - Текст : непосредственный.Литвинов В.Л. Исследование и разработка методов и алгоритмов предварительной обработки изображений в задачах электронной микроскопии : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.01 / В. Л. Литвинов, 1997. - 16 с. - Текст : непосредственный.Рехвиашвили С.Ш. Силовые взаимодействия и зонды в атомно-силовом микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук:01.04.07 / С. Ш. Рехвиашвили, 1999. - 19 с. - Текст : непосредственный.Горбенко О.М. Автосигнализация отражений твердотельных наноструктур и биологических клеток в сканирующей зондовой и световой оптической микроскопии : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук: 01.04.01 / О. М. Горбенко, 2000. - 18 с. - Текст : непосредственный.Мурясов Р.Р. Вопросы теории туннелирования электронов в СТМ : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук: 01.04.17 / Р. Р. Мурясов, 2000. - 20 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыРастровый туннельный микроскоп с широким растром наблюдения / Ин-т сверхтвердых материалов. - 18 с. - Текст : непосредственный.Инструкция по работе и описание электронного микроскопа JEM-100CX фирмы Джеол. Гл. 1. Общая часть. Гл.2,3,4 / ВЦП. - 106 c. - Текст : непосредственный.Инструкция к прибору Камебакс-SX 50. (Электронный микроскоп) / ВЦП. - 135 c. - Текст : непосредственный.Стабилизатор луча 35-BST : Инструкции / ВЦП. - 13 c. - Текст : непосредственный.Инструкция по работе и описание электронного микроскопа JEM-100CX фирмы Джеол. Гл.5. Работа на приборе / ВЦП. - 194 c. - Текст : непосредственный.Инструкция по работе и описание электронного микроскопа JEM-100CX фирмы Джеол. Гл. 6. Обслуживание / ВЦП. - 206 c. - Текст : непосредственный.Система "МГВ АУТОМАТИК" : Информация по техн.обслуживанию / ВЦП. - 119 c. - Текст : непосредственный.Информация по обслуживанию автоматического устройства "MVG Automatik" / ВЦП. - 193 c. - Текст : непосредственный.Электронный микроскоп модель JEM-2000EX/FX : Спецификация деталей / ВЦП.Киев.ред. - 63 c. - Текст : непосредственный.Селектор изображений ИМС / ТПП Москвы. - 4 c. - Текст : непосредственный.Техника контроля и измерений с помощью электронных лучей / ТПП БССР. - 29 c. - Текст : непосредственный.Новиков Ю.А. Physical principles of the linewidth measurement of submicron relief structures / Ю.А.Новиков,А.В.Раков, 1995. - 16 p. - Текст : непосредственный.Новиков Ю.А. Измерение диаметра электронного зонда РЭМ, ПРЭМ и электронных литографов / Ю. А. Новиков, А. В. Раков, И. Ю. Стеколин, 1995. - 23 c. - Текст : непосредственный.Bierwolf R. Ein Verfahren zur quantitativen Bestimmung von Abbildungsparametern und zur Rekonstruktion der Austrittswellenfunktion in der hochauflosenden Elektronenmikroskopie : Diss / R.Bierwolf, 1995. - 140 S. - Текст : непосредственный.Koltun R. Aufbau eines Ultrahochvakuum-Rastertunnelmikroskops und Untersuchungen des magnetischen Kontrasts auf atomarer und Mikrometer-Skala : Diss. / R.Koltun, 1995. - 120 S. - Текст : непосредственный.Kaltenbrunner K. Entwicklung und Bau eines Tieftemperatur-Ultrahochvakuum-Niedervolt-Projektionselektronenmikroskops : Diss. / K.Kaltenbrunner, 1994. - 125 S. - Текст : непосредственный.Skjerpe P. CRYSTAL.EXE 2.0 a FORTRAN program for an IBM PC compatible computer for calculating kinematical electron diffraction patterns : Diazocopy / P.Skjerpe, 1989. - 23 мкфш. - Текст : непосредственный.Muller M. Raster - Tunnelmikroskop zur Messung lokaler Materialfehler : Diss. / M.M@:uller, 1990. - 90 S. - Текст : непосредственный. Приборы, средства автоматизации и системы управления..ТС-4, Аналитические приборы и приборы для научных исследований : Обзор.информ. / ЦНИИТЭИприборостроения (Информприбор). Вып. 2(1991) : Новые приборы электронной микроскопии и масс-спектрометрии, 1991. - 41 с. - Текст : непосредственный.Kaczmarek D. Rekonstrukcja obrazu powierzchni probki w elektronowym mikroskopie skaningowym za pomoca elektronow wstecznie rozproszonych / D.Kaczmarek, 1999. - 110 s. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыНовиков Ю.А. Physical principles of the linewidth measurement of submicron relief structures / Ю.А.Новиков,А.В.Раков, 1995. - 16 p. - Текст : непосредственный.Новиков Ю.А. Измерение диаметра электронного зонда РЭМ, ПРЭМ и электронных литографов / Ю. А. Новиков, А. В. Раков, И. Ю. Стеколин, 1995. - 23 c. - Текст : непосредственный.Солдатенко Г.А. Объектив электронного микроскопа на постоянных магнитах / Г.А.Солдатенко, 1991. - 28 с. - Текст : непосредственный.Солдатенко Г.А. Постоянные магниты в осветителе электронного микроскопа высокого разрешения / Г.А.Солдатенко, 1988. - 16 c. - Текст : непосредственный.Сканирующий туннельный микроскоп: наблюдение атомарных структур, субволновая фокусировка света / А.М.Прохоров,Г.Я.Зуева,Н.В.Сережкина,В.С.Зуев;Прохоров А.М., Зуева Г.Я., Сережкина Н.В. и др, 2001. - 15 с. - Текст : непосредственный.Влияние нерезонансных периодических возмущений на положение иглы туннельного микроскопа / В.А. Карташев, Т.Ф. Бурухина, 2004. - 20 с. - Текст : непосредственный.Исследование зависимости отклонений иглы туннельного микроскопа от наклона его оси / В.А. Карташев, Т.Ф. Бурухина, 2004. - 20 с. - Текст : непосредственный.Исследование движения иглы туннельного микроскопа относительно поверхности / В. А. Карташев, В. В. Карташев, 2007. - 12 с. - Текст : непосредственный.
Заказ фрагмента документа ₽