Приложение
для AndroidПолное описание
Рехвиашвили, С. Ш. Разработка и анализ зондовых микромеханических устройств : автореф. дис. ... д-ра техн. наук : 05.27.01 / С. Ш. Рехвиашвили. - Нальчик : [б. и.], 2004. - 32 c. - Библиогр.: с. 29-32 (40 назв.). - 100 экз. - Текст : непосредственный.
| ГРНТИ | УДК | |
| 50.11 | 004.33'144(043) | |
| 29.35.43 | 621.385.833.2(043) |
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХРЦ (1)
Свободны: ХРЦ (1)
Оптимальный профиль направляющей канавки для оптических дисков / ТПП БССР. "Минсквнешсервис". - 18 с. - Текст : непосредственный.Восьмиразрядные быстродействующие инструментальные адаптеры ТМС-885 для интерфейса малых компьютерных систем : Руководство для пользователя / ВЦП. - 35 с. - Текст : непосредственный.ЭКСОН: проект виртуальной памяти сети / ВЦП. - 33 с. - Текст : непосредственный.Следящая дисковая система : Справочное руководство для пользователей / ВЦП. - 60 с. - Текст : непосредственный.Растровый туннельный микроскоп с широким растром наблюдения / Ин-т сверхтвердых материалов. - 18 с. - Текст : непосредственный.Reflex : Руководство пользователя / ВЦП. - 369 c. - Текст : непосредственный.Исследования в области ИС ЗУ различных видов и поколений. Выбор ИС при проектировании систем и указания по их применению. Ч.3,4 / ВЦП. - 107 c. - Текст : непосредственный.Правильная утилизация использованных магнитных лент / ВЦП. - 14 c. - Текст : непосредственный.Минисистемы памяти полуярусной конструкции на базе гибких магнитных дисков серии MF 59D, MF 58S, MF 54D, MF 54S : Техн. описание и инструкция по эксплуатации / ВЦП. - 71 c. - Текст : непосредственный.Модуль тестирования памяти: Руководство пользователя. Рабочая станция тестирования на базе платы 2276 / ВЦП. - 167 c. - Текст : непосредственный.Тихоненко О.М. Модели обслуживания неоднородных требований и их применение для расчета объема памяти систем обработки информации : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн.наук:05.13.16 / О. М. Тихоненко, 1991. - 38 с. - Текст : непосредственный.Курносиков О.В. Физические основы адаптивной фототермопластической регистрации информации : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.03 / О. В. Курносиков, 1991. - 16 с. - Текст : непосредственный.Иванов В.К. Разработка и исследование методов адаптивного преобразования систем хранения данных,повышающих их реактивность : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.06 / В. К. Иванов, 1991. - 17 с. - Текст : непосредственный.Кангиев Р.Д. Получение мелкодисперсных пленок Со-С-О методом CVD и исследование их физических свойств : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:02.00.04 / Р. Д. Кангиев, 1991. - 16 с. - Текст : непосредственный.Давыдов Д.Н. Низкотемпературная сканирующая туннельная микроскопия : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.01 / Д. Н. Давыдов, 1991. - 18 с. - Текст : непосредственный.Кручинин С.З. Исследование структурной организации иерархических подсистем оперативной памяти многопроцессорных векторно-конвейерных суперэвм : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.13 / С. З. Кручинин, 1991. - 25 с. - Текст : непосредственный.Космынин А.Н. Методы и средства организации типовополной модели баз данных : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.06 / А. Н. Космынин, 1991. - 19 с. - Текст : непосредственный.Кочеткова Э.В. Динамическое преобразование структуры блоховской доменной границы при записи и считывании ВБЛ-информации : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.11 / Э. В. Кочеткова, 1991. - 18 с. - Текст : непосредственный.Бабишин И.П. Алгоритмы управления параллелизмом транзакций в распределенных системах : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:05.13.11 / И. П. Бабишин, 1991. - 16 с. - Текст : непосредственный.Пинчук В.А. Разработка и исследование пленочных защитных покрытий магнитных дисков с высокой информационной плотностью записи : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.27.01 / В. А. Пинчук, 1991. - 16 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыАнтонов А.П. Исследование и разработка методов,алгоритмов и устройств управления съемом и предварительной обработки информации в сканирующем туннельном микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.05 / А. П. Антонов, 1996. - 17 с. - Текст : непосредственный.Литвинов В.Л. Исследование и разработка методов и алгоритмов предварительной обработки изображений в задачах электронной микроскопии : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.01 / В. Л. Литвинов, 1997. - 16 с. - Текст : непосредственный.Рехвиашвили С.Ш. Силовые взаимодействия и зонды в атомно-силовом микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук:01.04.07 / С. Ш. Рехвиашвили, 1999. - 19 с. - Текст : непосредственный.Горбенко О.М. Автосигнализация отражений твердотельных наноструктур и биологических клеток в сканирующей зондовой и световой оптической микроскопии : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук: 01.04.01 / О. М. Горбенко, 2000. - 18 с. - Текст : непосредственный.Шелковников Е.Ю. Исследование метрологических характеристик сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук: 05.11.13 / Е. Ю. Шелковников, 2000. - 20 с. - Текст : непосредственный.Гуляев П.В. Разработка и исследование пьезоэлектрических устройств и методов управления ими в сканирующем туннельном микроскопе для изучения кластерных материалов : автореф. дис. .. канд. техн. наук : 05.11.13 / П. В. Гуляев, 2003. - 20 с. - Текст : непосредственный.Bierwolf R. Ein Verfahren zur quantitativen Bestimmung von Abbildungsparametern und zur Rekonstruktion der Austrittswellenfunktion in der hochauflosenden Elektronenmikroskopie : Diss / R.Bierwolf, 1995. - 140 S. - Текст : непосредственный.Koltun R. Aufbau eines Ultrahochvakuum-Rastertunnelmikroskops und Untersuchungen des magnetischen Kontrasts auf atomarer und Mikrometer-Skala : Diss. / R.Koltun, 1995. - 120 S. - Текст : непосредственный.Kaltenbrunner K. Entwicklung und Bau eines Tieftemperatur-Ultrahochvakuum-Niedervolt-Projektionselektronenmikroskops : Diss. / K.Kaltenbrunner, 1994. - 125 S. - Текст : непосредственный.Muller M. Raster - Tunnelmikroskop zur Messung lokaler Materialfehler : Diss. / M.M@:uller, 1990. - 90 S. - Текст : непосредственный. Lenc M. Immersion objective lenses in electron optics : Diss. / M.Lenc, 1992. - 82 p. - Текст : непосредственный.Zach J. Entwurf und Berechnung eines hochauflosenden Niederspannungs-Rasterelektronenmikroskops : Diss. / J.Zach, 1989. - 72 S. - Текст : непосредственный.Bleeker A.J. Optical and mechanical design for 1 nm resolution auger spectroscopy in an electron microscope : Diss. / A.J.Bleeker, 1991. - Pag.var. - Текст : непосредственный.Dubbeldam L. voltage contrast detector with double channel energy analyzer in a scanning electron microscope : Diss. / L.Dubbeldam, 1989. - 129 p. - Текст : непосредственный.Разработка и анализ зондовых микромеханических устройств : автореф. дис. .. д-ра техн. наук : 05.27.01 / С. Ш. Рехвиашвили, 2004. - 32 c. - Текст : непосредственный.Электрофизические основы контроля изображений наноструктуры поверхности в сканирующем туннельном микроскопе для изучения кластерных материалов : автореф. дис. .. канд. физ.-мат. наук : 05.11.14, 05.11.13 / А. В. Тюриков, 2004. - 20 с. - Текст : непосредственный.Разработка и исследование технологического и аппаратурного обеспечения сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов : автореф. дис. .. канд. техн. наук : 05.11.14, 05.11.13 / С. Р. Кизнерцев, 2004. - 20 с. - Текст : непосредственный.Морфофункциональная информационно-измерительная система сканирующей зондовой микроскопии атомарного разрешения (туннельной, атомно-силовой, оптической ближнего поля) : автореф. дис. .. д-ра техн. наук : 05.11.16, 05.27.01 / Ю. П. Волков, 2004. - 36 с. - Текст : непосредственный.Разработка и исследование интеллектуального цифрового туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов : автореф. дис. .. канд. техн. наук : 05.11.13, 05.11.14 / Д. В. Гудцов, 2006. - 20 с. - Текст : непосредственный.Разделение сложных сигналов с помощью вейвлет-производной спектрометрии и биспектрального анализа : автореф. дис. .. канд. физ.-мат. наук : 01.04.05 / Д. З. Галимуллин, 2006. - 16 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыЗаказ фрагмента документа ₽