Приложение
для AndroidПолное описание
Обзоры по электронной технике : обзорная информация / ЦНИИ "Электроника". - М. : [б. и.], 19 - . - Текст : непосредственный.
Вып. 9(1534) : Технологическое применение электронной оже-спектроскопии : по дан.отеч.и зарубеж.печати за 1975-1989 гг. / Е.В.Мальнева,А.А.Свентицкий. - 1990. - 59 с. : ил. - 4.95 р.
Библиогр.: с. 50-59 (87 назв.). Сер. 7, Технология, орг. пр-ва и оборудование
| ГРНТИ | УДК | |
| 29.31.26 | 543.428.2 |
Рубрики:
Оже-спектроскопия
Кл.слова (ненормированные): оже-спектроскопия
Доп. точки доступа:
Свентицкий, А.А.
"Электроника", ин-т (Москва)
Имеются экземпляры в отделах: всего 3 : ХР (3)
Свободны: ХР (3)
Инфракрасные спектрометры с фурье-преобразованием модели 1710, 1730,1750 : Инструкция по эксплуатации / ВЦП. - 270 с. - Текст : непосредственный.Устройство для замены/загрузки образца PW 1500/..,PW 1506 : Руководство по эксплуатации / ВЦП. - 170 с. - Текст : непосредственный.Виноградов И.П. Спектроскопия,кинетика заселения и тушения возбужденных состояний галогенов,интергалогенов и эксимеров в газовой фазе под действием ВУФ излучения : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат.наук:01.04.05 / И. П. Виноградов, 1990. - 32 с. - Текст : непосредственный.Зеленый В.П. Фотоакустическое преобразование в гиротропных и пьезоэлектрических кристаллах : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.05 / В. П. Зеленый, 1993. - 19 с. - Текст : непосредственный.Гайнутдинов Р.Х. Метод релятивисткой Т-матрицы и непертурбативные эффекты в спектрах излучения атомных систем : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ-мат.наук:01.04.02 / Р. Х. Гайнутдинов, 1993. - 19 с. - Текст : непосредственный.Барашев В.А. Резонансы насыщенного поглощения в электрических и магнитных полях : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.03 / В. А. Барашев, 1993. - 13 с. - Текст : непосредственный.Соколов А.П. Спектроскопия низкочастотного комбинационного рассеяния света в неупорядоченных материалах : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат.наук:01.04.05 / А. П. Соколов, 1993. - 36 с. - Текст : непосредственный.Горшков М.В. Новые методы удержания, циклотронного возбуждения и детектирования ионов в масс-спектрометрах ионного циклотронного резонанса : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:01.04.01 / М. В. Горшков, 1993. - 27 с. - Текст : непосредственный.Саечников К.А. Спектроскопия охлажденных в сверхзвуковой струе молекул производных фталимида и антрацена и их ван-дер-ваальсовских комплексов : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ-мат.наук:01.04.05 / К. А. Саечников, 1993. - 15 с. - Текст : непосредственный.Левченко Е.Ю. Эффект Штарка на динамических провалах в спектрах центральносимметричных молекул в полимерных матрицах : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.05 / Е. Ю. Левченко, 1993. - 16 с. - Текст : непосредственный.Баранова Н.Б. Эффекты асимметрии во взаимодействии излучения с веществом : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат.наук:01.04.21 / Н. Б. Баранова, 1994. - 19 с. - Текст : непосредственный.Белов А.А. Реактивные модуляторы в преобразователях высокочастотной энергии и спектроскопических экспериментах : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук:01.04.03 / А. А. Белов, 1994. - 36 с. - Текст : непосредственный.Кузик Л.А. Инфракрасная спектроскопия проводящих слоистых структур : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.05 / Л. А. Кузик, 1994. - 19 с. - Текст : непосредственный.Павлычев А.А. Квазиатомная теория рентгеновских спектров поглощения и ионизации внутренних электронных оболочек многоатомных систем : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук: 01.04.07 / А. А. Павлычев, 1994. - 30 с. - Текст : непосредственный.Компанец О.Н. Разработка и исследование спектрометров на непрерывных СО и He-Ne лазерах и импульсных лазерах на красителях для проведения спектроскопических, метрологических и аналитических измерений : Дис.. д-ра физ.-мат. наук в форме науч. докл.: 01.04.05 / О. Н. Компанец, 1994. - 92 с. - Текст : непосредственный.Онопенко Г.А. Симметрия и ее применение к задачам молекулярной спектроскопии : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.05 / Г. А. Онопенко, 1994. - 18 с. - Текст : непосредственный.Шабалин К.А. Методы коррекции модуляционных искажений формы линий в ЭПР спектроскопии : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.01 / К. А. Шабалин, 1994. - 21 с. - Текст : непосредственный.Иванченко Т.С. Анализ экспериментальных XANES некоторых классов соединений на основе метода многократного рассеяния : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат.наук:01.04.07 / Т. С. Иванченко, 1995. - 20 с. - Текст : непосредственный.Лешенюк Н.С. Лазерная ИК спектроскопия колебательно неравновесных молекулярных газов : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат.наук:01.04.21 / Н. С. Лешенюк, 1994. - 34 с. - Текст : непосредственный.Пулин В.Ф. Теоретическое исследование колебательно-вращательного взаимодействия и дефектов инерции в многоатомных молекулах различных классов : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат.наук:01.04.05 / В. Ф. Пулин, 1995. - 20 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыWustenhagen V. Photoemissions- und photoneninduzierte Auger-Mikroskopie unter Verwendung von Undulatorstrahlung : Diss. / V.Wustenhagen, 1992. - 352 S. - Текст : непосредственный.Valeri S. Auger electron spectroscopy for structural studies / S.Valeri,A.Di Bona, 1993. - 73 p. - Текст : непосредственный.Петренко А.З. Программное обеспечение для оже-электронной спектроскопии. Программа PROFILE v.1.01 / А.З.Петренко,И.П.Петренко, 1994. - 21 c. - Текст : непосредственный.Тронева Н.В. Электронно-зондовый микроанализ неоднородных поверхностей в свете теории распознавания образов / Н.В.Тронева,М.А.Тронева, 1996. - 208 с. - Текст : непосредственный.Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". Вып. 9(1534) : Технологическое применение электронной оже-спектроскопии : По дан.отеч.и зарубеж.печати за 1975-1989 гг. / Е.В.Мальнева,А.А.Свентицкий, 1990. - 59 с. - Текст : непосредственный.Scanning auger electron microscopy / Ed.: M.Prutton; Ed.: M.El Gomati, 2006. - XVII, 368 p. - Текст : непосредственный.Электронная оже-спектроскопия с разрешением по спину : учеб. пособие / В. Н. Петров, 2011. - 75 с. - Текст : непосредственный.Inzynieria materialowa : pr. naukowe / Politechnika Warszawska. z. 29 : Spektroskopia elektronowa AES jako narzedzie analityczno-diagnostyczne w inzynierii materialowej / M. Pisarek, 2013. - 97 s. - Текст : непосредственный.
Wustenhagen V. Photoemissions- und photoneninduzierte Auger-Mikroskopie unter Verwendung von Undulatorstrahlung : Diss. / V.Wustenhagen, 1992. - 352 S. - Текст : непосредственный.Valeri S. Auger electron spectroscopy for structural studies / S.Valeri,A.Di Bona, 1993. - 73 p. - Текст : непосредственный.Петренко А.З. Программное обеспечение для оже-электронной спектроскопии. Программа PROFILE v.1.01 / А.З.Петренко,И.П.Петренко, 1994. - 21 c. - Текст : непосредственный.Тронева Н.В. Электронно-зондовый микроанализ неоднородных поверхностей в свете теории распознавания образов / Н.В.Тронева,М.А.Тронева, 1996. - 208 с. - Текст : непосредственный.Auger spectroscopy and electronic structure : Proc.of the first intern. workshop, Messina Sept.10- 14, 1988 / Ed. G. Gubiotti, 1989. - X, 277 p. 277 p. - Текст : непосредственный.Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". Вып. 9(1534) : Технологическое применение электронной оже-спектроскопии : По дан.отеч.и зарубеж.печати за 1975-1989 гг. / Е.В.Мальнева,А.А.Свентицкий, 1990. - 59 с. - Текст : непосредственный.Scanning auger electron microscopy / Ed.: M.Prutton; Ed.: M.El Gomati, 2006. - XVII, 368 p. - Текст : непосредственный.Электронная оже-спектроскопия с разрешением по спину : учеб. пособие / В. Н. Петров, 2011. - 75 с. - Текст : непосредственный.Inzynieria materialowa : pr. naukowe / Politechnika Warszawska. z. 29 : Spektroskopia elektronowa AES jako narzedzie analityczno-diagnostyczne w inzynierii materialowej / M. Pisarek, 2013. - 97 s. - Текст : непосредственный.Дронова, Дарья Алексеевна. Комплекс методик анализа профильного распределения химического состава по глубине нанообъектов и тонких пленок методами оже-спектроскопии и времяпролетной вторично-ионной масс-спектрометрии : специальность 2.6.6. Нанотехнологии и наноматериалы : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук / Дронова Дарья Алексеевна, 2023. - 33 с. - Текст : непосредственный.
Заказ фрагмента документа ₽