Приложение
для AndroidПолное описание
Бжеумихов, А. А. Двухканальный метод стоячих рентгеновских волн в исследовании поверхностных слоев монокристаллов : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.07 / А. А. Бжеумихов. - М. : [б. и.], 1991. - 19 с. : ил. - Текст : непосредственный.
В надзаг.: Моск.инж.-физ.ин-т. Библиогр.: с. 18-19(9 назв.).
| ГРНТИ | УДК | |
| 47.33.37 | 621.3.049.76:658.562(043) |
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Копия: мкфш. Шифр МФ
Фиксаторный конвертер для внутрисхемного тестирования плат р/п 2260-3360 и -3560. Фиксаторы 2270 и 2276 к рабочей станции по проверке плат / ВЦП. - 52 c. - Текст : непосредственный.Преобразователь контрольного приспособления для внутрисхемных испытаний N 2260-3315 / ВЦП. - 36 c. - Текст : непосредственный.Преобразователь контрольного приспособления для внутрисхемных испытаний N 2260-3325 / ВЦП. - 34 c. - Текст : непосредственный.Преобразователь контрольного приспособления для внутрисхемных испытаний NN 2260-3329 и 2260-3526 / ВЦП. - 53 c. - Текст : непосредственный.Конвертер для устройства тестирования плат / ВЦП. - 34 c. - Текст : непосредственный.Якименко И.И. Теория электронного транспорта в молекулярных организатах : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.02 / И. И. Якименко, 1991. - 21 с. - Текст : непосредственный.Бжеумихов А.А. Двухканальный метод стоячих рентгеновских волн в исследовании поверхностных слоев монокристаллов : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.07 / А. А. Бжеумихов, 1991. - 19 с. - Текст : непосредственный.Марущенко С.Г. Исследование методов и разработка алгоритмов обработки электронно-микроскопических изображений с целью диагностики микроэлектронных приборов : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.27.07 / С. Г. Марущенко, 1991. - 15 с. - Текст : непосредственный.Леонов Ю.С. Взаимодействие наносекундных потоков энергии из высокотемпературной плазмы с материалами микроэлектроники : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ-мат.наук:01.04.10 / Ю. С. Леонов, 1990. - 30 с. - Текст : непосредственный.Алиев В.Ш. Исследование взаимодействия дифторида ксенона с поверхностью кремния при воздействии ионного облучения : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.хим.наук:02.00.04 / В. Ш. Алиев, 1990. - 18 с. - Текст : непосредственный.Бакланов М.Р. Гетерогенные реакции в процессах травления материалов микроэлектроники Si,Ge и SiO : Дис..д-ра хим.наук в форме науч.докл:02.00.04 / М. Р. Бакланов, 1991. - 47 с. - Текст : непосредственный.Щапова И.А. Эллипсометрический метод контроля параметров сложных диэлектрических структур : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.27.01 / И. А. Щапова, 1991. - 15 с. - Текст : непосредственный.Меликян О.Г. Теория дифракции рентгеновских лучей на идеальных кристаллах и гетероструктурах в условиях скользящего падения : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.07 / О. Г. Меликян, 1991. - 13 с. - Текст : непосредственный.Курбанов Х. Разработка, исследование и освоение технологии производства изделий из коррозионно-стойких сплавов на основе алюминия методами пластического деформирования для микроэлектроники и электротехники : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн.наук:05.16.05 / Х. Курбанов, 1991. - 39 с. - Текст : непосредственный.Старовойтов Д.А. Математические методы вычислительной диагностики изделий микроэлектроники : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-=мат.наук:05.13.16 / Д. А. Старовойтов, 1992. - 15 с. - Текст : непосредственный.Гуськова И.Г. Разработка методов проектирования упругодеформируемых микроприводов прямолинейного типа и создание функциональных устройств на их основе для работы в особо чистых средах и высоком вакууме : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.27.07 / И. Г. Гуськова, 1992. - 25 с. - Текст : непосредственный.Филин С.А. Технология высокоэффективной очистки твердотельных микроэлектронных структур : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.27.06 / С. А. Филин, 1992. - 20 с. - Текст : непосредственный.Чапланов А.М. Стационарный и импульсный отжиг тонких пленок : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат.наук:05.27.01 / А. М. Чапланов, 1992. - 32 с. - Текст : непосредственный.Редин В.М. Научные основы проектирования и эксплуатации межоперационных транспортных средств и чистых технологических объемов для производства изделий микроэлектроники : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн.наук:05.27.01,05.27.07 / В. М. Редин, 1992. - 41 с. - Текст : непосредственный.Гамарц Е.М. Контроль информативных параметров полупроводниковых пластин и структур в микроэлектронике оптическими методами : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн.наук:01.04.10 / Е. М. Гамарц, 1992. - 32 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыБжеумихов А.А. Двухканальный метод стоячих рентгеновских волн в исследовании поверхностных слоев монокристаллов : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.07 / А. А. Бжеумихов, 1991. - 19 с. - Текст : непосредственный.Меликян О.Г. Теория дифракции рентгеновских лучей на идеальных кристаллах и гетероструктурах в условиях скользящего падения : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.07 / О. Г. Меликян, 1991. - 13 с. - Текст : непосредственный.Гамарц Е.М. Контроль информативных параметров полупроводниковых пластин и структур в микроэлектронике оптическими методами : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн.наук:01.04.10 / Е. М. Гамарц, 1992. - 32 с. - Текст : непосредственный.Саунин С.А. Методы оптического и микрозондового тестирования поверхности и их применение в микро- и наноэлектронике : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук: 05.27.01 / С. А. Саунин, 1998. - 25 с. - Текст : непосредственный.Зайцев С.И. Методы зондовой диагностики микроструктур: теория, моделирование и обратные задачи : Диссертация в виде науч. докл. на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук: 05.27.01 / С. И. Зайцев, 2000. - 61 с. - Текст : непосредственный.Антоненко К.И. Голографическая диагностика газофазных процессов микроэлектроники : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук :05.27.06 / К. И. Антоненко, 2000. - 35 с. - Текст : непосредственный.Шуринов В.А. Автоматизированный интроскопический комплекс на базе методов цифрового рентгенотелевидения и трансмиссионной томографии для технологического контроля изделий из микроэлектроники : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук :05.11.13 / В. А. Шуринов, 2001. - 18 с. - Текст : непосредственный.Новоселова Е.Г. Исследование поверхностных слоев методом рентгеновской рефлектометрии : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук :01.04.07 / Е. Г. Новоселова, 2002. - 19 с. - Текст : непосредственный.Чернышев Н.И. Исследование и разработка методов и средств измерений параметров прецизионных микроэлектронных изделий : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук: 05.11.05 / Н. И. Чернышев, 1990. - 19 с. - Текст : непосредственный.Голубятников И.В. Автоматизированная система обработки графической информации, получаемой при оценке качества изделий микроэлектроники : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук: 05.13.01 / И. В. Голубятников, 1990. - 17 с. - Текст : непосредственный.Афанасьева С.М. Разработка рентгеновских методов скользящей Брэгг-Лауэ дифрактометрии для диагностики материалов микроэлектроники : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук: 05.27.06 / С. М. Афанасьева, 1990. - 17 с. - Текст : непосредственный.Савин В.О. Спектроскопия отраженных электронов и микротомография слоистых структур в растровой электронной микроскопии : автореф. дис. .. канд. физ.-мат. наук : 01.04.01 / В. О. Савин, 2002. - 15 с. - Текст : непосредственный.Баранов А.М. Основы теории непрерывного технологического контроля параметров нанокомпозитных структур в технологии ионно-плазменных процессов : автореф. дис. .. д-ра техн. наук : 05.27.01 / А. М. Баранов, 2003. - 34 с. - Текст : непосредственный.Петров А.Ю. Оптимизация планов контроля при статистическом управлении технологическими процессами резистивных структур узлов приборов : автореф. дис. .. канд. техн. наук : 05.11.14 / А. Ю. Петров, 2004. - 21 с. - Текст : непосредственный.Нелинейно-оптическая диагностика материалов микроэлектроники : автореф. дис. .. д-ра физ.-мат. наук : 05.27.01 / Е. Д. Мишина, 2004. - 31 с. - Текст : непосредственный.Минкевич А.А. Новые методы теоретического анализа спектров рентгеновской рефлектометрии и дифрактометрии наноструктур : автореф. дис. .. канд. физ.-мат. наук : 01.04.02 / А.А. Минкевич, 2004. - 21 с. - Текст : непосредственный.Сеннов Р.А. Развитие методов микротомографии и определение средней энергии электронов, отраженных от многослойных микроструктур : автореф. дис. .. канд. физ.-мат. наук : 05.27.01 / Р.А. Сеннов, 2005. - 25 с. - Текст : непосредственный.Методология повышения эффективности технологических процессов микроэлектронного производства и надежности изделий микроэлектронной техники на базе спецвоздействий : автореф. дис. .. д-ра техн. наук : 05.02.22 / Р. А. Попо, 2006. - 32 с. - Текст : непосредственный.Физико-технические основы субмикрометровой дифрактометрии топологии поверхности, модифицируемой в ионно-плазменных процессах : автореф. дис. .. д-ра техн. наук : 01.04.04 / Н. Л. Истомина, 2006. - 33 с. - Текст : непосредственный.Информационно-экспертная система для комплексной диагностики твердотельных нано- и микроструктур : автореф. дис. .. д-ра техн. наук : 05.13.01 / А. Г. Карпов, 2007. - 30 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыЗаказ фрагмента документа ₽