Полное описание
>
Егорова, О. В. Методы оценки технологичности и контроля качества оптических систем нового поколения объективов микроскопа : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн.наук:05.11.07 / О. В. Егорова. - СПб. : [б. и.], 1995. - 18 с. : ил. - Текст : непосредственный.
В надзаг. : Ин-т точ. механики и оптики (техн. ун-т.)Библиогр.:с. 17-18(15назв.)
| ГРНТИ | УДК | |
| 81.37 | 681.723.067.28(043) | |
| 59.14.23 |
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Копия: мкф.
Левченко Т.В. Рефлектометр для экспресс-контроля шероховатости поверхностей : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.11.07 / Т. В. Левченко, 1991. - 14 с. - Текст : непосредственный.Марчук С.М. Исследование осесимметричных асферических оптических поверхностей с особыми свойствами : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.11.07 / С. М. Марчук, 1991. - 16 с. - Текст : непосредственный.Хахаев И.А. Синтез и исследование оптических свойств управляемых интерференционных структур на основе диоксида ванадия : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.10 / И. А. Хахаев, 1991. - 18 с. - Текст : непосредственный.Слепцов В.В. Анизотропные, низкотемпературные, вакуумные, ионно-стимулированные процессы, оборудование и технология для производства ИЭТ, оптики и приборостроения : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн.наук:05.27.06 / В. В. Слепцов, 1992. - 45 с. - Текст : непосредственный.Гусев С.А. Разработка методов измерения параметров сверхгладких поверхностей и исследование влияния субнанометровых неровностей на рентгенооптические свойства многослойных структур : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ-мат.наук:01.04.07 / С. А. Гусев, 1992. - 19 с. - Текст : непосредственный.Аюпов Б.М. Комплекс методик для исследования оптическими методами тонкопленочных структур, материалов и элементов оптики : автореф. дис. .. д-ра техн. наук : 01.04.05 / Б. М. Аюпов, 2002. - 32 с. - Текст : непосредственный.Егорова О.В. Методы оценки технологичности и контроля качества оптических систем нового поколения объективов микроскопа : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн.наук:05.11.07 / О. В. Егорова, 1995. - 18 с. - Текст : непосредственный.Михайлов А.В. Исследование и разработка метода ионно-плазменного распыления с напряжением смещения для получения высококачественных покрытий : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.11.14 / А. В. Михайлов, 1996. - 17 с. - Текст : непосредственный.Миллер В.Т. Ионная обработка диэлектрических материалов, подложек и покрытий сеточным электродом на постоянном токе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.11.14 / В. Т. Миллер, 1996. - 17 с. - Текст : непосредственный.Щипанов А.В. Определение режимов полирования оптических стекол с учетом технологических ограничений по температуре процесса : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.03.01 / А. В. Щипанов, 1996. - 18 с. - Текст : непосредственный.Бородин Ю.В. Разработка золь-гель технологии тонкослойных покрытий на основе оксидов элементов Ш-У групп : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.17.11 / Ю. В. Бородин, 1997. - 24 с. - Текст : непосредственный.Шепилов С.А. Разработка и исследование системы контроля углов и пирамидальности оптических призм : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.11.07 / С. А. Шепилов, 1997. - 21 с. - Текст : непосредственный.Филонова М.И. Совершенствование процессов формообразования сферических поверхностей оптических деталей с применением УЗК и пневмоцентробежной обработки : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук: 05.03.01 / М. И. Филонова, 1997. - 17 с. - Текст : непосредственный.Герасимова Л.А. Комплексная методология интерференционных исследований преломляющих характеристик оптических материалов : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн.наук:05.11.07 / Л. А. Герасимова, 1997. - 33 с. - Текст : непосредственный.Колесников О.М. Исследование ионообменных приповерхностных H:LiNbO и Cu:H:LiNbO слоев монокристаллов ниобата лития методами оптической спектроскопии : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:02.00.04 / О. М. Колесников, 1997. - 22 с. - Текст : непосредственный.Синько Д.В. Экспериментальное исследование фотостимулированных процессов в кристаллах DKDP при комнатной температуре : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук: 01.04.21 / Д. В. Синько, 1997. - 14 с. - Текст : непосредственный.Терещенко Г.В. Синтез просветляющих покрытий для ИК области спектра на основе эквивалентных слоев : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.05 / Г. В. Терещенко, 1997. - 20 с. - Текст : непосредственный.Суранов А.Я. Разработка и исследование устройств фотометрирования на базе многоэлементных фотоприемников для систем контроля параметров изделий и технологических процессов с помощью методов дифрактометрии и спектрометрии : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук: 05.11.13 / А. Я. Суранов, 1997. - 23 с. - Текст : непосредственный.Серегин А.Г. Интерференционные методы с различной чувствительностью для контроля формы поверхностей : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук: 05.11.07 / А. Г. Серегин, 1998. - 26 с. - Текст : непосредственный.Кирилловский В.К. Анализ и синтез методов и средств контроля оптических систем с дифракционно ограниченным качеством изображения : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн. наук: 05.11.07 / В. К. Кирилловский, 1998. - 33 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыЗаказ фрагмента документа ₽