• ВХОД
  •  

    Полное описание

    АР95-6771
    Симакин, С. Г. Вторично-ионная масс-спектрометрия тонкопленочных структур микроэлектронной технологии : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:05.27.01 / С. Г. Симакин. - Черноголовка : [б. и.], 1995. - 23 с. : ил. - Текст : непосредственный.
    В надзаг.: Рос.АН.Ин-т проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов. Библиогр.:с.22-23(15 назв.)
    ГРНТИ УДК
    47.13.11621.3.049.76.002(043)
    Экз-ры полностью АР95-6771
    Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
    Свободны: ХР (1)
    Копия: мкф.



    Заказ фрагмента документа ₽