• ВХОД
  •  

    Полное описание

    95/227
    Интерферометрическое исследование толстой пленки в критическом режиме. - [Б. м. : б. и.]. - 8 c. : ил. - англ. - Пер. ст. Interferometric studies of thick film critical behavior из сб.: // Light scattering in solids. - New York, 1979. - P.39-46. - Б. ц. - Текст : непосредственный.
    Библиогр.:10 назв.
    ГРНТИ 29.17

    Рубрики:
    Жидкие пленки
    Экз-ры полностью 95/227
    Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
    Свободны: ХР (1)
    Копия: мкф.



    Заказ фрагмента документа ₽