• ВХОД
  •  

    Полное описание

    М/20722/685
    Методы многомерного измерения данных при оптических исследованиях поверхности / А.И.Родионов,С.В.Винценц,А.П.Калинин и др. - М. : [б. и.], 2001. - 28 с. : ил. - (Препринт / Институт проблем механики(Москва) ; 685)). - 100 экз. - Б. ц. - Текст : непосредственный.
    ГРНТИ УДК
    29.19.31537.311.322:532.6(04)

    Рубрики:
    Полупроводники -- Поверхностные явления

    Кл.слова (ненормированные): полупроводник -- поверхностное явление
    Доп. точки доступа:
    Родионов, А.И.
    Винценц, С.В.
    Калинин, А.П.
    Экз-ры полностью М/20722/685
    Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
    Свободны: ХР (1)



    Заказ фрагмента документа ₽