Приложение
для AndroidПолное описание
Olsen, A. CTF. BAS Ver 1.1 : a Basic program for an IBM PC compatible computer for drawing the weak phase object contrast transfer function / A.Olsen,P.Skjerpe. - Oslo : [s. n.], 1989. - 6 p. : ill. - (Rapport / Univ.i Oslo, ISSN 0332-5571 ; 89-25). - 1.00 р. - Текст : непосредственный.
Перевод заглавия: CTF BAS Ver 1.1 Basic-программа для компьютера, совместимого с IBM PC, для вычерчивания контрастной передаточной функции объекта со слабой фазой
| ГРНТИ | УДК | |
| 29.35.43 | 537.533.35:004 |
Рубрики:
Микроскопия электронная
Кл.слова (ненормированные): электронная микроскопия
Доп. точки доступа:
Skjerpe, P.
Имеются экземпляры в отделах: всего 3 : ХР (1), (2)
Свободны: ХР (1), (2)
Копия:
Model-space nuclear matter calculations with the Bonn potential / L.Engvik,M.Hjorth-Jensen,E.Osnes,T.T.SKuo, 1992. - 7 p. - Текст : непосредственный.Marthinsen G. Om noen av de forste universitetslaerere i realfag og deres ekstramurale virksomhet / G.Marthinsen, 1992. - IV,324 s. s. - Текст : непосредственный.Shell-modell calculations with realistic effective interactions / E.Osnes,M.Hjorth-Jensen,T.Engeland,A.Holt, 1992. - 15 p. - Текст : непосредственный.Low spin S-band members in 160,162 Dy : Invited talk Low spin S-band members in 160,162 Dy presented by G. Lovhoiden at the intern.conf. on nuclear structure and nuclear reactions at low and intermediate energies,Sept. 15-19,1992,Dubna / E.Andersen,H.Helstrup,G.Lovhoiden и др., 1992. - 13 p. - Текст : непосредственный.Festskrift til Roald Tangen : i anledning av hans 80- ars dag 8. febr.1992, 1992. - 36 s. - Текст : непосредственный.Leinaas J.M. Anyons and intermediate statistics / J.M.Leinaas, 1992. - 30 p. - Текст : непосредственный.Sten T.A. Electronic ground support equipment for the cluster electric field and wave experiment / T.A.Sten, 1992. - 24 p. - Текст : непосредственный.En samtale om fysikk, fysikere og menneskelig vaeren / T.Bergene,B.Jensen,R.Jensen,A.Naess, 1992. - 19 s. - Текст : непосредственный.The structure of neutron deficient Sn isotopes / T.Engeland,M.Hjorth-Jensen,A.Holt,E.Osnes, 1992. - 5 p. - Текст : непосредственный.Wu B. Building A verilog model for boundary-scan architecture / B.Wu,G.Midttum, 1992. - 18 p. - Текст : непосредственный.CHICSI : A proposal for a multidetector E-E particle telescopeVersion II / CHICSI design group, 1993. - 44 p. - Текст : непосредственный.Burgess M. Fermions near two dimensional surfaces / M.Burgess,B.Jensen, 1993. - 14 p. - Текст : непосредственный.Burgess M. Is there a phase transition in Maxwell-Chern-Simons theory? / M.Burgess,D.J.Toms,N.Tveten, 1993. - 20 p. - Текст : непосредственный.Burgess M. Some notes on the effective action and its interpretation / M.Burgess, 1993. - 33 p. - Текст : непосредственный.Jacobsen T. Note of fission / T.Jacobsen, 1993. - 4 p. - Текст : непосредственный.Valberg A. Primate visual pathways / A.Valberg,B.Lee, 1993. - 41 p. - Текст : непосредственный.Burgess M. Classical optics in generalized Maxwell Chern-Sinoms theory / M.Burgess,J.M.Leinaas,O.M.Lovvik, 1993. - 11 p. - Текст : непосредственный.Jensen B. A connection between plane and cylindrical symmetry in general relactivity / B.Jensen,J.Kucera, 1993. - 6 p. - Текст : непосредственный.Jensen B. On a gravitational Aharonov-Bohm effect / B.Jensen,J.Kucera, 1993. - 18 p. - Текст : непосредственный.Kolsrud M. Full-functions and Bases for Lie elements in two generators.Application to the Baker-Hausdorff formula / M.Kolsrud, 1993. - 43 p. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыРастровый туннельный микроскоп с широким растром наблюдения / Ин-т сверхтвердых материалов. - 18 с. - Текст : непосредственный.Давыдов Д.Н. Низкотемпературная сканирующая туннельная микроскопия : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.01 / Д. Н. Давыдов, 1991. - 18 с. - Текст : непосредственный.Лобкис О.И. Дифракционные эффекты и формирование изображения в акустическом микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ-мат.наук:01.04.06 / О. И. Лобкис, 1991. - 20 с. - Текст : непосредственный.Стрепетов А.Н. Формирование и регистрация изображения в нейтронном микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.16 / А. Н. Стрепетов, 1991. - 29 с. - Текст : непосредственный.Рабинович В.Б. Пути повышения сборочно-юстировочной технологичности конструкций световых микроскопов : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.11.07 / В. Б. Рабинович, 1991. - 21 с. - Текст : непосредственный.Тавров А.В. Экспериментальная регистрация субмикронных структур поверхности на компьютерном фазовом микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.27.03 / А. В. Тавров, 1992. - 17 с. - Текст : непосредственный.Гавриков С.И. Электронно-микроскопические исследования окислов с использованием видеозаписи и цифровой обработки изображений : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:01.04.07 / С. И. Гавриков, 1992. - 16 с. - Текст : непосредственный.Стабилизатор луча 35-BST : Инструкции / ВЦП. - 13 c. - Текст : непосредственный.Инструкция по работе и описание электронного микроскопа JEM-100CX фирмы Джеол. Гл.5. Работа на приборе / ВЦП. - 194 c. - Текст : непосредственный.Инструкция по работе и описание электронного микроскопа JEM-100CX фирмы Джеол. Гл. 6. Обслуживание / ВЦП. - 206 c. - Текст : непосредственный.Система "МГВ АУТОМАТИК" : Информация по техн.обслуживанию / ВЦП. - 119 c. - Текст : непосредственный.Информация по обслуживанию автоматического устройства "MVG Automatik" / ВЦП. - 193 c. - Текст : непосредственный.Электронный микроскоп модель JEM-2000EX/FX : Спецификация деталей / ВЦП.Киев.ред. - 63 c. - Текст : непосредственный.Антонов А.П. Исследование и разработка методов,алгоритмов и устройств управления съемом и предварительной обработки информации в сканирующем туннельном микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.05 / А. П. Антонов, 1996. - 17 с. - Текст : непосредственный.Селектор изображений ИМС / ТПП Москвы. - 4 c. - Текст : непосредственный.Техника контроля и измерений с помощью электронных лучей / ТПП БССР. - 29 c. - Текст : непосредственный.Литвинов В.Л. Исследование и разработка методов и алгоритмов предварительной обработки изображений в задачах электронной микроскопии : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.01 / В. Л. Литвинов, 1997. - 16 с. - Текст : непосредственный.Рехвиашвили С.Ш. Силовые взаимодействия и зонды в атомно-силовом микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук:01.04.07 / С. Ш. Рехвиашвили, 1999. - 19 с. - Текст : непосредственный.Горбенко О.М. Автосигнализация отражений твердотельных наноструктур и биологических клеток в сканирующей зондовой и световой оптической микроскопии : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук: 01.04.01 / О. М. Горбенко, 2000. - 18 с. - Текст : непосредственный.Мурясов Р.Р. Вопросы теории туннелирования электронов в СТМ : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук: 01.04.17 / Р. Р. Мурясов, 2000. - 20 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыRuijter W.J.de Quantitative high-resolution electron microscopy and holography : Diss. / W.J.de Ruijter, 1992. - 167 p. - Текст : непосредственный.Горелик С.С. Рентгенографический и электронно-оптический анализ : Учеб.пособие для вузов,обучающихся по направлению "Материаловедение и технология новых материалов" / С. С. Горелик, Ю. А. Скаков, Л. Н. Расторгуев, 1994. - 328 c. - Текст : непосредственный.The TEM-accelerators facility at JAERI-Takasaki and its application to materials science / H.Abe,H.Naramoto,K.Hojou,S.Furuno, 1996. - III,18 p. p. - Текст : непосредственный.Байбурин, В. Б. Многофункциональный комплекс сканирующей зондовой микроскопии и его применение. Ч. 1, 1998. - 120 с. - Текст : непосредственный.Hohenstein M. Rekonstruktion der Elektronen-Austrittswellenfunktion durch Abbildung mit einem Seitenband ihres Frequenzspektrums in der hochauflosenden Elektronenmikroskopie : Diss. / M.Hohenstein, 1991. - 101 S. - Текст : непосредственный.Иванов С.А. Электронная микроскопия : Учеб. пособие / С.А.Иванов, 1991. - 92 с. - Текст : непосредственный.Hugo D.von Einfluss des delokalisierten Anregungsprozesses bei der Bestimmung von Fremdatompositionen mit Hilfe des Channeling Effekts : Diss. / D.von Hugo, 1989. - 86 S. - Текст : непосредственный.Электронная микроскопия и прочность материалов : Сб. науч. тр. / АН УССР.Ин-т проблем материаловедения им.И.Н.Францевича,Науч.совет АН УССР по пробл."Физика твердого тела", 1991. - 134 с. - Текст : непосредственный.Дюков В.Г. Электронная микроскопия локальных потенциалов / В. Г. Дюков, С. А. Непийко, Н. Н. Седов, 1991. - 198 с. - Текст : непосредственный.Advances in optical and electron microscopy. Vol. 11, 1989. - XI, 185 p. 185 p. - Текст : непосредственный.Reimer L. Transmission electron microscopy:Physics of image formation and microanalysis / L.Reimer, 1989. - XIII, 547 p. 547 p. - Текст : непосредственный.Olsen A. CTF. BAS Ver 1.1 : A Basic program for an IBM PC compatible computer for drawing the weak phase object contrast transfer function / A.Olsen,P.Skjerpe, 1989. - 6 p. - Текст : непосредственный.Орелович О.Л. Приемы препарирования образцов трековых мембран для растровой электронной микроскопии / О.Л.Орелович,П.Ю.Апель, 2000. - 8 с. - Текст : непосредственный.Просвечивающая и растровая электронная микроскопия : Учеб. пособие для студентов по спец. 551600, 071000 / В.И.Темных,Г.М.Зеер,Е.М.Артемьев и др., 2000. - 80 с. - Текст : непосредственный.Электронная микроскопия и прочность материалов : Сб. науч. тр. / АН УССР. Ин-т пробл. материаловедения им.И.Н.Францевича, 1989. - 190 с. - Текст : непосредственный.Сороко Л.М. Мезооптический микроскоп как томографические устройство / Л.М.Сороко;Объед. ин-т ядер. исслед., 1989. - 12 с. - Текст : непосредственный.Основы аналитической электронной микроскопии / Под ред. Д.Д.Грена и др.; Пер. с англ. под ред. М. П. Усикова, 1990. - 584 c. - Текст : непосредственный.Трофимов О.Е. Об одном способе численного восстановления изображения по многоракурсной томограмме / О.Е.Трофимов,Л.В.Тюренкова, 1989. - 16 c. - Текст : непосредственный.Петров, В. И. Сканирующая микроскопия. Ч. 1, 2001. - 108 с. - Текст : непосредственный.Грудин Б.Н. Моделирование и анализ изображений в электронной и оптической микроскопии / Б. Н. Грудин, В. С. Плотников, В. К. Фищенко, 2001. - 221 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыЗаказ фрагмента документа ₽