Приложение
для AndroidПолное описание
Advances in optical and electron microscopy : сборник научных трудов. - London; New York : Acad. press, 19 - . - Текст : непосредственный.
Vol. 11. - 1989. - XI, 185 p. 185 p. : ill. - ISBN 0-12-029911-9 : 37.50 р.
Библиогр. в конце гл. Указ.:c.183-185
| ГРНТИ | УДК | |
| 29.31.29 | 681.723(05) | |
| 29.35.43 | 537.533.35(05) |
Рубрики:
Микроскопия
Микроскопия электронная
Кл.слова (ненормированные): микроскопия -- электронная микроскопия
Имеются экземпляры в отделах: всего 3 : ХР (1), (2)
Свободны: ХР (1), (2)
Копия:
Растровый туннельный микроскоп с широким растром наблюдения / Ин-т сверхтвердых материалов. - 18 с. - Текст : непосредственный.Стрельцов М.В. Вакуумно-плазменные процессы в технологии создания ИК формирователей сигналов изображения : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.27.01 / М. В. Стрельцов, 1991. - 23 с. - Текст : непосредственный.Новиков Е.Г. Разработка методов и моделирование средств анализа временных характеристик потоков событий в системах обеспечения оптико-физических экспериментов : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:05.13.16 / Е. Г. Новиков, 1991. - 18 с. - Текст : непосредственный.Гитин А.В. Методы радиометрических расчетов,основанные на принципах теории оптических приборов : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.05 / А. В. Гитин, 1991. - 16 с. - Текст : непосредственный.Давыдов Д.Н. Низкотемпературная сканирующая туннельная микроскопия : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.01 / Д. Н. Давыдов, 1991. - 18 с. - Текст : непосредственный.Лобкис О.И. Дифракционные эффекты и формирование изображения в акустическом микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ-мат.наук:01.04.06 / О. И. Лобкис, 1991. - 20 с. - Текст : непосредственный.Стрепетов А.Н. Формирование и регистрация изображения в нейтронном микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.16 / А. Н. Стрепетов, 1991. - 29 с. - Текст : непосредственный.Рабинович В.Б. Пути повышения сборочно-юстировочной технологичности конструкций световых микроскопов : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.11.07 / В. Б. Рабинович, 1991. - 21 с. - Текст : непосредственный.Тавров А.В. Экспериментальная регистрация субмикронных структур поверхности на компьютерном фазовом микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.27.03 / А. В. Тавров, 1992. - 17 с. - Текст : непосредственный.Тагиев З.А. Фазовые эффекты при нелинейно-оптическом преобразовании частот в кристаллах : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ-мат.наук:01.04.10 / З. А. Тагиев, 1992. - 30 с. - Текст : непосредственный.Сидоров И.А. Математическое моделирование оптических систем восстановления волнового фронта : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.04 / И. А. Сидоров, 1992. - 19 с. - Текст : непосредственный.Бусурин В.И. Унифицированные оптические преобразователи с граничной модуляцией излучения для помехоустойчивых систем контроля и управления : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн.наук:05.13.05 / В. И. Бусурин, 1992. - 38 с. - Текст : непосредственный.Гавриков С.И. Электронно-микроскопические исследования окислов с использованием видеозаписи и цифровой обработки изображений : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:01.04.07 / С. И. Гавриков, 1992. - 16 с. - Текст : непосредственный.Черных И.В. Исследование качества оптических систем с помощью корреляционного анализа изображения : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.05 / И. В. Черных, 1993. - 16 с. - Текст : непосредственный.Томография одного измерения: сравнение методов Абеля, тонкого расслоения и фильтрованных обратных проекций / ВЦП. - 20 c. - Текст : непосредственный.Инфракрасные спектрофотометры фирмы Филипс PU9510 (PU9520) : Руководство для пользователя 9499 230 04311 851216. Инструкция по эксплуатации / ВЦП. - 156 с. - Текст : непосредственный.Инструкция по эксплуатации аппаратуры UV 5240 и UV 5270 фирмы Бекман / ВЦП. - 209 c. - Текст : непосредственный.Техническое описание по работе прибора спектр AA10/20 / ВЦП. - 118 c. - Текст : непосредственный.Latimet Automatic : Сервисная информация / ВЦП. - 137 c. - Текст : непосредственный.Техническая документация по обслуживанию микроскопа типа MPV CD2 фирмы Лайтц для измерения ширины структуры / ВЦП. - 140 c. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыRuijter W.J.de Quantitative high-resolution electron microscopy and holography : Diss. / W.J.de Ruijter, 1992. - 167 p. - Текст : непосредственный.Горелик С.С. Рентгенографический и электронно-оптический анализ : Учеб.пособие для вузов,обучающихся по направлению "Материаловедение и технология новых материалов" / С. С. Горелик, Ю. А. Скаков, Л. Н. Расторгуев, 1994. - 328 c. - Текст : непосредственный.The TEM-accelerators facility at JAERI-Takasaki and its application to materials science / H.Abe,H.Naramoto,K.Hojou,S.Furuno, 1996. - III,18 p. p. - Текст : непосредственный.Дюков В.Г. Растровая оптическая микроскопия / В.Г.Дюков,Ю.А.Кудеяров, 1992. - 207 с. - Текст : непосредственный.Байбурин, В. Б. Многофункциональный комплекс сканирующей зондовой микроскопии и его применение. Ч. 1, 1998. - 120 с. - Текст : непосредственный.Analysis of a three-dimensional point pattern with replication / A.J.Baddeley,R.A.Moyeed,Howard C.V.,A.Boyde, 1991. - 37 p. - Текст : непосредственный.Hohenstein M. Rekonstruktion der Elektronen-Austrittswellenfunktion durch Abbildung mit einem Seitenband ihres Frequenzspektrums in der hochauflosenden Elektronenmikroskopie : Diss. / M.Hohenstein, 1991. - 101 S. - Текст : непосредственный.Иванов С.А. Электронная микроскопия : Учеб. пособие / С.А.Иванов, 1991. - 92 с. - Текст : непосредственный.Hugo D.von Einfluss des delokalisierten Anregungsprozesses bei der Bestimmung von Fremdatompositionen mit Hilfe des Channeling Effekts : Diss. / D.von Hugo, 1989. - 86 S. - Текст : непосредственный.Кособукин В.А. Метод функций Грина в теории ближнеполевой магнитооптики и сканирующей магнитооптической микроскопии / В.А.Кособукин, 1999. - 64 с. - Текст : непосредственный.Электронная микроскопия и прочность материалов : Сб. науч. тр. / АН УССР.Ин-т проблем материаловедения им.И.Н.Францевича,Науч.совет АН УССР по пробл."Физика твердого тела", 1991. - 134 с. - Текст : непосредственный.Labardi M. Near-field optical microscopy / M.Labardi,P.G.Gucciardi,M.Allegrini, 2000. - 35 p. - Текст : непосредственный.Дюков В.Г. Электронная микроскопия локальных потенциалов / В. Г. Дюков, С. А. Непийко, Н. Н. Седов, 1991. - 198 с. - Текст : непосредственный.Advances in optical and electron microscopy. Vol. 11, 1989. - XI, 185 p. 185 p. - Текст : непосредственный.Reimer L. Transmission electron microscopy:Physics of image formation and microanalysis / L.Reimer, 1989. - XIII, 547 p. 547 p. - Текст : непосредственный.Olsen A. CTF. BAS Ver 1.1 : A Basic program for an IBM PC compatible computer for drawing the weak phase object contrast transfer function / A.Olsen,P.Skjerpe, 1989. - 6 p. - Текст : непосредственный.Орелович О.Л. Приемы препарирования образцов трековых мембран для растровой электронной микроскопии / О.Л.Орелович,П.Ю.Апель, 2000. - 8 с. - Текст : непосредственный.Просвечивающая и растровая электронная микроскопия : Учеб. пособие для студентов по спец. 551600, 071000 / В.И.Темных,Г.М.Зеер,Е.М.Артемьев и др., 2000. - 80 с. - Текст : непосредственный.Gu M. Advanced optical imaging theory / M.Gu, 2000. - XII,214 p. p. - Текст : непосредственный.Электронная микроскопия и прочность материалов : Сб. науч. тр. / АН УССР. Ин-т пробл. материаловедения им.И.Н.Францевича, 1989. - 190 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыЗаказ фрагмента документа ₽