Приложение
для AndroidПолное описание
Применение кластерного анализа и метода главных компонент для определения фазового состава негомогенных образцов количественным микрорентгеноспектральным методом / И.И.Бондаренко,В.В.Резвицкий,Б.А.Трейгер,Л.Н.Мазалов. - Новосибирск : [б. и.], 1990. - 57 с. - (Препринт / Институт неорганической химии(Новосибирск) ; 90-21). - 200 экз. - Беспл. - Текст : непосредственный.
Библиогр.: с. 40-41 (22 назв.)
| ГРНТИ | УДК | |
| 31.19.03 | 543.422.8(04) |
Рубрики:
Рентгеноспектральный анализ микрохимический
Доп. точки доступа:
Бондаренко, И.И.
Резвицкий, В.В.
Трейгер, Б.А.
Мазалов, Л.Н.
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Миненков Ю.Ф. Investigation of temperature dependence of heat capacity of solid bismut in its premelting region 434.37-540.93K / Ю.Ф.Миненков, 1992. - 13 p. - Текст : непосредственный.Миненков Ю.Ф. Investigation of temperature dependence of heat capacity of solid tin in its premelting region 402.07-502.22K / Ю.Ф.Миненков, 1992. - 15 p. - Текст : непосредственный.Пещевицкий Б.И. Об основах классической механики / Б.И.Пещевицкий, 1997. - 35 с. - Текст : непосредственный.Буждан Я.М. Совершенствование континуальной математической модели многокомпонентного идеального газа / Я.М.Буждан,Т.О.Мурахтина, 1998. - 55 с. - Текст : непосредственный.Кристаллоструктурные характеристики медьсодержащих оксидов.Ч.3.Cu и Cu-содержащие оксиды / С.А.Магарилл,Е.Н.Ипатова,С.В.Борисов,Т.С.Юданова, 1990. - 65 с. - Текст : непосредственный.Автоматизированный калориметр растворения с изотермической оболочкой / В.В.Репков,Н.И.Мацкевич,Г.Е.Осипова,С.Г.Ерофеев, 1990. - 23 с. - Текст : непосредственный.Крафтмахер Я.А. Бесконтактная диагностика высокотемпературных сверхпроводников / Я.А.Крафтмахер, 1990. - 16 с. - Текст : непосредственный.Кристаллоструктурные характеристики медьсодержащих оксидов. Ч.1. Cu2+-cодержащие оксиды из систем с ВТСП-свойствами / С.А.Магарилл,Е.Н.Ипатова,С.В.Борисов,Т.С.Юданова, 1990. - 65 c. - Текст : непосредственный.Залетина М.М. Случайные и систематические погрешности определения кислородного коэффициента в высокотемпературных сверхпроводниках методом активации быстрыми нейтронами / М. М. Залетина, И. В. Миротин, О. К. Николаенко, 1990. - 33 с. - Текст : непосредственный.Бауск Н.В. Исследование возможностей использования сборок микроканальных пластин для регистрации рентгеновского излучения в диапазоне 1-10 ангстрем / Н. В. Бауск, Б. Н. Брагин, В. Н. Симонов, 1990. - 13 с. - Текст : непосредственный.Применение кластерного анализа и метода главных компонент для определения фазового состава негомогенных образцов количественным микрорентгеноспектральным методом / И.И.Бондаренко,В.В.Резвицкий,Б.А.Трейгер,Л.Н.Мазалов, 1990. - 57 с. - Текст : непосредственный.Фисенко И.Г. Основы быстро сходящегося метода прямого суммирования потенциалов в ионных решетках / И.Г.Фисенко,Е.В.Холопов, 1991. - 32 c. - Текст : непосредственный.Энергия и конформации полиэдрических каркасов из молекул воды / В.И.Косяков,В.А.Шестаков,Т.М.Полянская и др., 1990. - 62 с. - Текст : непосредственный.Белеванцев В.И. Стандартизация констант равновесий диссоциации (образования) комплексов и кислот и влияние на них состава смешанных растворителей / В.И.Белеванцев,В.Н.Асеева, 1999. - 41 с. - Текст : непосредственный.Фомин Э.С. Расчеты химических сдвигов Ка-линии в переходных металлах от Sc до Ln методом Xa-PB / Э.С.Фомин,В.В.Мурахтанов, 1990. - 20 с. - Текст : непосредственный.Ремова А.А. Устойчивость поляронных структур в слоях, легированных легкими носителями заряда, и проблема ВТСП купратов / А.А.Ремова,Б.Я.Шапиро, 1990. - 30 с. - Текст : непосредственный.Разработка фактографической базы данных по физическим свойствам высокотемпературных сверхпроводников и родственных соединений / А.М.Панич,М.В.Тимонов,Л.И.Чернявский,М.В.Мальков, 1991. - 40 с. - Текст : непосредственный.Размеры сверхпроводящих областей в керамике YBa2Cu3O7-z / К.Р.Жданов,В.С.Кравченко,В.Е.Федоров и др., 1990. - 11 с. - Текст : непосредственный.Мамонтов В.Н. О природе всемирного тяготения и новом подходе к физическим системам отсчета / В.Н.Мамонтов, 1999. - 50 с. - Текст : непосредственный.Косцова Н.Э. Влияние модели расчета вольт-фарадных характеристик на определение параметров МДП-структур / Н. Э. Косцова, А. Н. Коршунов, Е. Г. Сальман, 1991. - 23 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыСправочник по проведению точных химических анализов фотометрическим методом с использованием аппаратуры фирмы "Д-р Ланге" / ВЦП. - 273 c. - Текст : непосредственный.Неронов Ю.И. Исследования в области ЯМР-спектроскопии изотопного замещения и определение отношений магнитных моментов легчайших ядер с точностью до восьмого-девятого знака : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат.наук:01.04.03 / Ю. И. Неронов, 1991. - 32 с. - Текст : непосредственный.Покровский В.А. Десорбционная масс-спектрометрия и ее применения в химии поверхности : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат.наук:01.04.01 / В. А. Покровский, 1990. - 35 с. - Текст : непосредственный.Блажеевский Н.Е. Реакции дипероксидикарбоновых кислот с третичными аминами и их применение в анализе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.хим.наук:02.00.02 / Н. Е. Блажеевский, 1990. - 16 с. - Текст : непосредственный.Болохова Т.А. Развитие микрорентгеноспектрального метода в ультрадлинноволновой области с применением ЭВМ : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.07 / Т. А. Болохова, 1991. - 30 с. - Текст : непосредственный.Наранкевич З. Молекулярная динамика в металлоценах и их клатратных комплексах по данным ЯМР в твердом теле : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.хим.наук:02.00.04 / З. Наранкевич, 1991. - 24 с. - Текст : непосредственный.Макаренко Б.Н. Спектрометрия распыленных нейтральных частиц : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.04 / Б. Н. Макаренко, 1991. - 19 с. - Текст : непосредственный.Салмина Н.Ю. Имитационно-лингвистические алгоритмы анализа и обработки структурной информации : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.16 / Н. Ю. Салмина, 1991. - 17 с. - Текст : непосредственный.Рассказова Р.Б. Исследование и разработка методов и средств обработки аналитической информации : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.01:05.13.05 / Р. Б. Рассказова, 1991. - 17 с. - Текст : непосредственный.Макаров А.А. Квазиизохронное движение заряженных частиц в статических электромагнитных полях : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.20 / А. А. Макаров, 1992. - 20 с. - Текст : непосредственный.Тырышкин А.М. Комбинационные гармоники в спектрах модуляции электронного спинового эха полиориентированных парамагнитных центров : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.17 / А. М. Тырышкин, 1992. - 18 с. - Текст : непосредственный.Тенденции в развитии аналитической аппаратуры / ВЦП. - 10 c. - Текст : непосредственный.Кляцкина Е.И. Сольватные ионоселективные электроды на полииодидные и цинкроданидные анионы и их аналитическое применение : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.хим.наук:02.00.02 / Е. И. Кляцкина, 1993. - 16 с. - Текст : непосредственный.Евсевлеева Л.Г. Динамические характеристики пластифицированных ионоселективных электродов : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. хим. наук:02.00.02 / Л. Г. Евсевлеева, 1993. - 16 с. - Текст : непосредственный.Атомно-абсорбционная система Laboratory Benchtop / ВЦП. - 66 c. - Текст : непосредственный.Обратное титрование / ВЦП. - 50 c. - Текст : непосредственный.Рунов В.К. Развитие оптических сорбционно-молекулярно-спектроскопических методов анализа : Диссертация на соискание ученой степени д-ра хим. наук в форме науч. докл.:02.00.02 / В. К. Рунов, 1994. - 54 с. - Текст : непосредственный.Руколайне С.А. Прямые и обратные задачи количественного электронно-зондового микроанализа и просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:05.13.16 / С. А. Руколайне, 1994. - 15 с. - Текст : непосредственный.Вагина С.Э. Закономерности влияния поверхностных химических реакций на величину аналитического сигнала в ИВА : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.хим.наук:02.00.02 / С. Э. Вагина, 1994. - 20 с. - Текст : непосредственный.Рахманько Е.М. Физико-химические основы применения экстракции солями высших четвертичных аммониевых оснований в анализе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра хим. наук:02.00.04; 02.00.02 / Е. М. Рахманько, 1994. - 53 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыТронева Н.В. Электронно-зондовый микроанализ неоднородных поверхностей в свете теории распознавания образов / Н.В.Тронева,М.А.Тронева, 1996. - 208 с. - Текст : непосредственный.Tuniz C. Doubly bent crystals for X-ray microfocusing applications:calculation of the energy bandpass / C.Tuniz,F.Zanini,F.Zontone, 1990. - 11 p. - Текст : непосредственный.Применение кластерного анализа и метода главных компонент для определения фазового состава негомогенных образцов количественным микрорентгеноспектральным методом / И.И.Бондаренко,В.В.Резвицкий,Б.А.Трейгер,Л.Н.Мазалов, 1990. - 57 с. - Текст : непосредственный.Мир физики и техники. 2(15) : Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения : Учеб. пособие / М. М. Криштал [и др.], 2009. - 206 с. - Текст : непосредственный.Электронно-зондовый микроанализ : [сборник] / пер. с англ. С. Г. Конникова, А. Ф. Сидорова ; под ред. И. Б. Боровского, 1974. - 260 с. - Текст : непосредственный.Сахаров, Никита Владимирович. Электронно-зондовый рентгеновский микроанализ : учебное пособие / Н. В. Сахаров, М. А. Фаддеев ; под редакцией В. Н. Чувильдеева, 2022. - 108 с. - Текст (визуальный) : непосредственный.
Панов А.Д. Анализ поверхностных пленок с помощью метода рентгеноэлектронной спектроскопии для плоских и хаотических поверхностей / А.Д.Панов, 1995. - 19 c. - Текст : непосредственный.Применение кластерного анализа и метода главных компонент для определения фазового состава негомогенных образцов количественным микрорентгеноспектральным методом / И.И.Бондаренко,В.В.Резвицкий,Б.А.Трейгер,Л.Н.Мазалов, 1990. - 57 с. - Текст : непосредственный.Плюто И.В. Применение метода РФС для анализа состава поверхности нанесенных систем : Препринт / И. В. Плюто, А. П. Шпак, С. В. Миловзоров, 1991. - 9 с. - Текст : непосредственный.Орелович О.Л. Приемы препарирования образцов трековых мембран для растровой электронной микроскопии / О.Л.Орелович,П.Ю.Апель, 2000. - 8 с. - Текст : непосредственный.
Заказ фрагмента документа ₽