Приложение
для AndroidПолное описание
Красников, Г. Я.
Физико-технологические основы обеспечения качества СБИС / Красников Г.Я.,Зайцев Н.А. - М. : [б. и.], 19 - . - Текст : непосредственный.
Ч. 1. - 1999. - 226 с. : ил. - Тираж Не указ. - ISBN 5-93497-001-1 : Б. ц.
Библиогр. в конце гл.
| ГРНТИ | УДК | |
| 47.33.31 | 621.3.049.771.14:658.562 |
Рубрики:
Интегральные схемы большие -- Качество
Доп. точки доступа:
Зайцев, Н.А.
Имеются экземпляры в отделах: всего 2 : ХР (2)
Свободны: ХР (2)
Нитрид алюминия и область его применения / ЦНИИТЭСТРОЙМАШ. - 14 с. - Текст : непосредственный.Схема разработки топологии СБИС / ВЦП МР. - 17 с. - Текст : непосредственный.Многополюсная модель схемы для оценок потери излучения и паразитной связи между нарушениями непрерывности в микрополосковых церях / ВЦП КР. - 16 с. - Текст : непосредственный.Плюсы и минусы полифенилхининоксалина (ПФХ) / ВЦП. - 11 c. - Текст : непосредственный.Исследования в области ИС ЗУ различных видов и поколений. Выбор ИС при проектировании систем и указания по их применению. Ч.3,4 / ВЦП. - 107 c. - Текст : непосредственный.Технические данные / ВЦП. - 48 c. - Текст : непосредственный.Левицкий Д.О. Методы логико-динамического и логико-структурного диагностирования матричных КМОП БИС : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.12 / Д. О. Левицкий, 1991. - 25 с. - Текст : непосредственный.Ефанов В.А. Организация процесса трассировки матричных БИС и СБИС : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.13:05.13.12 / В. А. Ефанов, 1991. - 22 с. - Текст : непосредственный.Исюк В.И. Разработка математических и программных средств функционально-логического моделирования и тестирования КМОП БИС : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.16 / В. И. Исюк, 1991. - 19 с. - Текст : непосредственный.Семенов Н.Е. Оптимизация методов проектирования топологии кристаллов с линейчатой структурой : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.12 / Н. Е. Семенов, 1991. - 16 с. - Текст : непосредственный.Шелепин Н.А. Исследование свойств и характеристик структур полупроводник-диэлектрик-полупроводник и разработка конструктивно-технологических методов повышения быстродействия БИС на их основе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.27.01 / Н. А. Шелепин, 1990. - 32 с. - Текст : непосредственный.Абачев М.К. Исследование формирования глубоких щелей в кремнии при плазмохимическом и реактивном ионном травлении в галогеносодержащих газах : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:05.27.01 / М. К. Абачев, 1990. - 26 с. - Текст : непосредственный.Мануйлов В.В. Моделирование процессов рентгенолитографии интегральных схем с применением синхротронного излучения : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:05.27.01 / В. В. Мануйлов, 1991. - 21 с. - Текст : непосредственный.Сидоренко П.В. Исследование и разработка интегрированной САПР аналоговых БИС на БМК : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.12 / П. В. Сидоренко, 1991. - 16 с. - Текст : непосредственный.Букунов С.В. Моделирование и исследование субмикронных транзисторных структур для монолитных интегральных схем СВЧ : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.27.01 / С. В. Букунов, 1991. - 16 с. - Текст : непосредственный.Бачурин В.И. Управление параметрами линейных интегральных схем топологией инжекционных структур с использованием САПР : Дис..д-ра техн.наук в форме науч.докл.:05.13.01:05.13.12 / В. И. Бачурин, 1991. - 38 с. - Текст : непосредственный.Романовский П.Г. Оптимизация метода моделируемого отжига при проектировании топологии интегральных схем на параллельной вычислительной системе с динамическим распределением задач : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.12 / П. Г. Романовский, 1991. - 19 с. - Текст : непосредственный.Золотухина О.М. Причины разрушения кремниевых кристаллов БИС после монтажа в металлокерамические корпуса с применением золото-кремниевой эвтектики и их устранение : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.27.01 / О. М. Золотухина, 1992. - 15 с. - Текст : непосредственный.Гындя С.И. Исследование и разработка способов создания и применения аппаратных ускорителей при моделировании ЦУ БИС : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.12 / С. И. Гындя, 1992. - 18 с. - Текст : непосредственный.Матвеева Н.К. Фото-и электронорезисты на основе полимерных лэнгмюровских пленок.Получение,свойства и применение : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.17.06 / Н. К. Матвеева, 1992. - 16 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыКрасников, Г. Я. Физико-технологические основы обеспечения качества СБИС. Ч. 1, 1999. - 226 с. - Текст : непосредственный.Красников, Г. Я. Физико-технологические основы обеспечения качества СБИС. Ч. 2, 1999. - 216 с. - Текст : непосредственный.Director S.W. VLSI design for manufacturing: yeild enhancement / S.W.Director,W.Maly,A.J.Strojwas, 1990. - XII,291 p. p. - Текст : непосредственный.Красников Г.Я. Физико-технологические основы обеспечения качества СБИС / Г.Я.Красников,Н.А.Зайцев, 1999. - 226, 216 с. 216 с. - Текст : непосредственный.Bidjan-Irani M. Qualit@:at und Tstbarkeit hochinterierter Schaltungen : Qualit@:atssicherung durch regelbasierte Systeme / M.Bidjan-Irani, 1990. - IX, 169 S. 169 S. - Текст : непосредственный.Тюлевин С.В. Индивидуальное прогнозирование электронных средств : учеб. пособие / С. В. Тюлевин, 2016. - 67 с.
Игнатьев А.С. Электронная Оже-спектроскопия для исследования и контроля технологии СБИС : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат.наук:01.04.10 / А. С. Игнатьев, 1993. - 45 с. - Текст : непосредственный.Назаров А.А. Проектирование тестовых схем для аттестации технологических процессов производства СБИС : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.27.05 / А. А. Назаров, 2000. - 16 с. - Текст : непосредственный.Ткаченко С.А. Моделирование выхода годных МОП БИС : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук: 05.17.01 / С. А. Ткаченко, 1990. - 15 с. - Текст : непосредственный.Руднев А.В. Статистические модели контроля выхода годных и технологических потерь в производстве СБИС : автореф. дис. .. канд. техн. наук : 05.27.01 / А. В. Руднев, 2003. - 20 с. - Текст : непосредственный.Автоматизированный тестовый контроль производства БИС / С.С.Булгаков,Д.Б.Десятов,С.А.Еремин,В.В.Сысоев, 1992. - 192 с. - Текст : непосредственный.Красников, Г. Я. Физико-технологические основы обеспечения качества СБИС. Ч. 1, 1999. - 226 с. - Текст : непосредственный.Красников, Г. Я. Физико-технологические основы обеспечения качества СБИС. Ч. 2, 1999. - 216 с. - Текст : непосредственный.Director S.W. VLSI design for manufacturing: yeild enhancement / S.W.Director,W.Maly,A.J.Strojwas, 1990. - XII,291 p. p. - Текст : непосредственный.Красников Г.Я. Физико-технологические основы обеспечения качества СБИС / Г.Я.Красников,Н.А.Зайцев, 1999. - 226, 216 с. 216 с. - Текст : непосредственный.Тюлевин С.В. Индивидуальное прогнозирование электронных средств : учеб. пособие / С. В. Тюлевин, 2016. - 67 с.Tehranipoor M. Nanometer technology designs high-quality delay tests / M. Tehranipoor, N. Ahmed, 2008 r=on-line.
Заказ фрагмента документа ₽