Приложение
для AndroidПолное описание
Солдатенко, Г. А. Объектив электронного микроскопа на постоянных магнитах / Г.А.Солдатенко. - Киев : [б. и.], 1991. - 28 с. : ил. - (Препринт ; КИЯИ-91-5). - 160 экз. - 00.06 р. - Текст : непосредственный.
| ГРНТИ | УДК | |
| 29.35.43 | 621.385.833.2(04) |
Рубрики:
Микроскопы электронные -- Объективы
Кл.слова (ненормированные): электронные микроскопы -- объектив
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Иваненко С.И. Таможня. Что нужно знать деловому человеку : Актуал. вопр. таможенного регулирования в сфере внешнеэкон. деятельности 1993-1994 гг.Экспресс-вып / С.И.Иваненко,Ю.Г.Федоскин, 1993. - 377 c.Сибирцев А.А. Рождение странности при аннигиляции в покое на ядрах / А.А.Сибирцев, 1994. - 24 c. - Текст : непосредственный.Грушко Ю.С. Установка для исследования высокотемпературной сверхпроводимости вещества / Ю.С.Грушко,С.А.Щетковский, 1994. - 18 c. - Текст : непосредственный.Головач Ю. On the method for study of the critical behaviour in non-integer space dimension / Ю.Головач, 1993. - 40 p.Котиков А.В. Longitudinal structure function F as function of F and dF /dlnQ at small x / А.В.Котиков, 1994. - 7 p. - Текст : непосредственный.Георгиев Д. "Слабый" антиферромагнетизм в YFeO и HoFeO / Д. Георгиев, К. Крежов, В. В. Нитц, 1994. - 4 c. - Текст : непосредственный.Батусов Ю.А. Стереоскопический мезооптический фурье-микроскоп с двойной фокусировкой / Ю. А. Батусов, Л. М. Сороко, В. В. Терещенко, 1994. - 11 c. - Текст : непосредственный.Mathematical methods of texture analysis. Abstracts, 1995. - 34 p. - Текст : непосредственный.Антоненко Н.В. Введение в теорию ядерных реакций с тяжелыми ионами / Н. В. Антоненко, Р. В. Джолос, С. П. Иванова, 1995. - 34 c. - Текст : непосредственный.Спектрометр ферромагнитного резонанса локальных участков тонких магнитных пленок / Б.А.Беляев,А.А.Иваненко,А.А.Лексиков и др., 1995. - 58 c. - Текст : непосредственный.Application of luminescent pressure sensor technology to propellers / A.Bykov,S.Fonov,A.Kishalov и др., 1995. - 13 p. - Текст : непосредственный.Разностные схемы метода опорных операторов для уравнений теории упругости / О.А.Дремов,А.В.Колдоба,А.Х.Пергамент и др., 1995. - 23 c. - Текст : непосредственный.Магзумов А.Э. О влиянии добавок СО на размер детонационной ячейки в водородсодержащих смесях / А. Э. Магзумов, И. А. Кириллов, В. Д. Русанов, 1995. - 16 c. - Текст : непосредственный.Поспелов В.В. О связи между теорией ортогональных многочленов и трехдиагонализацией несимметричных матриц / В.В.Поспелов,А.Н.Матвеева, 1995. - 14 c. - Текст : непосредственный.Мардоян Л.Г. Oscillator as a hidden non-abelian monopole / Л. Г. Мардоян, A. N. Sissakian, V. M. Ter-Antonyan, 1996. - 6 c. - Текст : непосредственный.Емельяненко Г.А. Critical-component method solutions of linear algebraic equations / Г. А. Емельяненко, T. T. Rakhmonov, E. B. Dushanov, 1996. - 23 p. - Текст : непосредственный.Гаврилюк С.Л. Вариационный подход к построению гиперболических моделей двухскоростных сред / С.Л.Гаврилюк,Ю.В.Перепечко, 1996. - 25 c. - Текст : непосредственный.Мясников Е.А. О точной константе в неравенстве с положительным оператором на конусе монотонных функций / Е.А.Мясников, 1996. - 31 с. - Текст : непосредственный.Брюно А.Д. Нулькратные и обратные периодические решения ограниченной задачи трех тел / А.Д.Брюно, 1996. - 32 с. - Текст : непосредственный.Ломакина Е.Н. Об операторах типа Харди в банаховых функциональных пространствах на полуоси / Е.Н.Ломакина,В.Д.Степанов, 1996. - 35 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыРастровый туннельный микроскоп с широким растром наблюдения / Ин-т сверхтвердых материалов. - 18 с. - Текст : непосредственный.Давыдов Д.Н. Низкотемпературная сканирующая туннельная микроскопия : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.01 / Д. Н. Давыдов, 1991. - 18 с. - Текст : непосредственный.Лобкис О.И. Дифракционные эффекты и формирование изображения в акустическом микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ-мат.наук:01.04.06 / О. И. Лобкис, 1991. - 20 с. - Текст : непосредственный.Стрепетов А.Н. Формирование и регистрация изображения в нейтронном микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.16 / А. Н. Стрепетов, 1991. - 29 с. - Текст : непосредственный.Рабинович В.Б. Пути повышения сборочно-юстировочной технологичности конструкций световых микроскопов : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.11.07 / В. Б. Рабинович, 1991. - 21 с. - Текст : непосредственный.Тавров А.В. Экспериментальная регистрация субмикронных структур поверхности на компьютерном фазовом микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.27.03 / А. В. Тавров, 1992. - 17 с. - Текст : непосредственный.Гавриков С.И. Электронно-микроскопические исследования окислов с использованием видеозаписи и цифровой обработки изображений : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:01.04.07 / С. И. Гавриков, 1992. - 16 с. - Текст : непосредственный.Стабилизатор луча 35-BST : Инструкции / ВЦП. - 13 c. - Текст : непосредственный.Инструкция по работе и описание электронного микроскопа JEM-100CX фирмы Джеол. Гл.5. Работа на приборе / ВЦП. - 194 c. - Текст : непосредственный.Инструкция по работе и описание электронного микроскопа JEM-100CX фирмы Джеол. Гл. 6. Обслуживание / ВЦП. - 206 c. - Текст : непосредственный.Система "МГВ АУТОМАТИК" : Информация по техн.обслуживанию / ВЦП. - 119 c. - Текст : непосредственный.Информация по обслуживанию автоматического устройства "MVG Automatik" / ВЦП. - 193 c. - Текст : непосредственный.Электронный микроскоп модель JEM-2000EX/FX : Спецификация деталей / ВЦП.Киев.ред. - 63 c. - Текст : непосредственный.Антонов А.П. Исследование и разработка методов,алгоритмов и устройств управления съемом и предварительной обработки информации в сканирующем туннельном микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.05 / А. П. Антонов, 1996. - 17 с. - Текст : непосредственный.Селектор изображений ИМС / ТПП Москвы. - 4 c. - Текст : непосредственный.Техника контроля и измерений с помощью электронных лучей / ТПП БССР. - 29 c. - Текст : непосредственный.Литвинов В.Л. Исследование и разработка методов и алгоритмов предварительной обработки изображений в задачах электронной микроскопии : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.01 / В. Л. Литвинов, 1997. - 16 с. - Текст : непосредственный.Рехвиашвили С.Ш. Силовые взаимодействия и зонды в атомно-силовом микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук:01.04.07 / С. Ш. Рехвиашвили, 1999. - 19 с. - Текст : непосредственный.Горбенко О.М. Автосигнализация отражений твердотельных наноструктур и биологических клеток в сканирующей зондовой и световой оптической микроскопии : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук: 01.04.01 / О. М. Горбенко, 2000. - 18 с. - Текст : непосредственный.Мурясов Р.Р. Вопросы теории туннелирования электронов в СТМ : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук: 01.04.17 / Р. Р. Мурясов, 2000. - 20 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыНовиков Ю.А. Physical principles of the linewidth measurement of submicron relief structures / Ю.А.Новиков,А.В.Раков, 1995. - 16 p. - Текст : непосредственный.Новиков Ю.А. Измерение диаметра электронного зонда РЭМ, ПРЭМ и электронных литографов / Ю. А. Новиков, А. В. Раков, И. Ю. Стеколин, 1995. - 23 c. - Текст : непосредственный.Солдатенко Г.А. Объектив электронного микроскопа на постоянных магнитах / Г.А.Солдатенко, 1991. - 28 с. - Текст : непосредственный.Солдатенко Г.А. Постоянные магниты в осветителе электронного микроскопа высокого разрешения / Г.А.Солдатенко, 1988. - 16 c. - Текст : непосредственный.Сканирующий туннельный микроскоп: наблюдение атомарных структур, субволновая фокусировка света / А.М.Прохоров,Г.Я.Зуева,Н.В.Сережкина,В.С.Зуев;Прохоров А.М., Зуева Г.Я., Сережкина Н.В. и др, 2001. - 15 с. - Текст : непосредственный.Влияние нерезонансных периодических возмущений на положение иглы туннельного микроскопа / В.А. Карташев, Т.Ф. Бурухина, 2004. - 20 с. - Текст : непосредственный.Исследование зависимости отклонений иглы туннельного микроскопа от наклона его оси / В.А. Карташев, Т.Ф. Бурухина, 2004. - 20 с. - Текст : непосредственный.Исследование движения иглы туннельного микроскопа относительно поверхности / В. А. Карташев, В. В. Карташев, 2007. - 12 с. - Текст : непосредственный.
Заказ фрагмента документа ₽