Приложение
для AndroidПолное описание
Иванов, С. А. Электронная микроскопия : учеб. пособие / С.А.Иванов. - СПб. : [б. и.], 1991. - 92 с. : ил. - 300 экз. - 00.60 р. - Текст : непосредственный.
В надзаг.:Ленингр.гос.техн.ун-т.Библиогр.:с.89-90(6 назв.).
| ГРНТИ | УДК | |
| 29.35.43 | 537.533.35 |
Рубрики:
Микроскопия электронная
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Иванов С.А. Электронная микроскопия : Учеб. пособие / С.А.Иванов, 1991. - 92 с. - Текст : непосредственный.Наноинженерия : библиотека: учеб.-метод. комплекс по темат. направлению деятельности ННС "Наноинженерия": в 17-ти кн. / под ред. В. А. Шахнова. 11 : Электронная микроскопия / А. И. Власов, К. А. Елсуков, И. А. Косолапов, 2011. - 167 с. - Текст : непосредственный.Васичев, Б. Н. Инновационное развитие электронной техники : учеб. пособие : в 2-х ч. Ч. 1 : Электронная микроскопия, 2013. - 60 с. - Текст : непосредственный.
Растровый туннельный микроскоп с широким растром наблюдения / Ин-т сверхтвердых материалов. - 18 с. - Текст : непосредственный.Давыдов Д.Н. Низкотемпературная сканирующая туннельная микроскопия : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.01 / Д. Н. Давыдов, 1991. - 18 с. - Текст : непосредственный.Лобкис О.И. Дифракционные эффекты и формирование изображения в акустическом микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ-мат.наук:01.04.06 / О. И. Лобкис, 1991. - 20 с. - Текст : непосредственный.Стрепетов А.Н. Формирование и регистрация изображения в нейтронном микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.16 / А. Н. Стрепетов, 1991. - 29 с. - Текст : непосредственный.Рабинович В.Б. Пути повышения сборочно-юстировочной технологичности конструкций световых микроскопов : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.11.07 / В. Б. Рабинович, 1991. - 21 с. - Текст : непосредственный.Тавров А.В. Экспериментальная регистрация субмикронных структур поверхности на компьютерном фазовом микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.27.03 / А. В. Тавров, 1992. - 17 с. - Текст : непосредственный.Гавриков С.И. Электронно-микроскопические исследования окислов с использованием видеозаписи и цифровой обработки изображений : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:01.04.07 / С. И. Гавриков, 1992. - 16 с. - Текст : непосредственный.Стабилизатор луча 35-BST : Инструкции / ВЦП. - 13 c. - Текст : непосредственный.Инструкция по работе и описание электронного микроскопа JEM-100CX фирмы Джеол. Гл.5. Работа на приборе / ВЦП. - 194 c. - Текст : непосредственный.Инструкция по работе и описание электронного микроскопа JEM-100CX фирмы Джеол. Гл. 6. Обслуживание / ВЦП. - 206 c. - Текст : непосредственный.Система "МГВ АУТОМАТИК" : Информация по техн.обслуживанию / ВЦП. - 119 c. - Текст : непосредственный.Информация по обслуживанию автоматического устройства "MVG Automatik" / ВЦП. - 193 c. - Текст : непосредственный.Электронный микроскоп модель JEM-2000EX/FX : Спецификация деталей / ВЦП.Киев.ред. - 63 c. - Текст : непосредственный.Антонов А.П. Исследование и разработка методов,алгоритмов и устройств управления съемом и предварительной обработки информации в сканирующем туннельном микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.05 / А. П. Антонов, 1996. - 17 с. - Текст : непосредственный.Селектор изображений ИМС / ТПП Москвы. - 4 c. - Текст : непосредственный.Техника контроля и измерений с помощью электронных лучей / ТПП БССР. - 29 c. - Текст : непосредственный.Литвинов В.Л. Исследование и разработка методов и алгоритмов предварительной обработки изображений в задачах электронной микроскопии : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.01 / В. Л. Литвинов, 1997. - 16 с. - Текст : непосредственный.Рехвиашвили С.Ш. Силовые взаимодействия и зонды в атомно-силовом микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук:01.04.07 / С. Ш. Рехвиашвили, 1999. - 19 с. - Текст : непосредственный.Горбенко О.М. Автосигнализация отражений твердотельных наноструктур и биологических клеток в сканирующей зондовой и световой оптической микроскопии : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук: 01.04.01 / О. М. Горбенко, 2000. - 18 с. - Текст : непосредственный.Мурясов Р.Р. Вопросы теории туннелирования электронов в СТМ : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук: 01.04.17 / Р. Р. Мурясов, 2000. - 20 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыRuijter W.J.de Quantitative high-resolution electron microscopy and holography : Diss. / W.J.de Ruijter, 1992. - 167 p. - Текст : непосредственный.Горелик С.С. Рентгенографический и электронно-оптический анализ : Учеб.пособие для вузов,обучающихся по направлению "Материаловедение и технология новых материалов" / С. С. Горелик, Ю. А. Скаков, Л. Н. Расторгуев, 1994. - 328 c. - Текст : непосредственный.The TEM-accelerators facility at JAERI-Takasaki and its application to materials science / H.Abe,H.Naramoto,K.Hojou,S.Furuno, 1996. - III,18 p. p. - Текст : непосредственный.Байбурин, В. Б. Многофункциональный комплекс сканирующей зондовой микроскопии и его применение. Ч. 1, 1998. - 120 с. - Текст : непосредственный.Hohenstein M. Rekonstruktion der Elektronen-Austrittswellenfunktion durch Abbildung mit einem Seitenband ihres Frequenzspektrums in der hochauflosenden Elektronenmikroskopie : Diss. / M.Hohenstein, 1991. - 101 S. - Текст : непосредственный.Иванов С.А. Электронная микроскопия : Учеб. пособие / С.А.Иванов, 1991. - 92 с. - Текст : непосредственный.Hugo D.von Einfluss des delokalisierten Anregungsprozesses bei der Bestimmung von Fremdatompositionen mit Hilfe des Channeling Effekts : Diss. / D.von Hugo, 1989. - 86 S. - Текст : непосредственный.Электронная микроскопия и прочность материалов : Сб. науч. тр. / АН УССР.Ин-т проблем материаловедения им.И.Н.Францевича,Науч.совет АН УССР по пробл."Физика твердого тела", 1991. - 134 с. - Текст : непосредственный.Дюков В.Г. Электронная микроскопия локальных потенциалов / В. Г. Дюков, С. А. Непийко, Н. Н. Седов, 1991. - 198 с. - Текст : непосредственный.Advances in optical and electron microscopy. Vol. 11, 1989. - XI, 185 p. 185 p. - Текст : непосредственный.Reimer L. Transmission electron microscopy:Physics of image formation and microanalysis / L.Reimer, 1989. - XIII, 547 p. 547 p. - Текст : непосредственный.Olsen A. CTF. BAS Ver 1.1 : A Basic program for an IBM PC compatible computer for drawing the weak phase object contrast transfer function / A.Olsen,P.Skjerpe, 1989. - 6 p. - Текст : непосредственный.Орелович О.Л. Приемы препарирования образцов трековых мембран для растровой электронной микроскопии / О.Л.Орелович,П.Ю.Апель, 2000. - 8 с. - Текст : непосредственный.Просвечивающая и растровая электронная микроскопия : Учеб. пособие для студентов по спец. 551600, 071000 / В.И.Темных,Г.М.Зеер,Е.М.Артемьев и др., 2000. - 80 с. - Текст : непосредственный.Электронная микроскопия и прочность материалов : Сб. науч. тр. / АН УССР. Ин-т пробл. материаловедения им.И.Н.Францевича, 1989. - 190 с. - Текст : непосредственный.Сороко Л.М. Мезооптический микроскоп как томографические устройство / Л.М.Сороко;Объед. ин-т ядер. исслед., 1989. - 12 с. - Текст : непосредственный.Основы аналитической электронной микроскопии / Под ред. Д.Д.Грена и др.; Пер. с англ. под ред. М. П. Усикова, 1990. - 584 c. - Текст : непосредственный.Трофимов О.Е. Об одном способе численного восстановления изображения по многоракурсной томограмме / О.Е.Трофимов,Л.В.Тюренкова, 1989. - 16 c. - Текст : непосредственный.Петров, В. И. Сканирующая микроскопия. Ч. 1, 2001. - 108 с. - Текст : непосредственный.Грудин Б.Н. Моделирование и анализ изображений в электронной и оптической микроскопии / Б. Н. Грудин, В. С. Плотников, В. К. Фищенко, 2001. - 221 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыРуколайне С.А. Прямые и обратные задачи количественного электронно-зондового микроанализа и просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:05.13.16 / С. А. Руколайне, 1994. - 15 с. - Текст : непосредственный.Роддатис В.В. Электронная микроскопия бикристаллов и пленок на бикристаллических и ступенчатых подложках : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук: 01.04.07 / В. В. Роддатис, 1999. - 19 с. - Текст : непосредственный.Мурясов Р.Р. Вопросы теории туннелирования электронов в СТМ : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук: 01.04.17 / Р. Р. Мурясов, 2000. - 20 с. - Текст : непосредственный.Лапшин Р.В. Объектно-ориентированное сканирование для зондовой микроскопии и нанотехнологии : автореф. дис. .. канд. техн. наук : 05.27.01 / Р. В. Лапшин, 2002. - 34 с. - Текст : непосредственный.Ruijter W.J.de Quantitative high-resolution electron microscopy and holography : Diss. / W.J.de Ruijter, 1992. - 167 p. - Текст : непосредственный.Scanning tunneling microscopy / Ed.:R.Wiesendanger, H.J.Guntherodt. Pt. 2 : Further applications and related scanning techniques, 1992. - XI,308 p. p. - Текст : непосредственный.Всесоюзное совещание по электронной микроскопии : Тез.докл. / Всесоюзное совещание по электронной микроскопии (4 ; 1963 ; Сумы) , 1960. - 39 c. - Текст : непосредственный.Scanning tunneling microscopy : Intern.colloquium on scanning tunneling microscopy,held in Hirosima,9-11 Dec.1993 / Ed. A. Kawazu, 1994. - V,3657-3790,11 p. p. - Текст : непосредственный.Scanning tunneling microscopy / Ed.:R.Wiesendanger, H.J.Guntherodt. Pt. 3 : Theory of STM and related scanning probe methods, 1993. - XV,375 p. p. - Текст : непосредственный.Scanning tunneling microscopy : 2nd intern.colloquium on scanning tunneling microscopy,held in Kanazawa,Dec.8-10,1994 / Ed. A. Kawazu, 1995. - 3309-3411 p. p. - Текст : непосредственный.Photons and local probes : Proc.of the NATO advanced research workshop on photons and local probes,Reichenau,Sept.11-17,1994 / ed. O. Marti, ed. R. M@:oller, 1995. - IX,360 p. p. - Текст : непосредственный.Forces in scanning probe methods : Proc.of the NATO advanced study inst.on forces in scanning probe methods Schluchsee,March 7-18,1994 / Ed. H.-J. Guntherodt, 1995. - XIII,644 p. p. - Текст : непосредственный.Papers from the eighth International conference on scanning tunneling microscopy/spectroscopy and related techniques / International conference on scanning tunneling microscopy/spectroscopy and related techniques (1996 ; New York) , 1996. - 585-1576 p. p. - Текст : непосредственный.Scanning tunneling microscopy : Papers were presented at the inten. colloquium on scanning tunneling microscopy,Kanazawa,Dec.7-9,1995 / Ed. S. Hosoki, 1996. - 3695-3797 p. p. - Текст : непосредственный.Миллер М. Зондовый анализ в автоионной микроскопии : Принципы и прил. в материаловеденииПер. с англ. под ред. А. Л. Суворова / М.Миллер,Г.Смит, 1993. - 301 с. - Текст : непосредственный.Scanning tunneling microscopy.Quantum dot structures : Papers presented at the 4th Intern.colloquium on scanning tunneling microscopy,Kanazawa,Dec.12-14,1996 / ed. S. Hosoki, 1997. - Pag.var. - Текст : непосредственный.Сканирующая туннельная микроскопия : Руководство пользователя / И.С.Суровцев,Л.А.Битюцкая,Д.С.Долгих,М.В.Мамута, 1997. - 42 с. - Текст : непосредственный.Proceedings / Multi-national congress on electron microskopy(1997;Portoroz). Pt. 1 : Microscopy applications in the life sciences, 1996. - 165-290 p. p. - Текст : непосредственный.Proceedings / Multi-national congress on electron microskopy(1997;Portoroz). Pt. 2 : Microscopy applications in the material science, 1997. - 68 p. - Текст : непосредственный.Proceedings / Multi-national congress on electron microskopy(1997;Portoroz). Pt. 3, 1997. - 126 p. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыЗаказ фрагмента документа ₽