Приложение
для AndroidПолное описание
Автоматизированный тестовый контроль производства БИС / С.С.Булгаков,Д.Б.Десятов,С.А.Еремин,В.В.Сысоев. - М. : Радио и связь, 1992. - 192 с. : ил. - 1600 экз. - ISBN 5-256-00613-4 : 5.25 р. - Текст : непосредственный.
Библиогр.: с. 188-191 (69 назв.).
| ГРНТИ | УДК | |
| 47.13.81 | 621.3.049.771.14:658.562 |
Рубрики:
Интегральные схемы большие -- Технический контроль
Доп. точки доступа:
Булгаков, С.С.
Десятов, Д.Б.
Еремин, С.А.
Сысоев, В.В.
Имеются экземпляры в отделах: всего 2 : ХР (2)
Свободны: ХР (2)
Подготовка тестовых последовательностей, рабочие станции тестирования плат 227Х (версия 8.2) / ВЦП. - 368 c. - Текст : непосредственный.Приготовление наборов тестов на автоматизированных рабочих местах проверки плат 227Х. Процедуры автоматической генерации теста. Раздел 7 / ВЦП. - 354 c. - Текст : непосредственный.Мультиплексный тестер жидких кристаллов / ВЦП. - 26 c. - Текст : непосредственный.Руководство пользователя: эмуляция контактрона для рабочей станции проверки плат 227Х / ВЦП. - 162 c. - Текст : непосредственный.Инструкции по эксплуатации переходника GR 2260-9009 для подключения испытательных стендов типа 2270 к автоматизированному рабочему месту типа 2275 / ВЦП. - 53 c. - Текст : непосредственный.Руководство по эксплуатации преобразователя разводки для внутрисхемного тестирования / ВЦП. - 49 c. - Текст : непосредственный.Руководство по эксплуатации переходников - изделий NN 2260-3365, использующихся при внутрисхемной комплексной проверке электронных блоков и обеспечивающих сопряжение между испытательными стендами 2275 и 2276 / ВЦП. - 41 c. - Текст : непосредственный.Преобразователь контрольного приспособления для внутрисхемных испытаний N 2260-3325 / ВЦП. - 34 c. - Текст : непосредственный.Преобразователь контрольного приспособления для внутрисхемных испытаний NN 2260-3329 и 2260-3526 / ВЦП. - 53 c. - Текст : непосредственный.Переходные приспособления для внутрисхемного контроля печатных плат (каталожные номера 2260-3461 и 2260-3661), дающие возможность использования оснастки с номером 2271 в испытательном стенде с номером 2276 / ВЦП. - 58 c. - Текст : непосредственный.Преобразователи измерительной справки для встроенного тестирования печатных плат / ВЦП. - 64 c. - Текст : непосредственный.Конвертер для устройства тестирования плат / ВЦП. - 34 c. - Текст : непосредственный.Программирование тестов. Рабочие станции тестирования печатных плат 227Х / ВЦП. - 150 c. - Текст : непосредственный.Программируемые рабочие станции для проверок с платой 227Х фирмы ГенРэд. Описания языка испытания (версия 8.2). Гл.6 / ВЦП. - 162 c. - Текст : непосредственный.Программируемые рабочие станции для проведения проверок с платой 227Х фирмы ГенРад: Описание языка испытаний. Версия 8.2 / ВЦП. - 118 c. - Текст : непосредственный.Описание системных операций испытательного стенда 2276. (Система 2276 для испытания электронных схем, собранных на печатных платах) / ВЦП. - 173 c. - Текст : непосредственный.Руководство администратора системы. Рабочие станции контроля плат 227Ч / ВЦП. - 250 с. - Текст : непосредственный.Чурюмов В.А. Интеллектуализация технологий автоматизированного контроля и управления качеством изделий радиоэлектроники : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн.наук:05.13.07 / В. А. Чурюмов, 1992. - 32 с. - Текст : непосредственный.Тестовые кристаллы / ВЦП. - 15 c. - Текст : непосредственный.Рау Э.И. Локальная диагностика объектов микроэлектроники методами томографии и сканирующей микроскопии : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук: 01.04.01 / Э. И. Рау, 1993. - 26 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыThe SEM metrology of the microrelief elements / Yu.A.Novikov,A.V.Rakov,I.Yu.Stekolin,I.B.Strizhkov, 1995. - 12 p. - Текст : непосредственный.Автоматизированный тестовый контроль производства БИС / С.С.Булгаков,Д.Б.Десятов,С.А.Еремин,В.В.Сысоев, 1992. - 192 с. - Текст : непосредственный.Высокопроизводительный комплекс анализа изображений с процессором на однородной вычислительной среде / В.А.Исаенко,М.Н.Кузьо,А.А.Самчинский и др., 1991. - 59 с. - Текст : непосредственный.Sachdev M. Defect-oriented testing for nano-metric CMOS VLSI circuits / M. Sachdev, J. P. Gyvez, 2007 r=on-line.
Игнатьев А.С. Электронная Оже-спектроскопия для исследования и контроля технологии СБИС : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат.наук:01.04.10 / А. С. Игнатьев, 1993. - 45 с. - Текст : непосредственный.Назаров А.А. Проектирование тестовых схем для аттестации технологических процессов производства СБИС : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.27.05 / А. А. Назаров, 2000. - 16 с. - Текст : непосредственный.Ткаченко С.А. Моделирование выхода годных МОП БИС : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук: 05.17.01 / С. А. Ткаченко, 1990. - 15 с. - Текст : непосредственный.Руднев А.В. Статистические модели контроля выхода годных и технологических потерь в производстве СБИС : автореф. дис. .. канд. техн. наук : 05.27.01 / А. В. Руднев, 2003. - 20 с. - Текст : непосредственный.Автоматизированный тестовый контроль производства БИС / С.С.Булгаков,Д.Б.Десятов,С.А.Еремин,В.В.Сысоев, 1992. - 192 с. - Текст : непосредственный.Красников, Г. Я. Физико-технологические основы обеспечения качества СБИС. Ч. 1, 1999. - 226 с. - Текст : непосредственный.Красников, Г. Я. Физико-технологические основы обеспечения качества СБИС. Ч. 2, 1999. - 216 с. - Текст : непосредственный.Director S.W. VLSI design for manufacturing: yeild enhancement / S.W.Director,W.Maly,A.J.Strojwas, 1990. - XII,291 p. p. - Текст : непосредственный.Красников Г.Я. Физико-технологические основы обеспечения качества СБИС / Г.Я.Красников,Н.А.Зайцев, 1999. - 226, 216 с. 216 с. - Текст : непосредственный.Тюлевин С.В. Индивидуальное прогнозирование электронных средств : учеб. пособие / С. В. Тюлевин, 2016. - 67 с.Tehranipoor M. Nanometer technology designs high-quality delay tests / M. Tehranipoor, N. Ahmed, 2008 r=on-line.
Заказ фрагмента документа ₽