Приложение
для AndroidПолное описание
Muller, M. Ein Raster - Tunnelmikroskop zur Messung lokaler Materialfehler : Diss. / M.M@:uller. - Aachen : [s. n.], 1990. - 90 S. : Ill. - Текст : непосредственный.
Библиогр.: с.81-90
Перевод заглавия: Растровый туннельный микроскоп для измерения локальных дефектов материалов
| ГРНТИ | УДК | |
| 29.35.43 | 621.385.833.2(043) |
Рубрики:
Микроскопы электронные
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Растровый туннельный микроскоп с широким растром наблюдения / Ин-т сверхтвердых материалов. - 18 с. - Текст : непосредственный.Давыдов Д.Н. Низкотемпературная сканирующая туннельная микроскопия : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.01 / Д. Н. Давыдов, 1991. - 18 с. - Текст : непосредственный.Лобкис О.И. Дифракционные эффекты и формирование изображения в акустическом микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ-мат.наук:01.04.06 / О. И. Лобкис, 1991. - 20 с. - Текст : непосредственный.Стрепетов А.Н. Формирование и регистрация изображения в нейтронном микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.16 / А. Н. Стрепетов, 1991. - 29 с. - Текст : непосредственный.Рабинович В.Б. Пути повышения сборочно-юстировочной технологичности конструкций световых микроскопов : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.11.07 / В. Б. Рабинович, 1991. - 21 с. - Текст : непосредственный.Тавров А.В. Экспериментальная регистрация субмикронных структур поверхности на компьютерном фазовом микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.27.03 / А. В. Тавров, 1992. - 17 с. - Текст : непосредственный.Гавриков С.И. Электронно-микроскопические исследования окислов с использованием видеозаписи и цифровой обработки изображений : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:01.04.07 / С. И. Гавриков, 1992. - 16 с. - Текст : непосредственный.Стабилизатор луча 35-BST : Инструкции / ВЦП. - 13 c. - Текст : непосредственный.Инструкция по работе и описание электронного микроскопа JEM-100CX фирмы Джеол. Гл.5. Работа на приборе / ВЦП. - 194 c. - Текст : непосредственный.Инструкция по работе и описание электронного микроскопа JEM-100CX фирмы Джеол. Гл. 6. Обслуживание / ВЦП. - 206 c. - Текст : непосредственный.Система "МГВ АУТОМАТИК" : Информация по техн.обслуживанию / ВЦП. - 119 c. - Текст : непосредственный.Информация по обслуживанию автоматического устройства "MVG Automatik" / ВЦП. - 193 c. - Текст : непосредственный.Электронный микроскоп модель JEM-2000EX/FX : Спецификация деталей / ВЦП.Киев.ред. - 63 c. - Текст : непосредственный.Антонов А.П. Исследование и разработка методов,алгоритмов и устройств управления съемом и предварительной обработки информации в сканирующем туннельном микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.05 / А. П. Антонов, 1996. - 17 с. - Текст : непосредственный.Селектор изображений ИМС / ТПП Москвы. - 4 c. - Текст : непосредственный.Техника контроля и измерений с помощью электронных лучей / ТПП БССР. - 29 c. - Текст : непосредственный.Литвинов В.Л. Исследование и разработка методов и алгоритмов предварительной обработки изображений в задачах электронной микроскопии : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.01 / В. Л. Литвинов, 1997. - 16 с. - Текст : непосредственный.Рехвиашвили С.Ш. Силовые взаимодействия и зонды в атомно-силовом микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук:01.04.07 / С. Ш. Рехвиашвили, 1999. - 19 с. - Текст : непосредственный.Горбенко О.М. Автосигнализация отражений твердотельных наноструктур и биологических клеток в сканирующей зондовой и световой оптической микроскопии : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук: 01.04.01 / О. М. Горбенко, 2000. - 18 с. - Текст : непосредственный.Мурясов Р.Р. Вопросы теории туннелирования электронов в СТМ : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук: 01.04.17 / Р. Р. Мурясов, 2000. - 20 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыРастровый туннельный микроскоп с широким растром наблюдения / Ин-т сверхтвердых материалов. - 18 с. - Текст : непосредственный.Инструкция по работе и описание электронного микроскопа JEM-100CX фирмы Джеол. Гл. 1. Общая часть. Гл.2,3,4 / ВЦП. - 106 c. - Текст : непосредственный.Инструкция к прибору Камебакс-SX 50. (Электронный микроскоп) / ВЦП. - 135 c. - Текст : непосредственный.Стабилизатор луча 35-BST : Инструкции / ВЦП. - 13 c. - Текст : непосредственный.Инструкция по работе и описание электронного микроскопа JEM-100CX фирмы Джеол. Гл.5. Работа на приборе / ВЦП. - 194 c. - Текст : непосредственный.Инструкция по работе и описание электронного микроскопа JEM-100CX фирмы Джеол. Гл. 6. Обслуживание / ВЦП. - 206 c. - Текст : непосредственный.Система "МГВ АУТОМАТИК" : Информация по техн.обслуживанию / ВЦП. - 119 c. - Текст : непосредственный.Информация по обслуживанию автоматического устройства "MVG Automatik" / ВЦП. - 193 c. - Текст : непосредственный.Электронный микроскоп модель JEM-2000EX/FX : Спецификация деталей / ВЦП.Киев.ред. - 63 c. - Текст : непосредственный.Селектор изображений ИМС / ТПП Москвы. - 4 c. - Текст : непосредственный.Техника контроля и измерений с помощью электронных лучей / ТПП БССР. - 29 c. - Текст : непосредственный.Новиков Ю.А. Physical principles of the linewidth measurement of submicron relief structures / Ю.А.Новиков,А.В.Раков, 1995. - 16 p. - Текст : непосредственный.Новиков Ю.А. Измерение диаметра электронного зонда РЭМ, ПРЭМ и электронных литографов / Ю. А. Новиков, А. В. Раков, И. Ю. Стеколин, 1995. - 23 c. - Текст : непосредственный.Bierwolf R. Ein Verfahren zur quantitativen Bestimmung von Abbildungsparametern und zur Rekonstruktion der Austrittswellenfunktion in der hochauflosenden Elektronenmikroskopie : Diss / R.Bierwolf, 1995. - 140 S. - Текст : непосредственный.Koltun R. Aufbau eines Ultrahochvakuum-Rastertunnelmikroskops und Untersuchungen des magnetischen Kontrasts auf atomarer und Mikrometer-Skala : Diss. / R.Koltun, 1995. - 120 S. - Текст : непосредственный.Kaltenbrunner K. Entwicklung und Bau eines Tieftemperatur-Ultrahochvakuum-Niedervolt-Projektionselektronenmikroskops : Diss. / K.Kaltenbrunner, 1994. - 125 S. - Текст : непосредственный.Skjerpe P. CRYSTAL.EXE 2.0 a FORTRAN program for an IBM PC compatible computer for calculating kinematical electron diffraction patterns : Diazocopy / P.Skjerpe, 1989. - 23 мкфш. - Текст : непосредственный.Muller M. Raster - Tunnelmikroskop zur Messung lokaler Materialfehler : Diss. / M.M@:uller, 1990. - 90 S. - Текст : непосредственный. Приборы, средства автоматизации и системы управления..ТС-4, Аналитические приборы и приборы для научных исследований : Обзор.информ. / ЦНИИТЭИприборостроения (Информприбор). Вып. 2(1991) : Новые приборы электронной микроскопии и масс-спектрометрии, 1991. - 41 с. - Текст : непосредственный.Kaczmarek D. Rekonstrukcja obrazu powierzchni probki w elektronowym mikroskopie skaningowym za pomoca elektronow wstecznie rozproszonych / D.Kaczmarek, 1999. - 110 s. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыАнтонов А.П. Исследование и разработка методов,алгоритмов и устройств управления съемом и предварительной обработки информации в сканирующем туннельном микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.05 / А. П. Антонов, 1996. - 17 с. - Текст : непосредственный.Литвинов В.Л. Исследование и разработка методов и алгоритмов предварительной обработки изображений в задачах электронной микроскопии : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.01 / В. Л. Литвинов, 1997. - 16 с. - Текст : непосредственный.Рехвиашвили С.Ш. Силовые взаимодействия и зонды в атомно-силовом микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук:01.04.07 / С. Ш. Рехвиашвили, 1999. - 19 с. - Текст : непосредственный.Горбенко О.М. Автосигнализация отражений твердотельных наноструктур и биологических клеток в сканирующей зондовой и световой оптической микроскопии : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук: 01.04.01 / О. М. Горбенко, 2000. - 18 с. - Текст : непосредственный.Шелковников Е.Ю. Исследование метрологических характеристик сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук: 05.11.13 / Е. Ю. Шелковников, 2000. - 20 с. - Текст : непосредственный.Гуляев П.В. Разработка и исследование пьезоэлектрических устройств и методов управления ими в сканирующем туннельном микроскопе для изучения кластерных материалов : автореф. дис. .. канд. техн. наук : 05.11.13 / П. В. Гуляев, 2003. - 20 с. - Текст : непосредственный.Bierwolf R. Ein Verfahren zur quantitativen Bestimmung von Abbildungsparametern und zur Rekonstruktion der Austrittswellenfunktion in der hochauflosenden Elektronenmikroskopie : Diss / R.Bierwolf, 1995. - 140 S. - Текст : непосредственный.Koltun R. Aufbau eines Ultrahochvakuum-Rastertunnelmikroskops und Untersuchungen des magnetischen Kontrasts auf atomarer und Mikrometer-Skala : Diss. / R.Koltun, 1995. - 120 S. - Текст : непосредственный.Kaltenbrunner K. Entwicklung und Bau eines Tieftemperatur-Ultrahochvakuum-Niedervolt-Projektionselektronenmikroskops : Diss. / K.Kaltenbrunner, 1994. - 125 S. - Текст : непосредственный.Muller M. Raster - Tunnelmikroskop zur Messung lokaler Materialfehler : Diss. / M.M@:uller, 1990. - 90 S. - Текст : непосредственный. Lenc M. Immersion objective lenses in electron optics : Diss. / M.Lenc, 1992. - 82 p. - Текст : непосредственный.Zach J. Entwurf und Berechnung eines hochauflosenden Niederspannungs-Rasterelektronenmikroskops : Diss. / J.Zach, 1989. - 72 S. - Текст : непосредственный.Bleeker A.J. Optical and mechanical design for 1 nm resolution auger spectroscopy in an electron microscope : Diss. / A.J.Bleeker, 1991. - Pag.var. - Текст : непосредственный.Dubbeldam L. voltage contrast detector with double channel energy analyzer in a scanning electron microscope : Diss. / L.Dubbeldam, 1989. - 129 p. - Текст : непосредственный.Разработка и анализ зондовых микромеханических устройств : автореф. дис. .. д-ра техн. наук : 05.27.01 / С. Ш. Рехвиашвили, 2004. - 32 c. - Текст : непосредственный.Электрофизические основы контроля изображений наноструктуры поверхности в сканирующем туннельном микроскопе для изучения кластерных материалов : автореф. дис. .. канд. физ.-мат. наук : 05.11.14, 05.11.13 / А. В. Тюриков, 2004. - 20 с. - Текст : непосредственный.Разработка и исследование технологического и аппаратурного обеспечения сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов : автореф. дис. .. канд. техн. наук : 05.11.14, 05.11.13 / С. Р. Кизнерцев, 2004. - 20 с. - Текст : непосредственный.Морфофункциональная информационно-измерительная система сканирующей зондовой микроскопии атомарного разрешения (туннельной, атомно-силовой, оптической ближнего поля) : автореф. дис. .. д-ра техн. наук : 05.11.16, 05.27.01 / Ю. П. Волков, 2004. - 36 с. - Текст : непосредственный.Разработка и исследование интеллектуального цифрового туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов : автореф. дис. .. канд. техн. наук : 05.11.13, 05.11.14 / Д. В. Гудцов, 2006. - 20 с. - Текст : непосредственный.Разделение сложных сигналов с помощью вейвлет-производной спектрометрии и биспектрального анализа : автореф. дис. .. канд. физ.-мат. наук : 01.04.05 / Д. З. Галимуллин, 2006. - 16 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыЗаказ фрагмента документа ₽