Приложение
для AndroidПолное описание
Skjerpe, P. CRYSTAL.EXE 2.0 a FORTRAN program for an IBM PC compatible computer for calculating kinematical electron diffraction patterns : diazocopy / P.Skjerpe. - Oslo : [s. n.], 1989. - 23 мкфш. : ill. - (Rapport / Univ.i Oslo, ISSN 0332-5571 ; 89-26). - 2.00 р. - Текст : непосредственный.
| ГРНТИ | УДК | |
| 29.35.43 | 621.385.833.2(086.2) |
Рубрики:
Микроскопы электронные
Имеются экземпляры в отделах: всего 2 : ХРЦ (1), (1)
Свободны: ХРЦ (1), (1)
Model-space nuclear matter calculations with the Bonn potential / L.Engvik,M.Hjorth-Jensen,E.Osnes,T.T.SKuo, 1992. - 7 p. - Текст : непосредственный.Marthinsen G. Om noen av de forste universitetslaerere i realfag og deres ekstramurale virksomhet / G.Marthinsen, 1992. - IV,324 s. s. - Текст : непосредственный.Shell-modell calculations with realistic effective interactions / E.Osnes,M.Hjorth-Jensen,T.Engeland,A.Holt, 1992. - 15 p. - Текст : непосредственный.Low spin S-band members in 160,162 Dy : Invited talk Low spin S-band members in 160,162 Dy presented by G. Lovhoiden at the intern.conf. on nuclear structure and nuclear reactions at low and intermediate energies,Sept. 15-19,1992,Dubna / E.Andersen,H.Helstrup,G.Lovhoiden и др., 1992. - 13 p. - Текст : непосредственный.Festskrift til Roald Tangen : i anledning av hans 80- ars dag 8. febr.1992, 1992. - 36 s. - Текст : непосредственный.Leinaas J.M. Anyons and intermediate statistics / J.M.Leinaas, 1992. - 30 p. - Текст : непосредственный.Sten T.A. Electronic ground support equipment for the cluster electric field and wave experiment / T.A.Sten, 1992. - 24 p. - Текст : непосредственный.En samtale om fysikk, fysikere og menneskelig vaeren / T.Bergene,B.Jensen,R.Jensen,A.Naess, 1992. - 19 s. - Текст : непосредственный.The structure of neutron deficient Sn isotopes / T.Engeland,M.Hjorth-Jensen,A.Holt,E.Osnes, 1992. - 5 p. - Текст : непосредственный.Wu B. Building A verilog model for boundary-scan architecture / B.Wu,G.Midttum, 1992. - 18 p. - Текст : непосредственный.CHICSI : A proposal for a multidetector E-E particle telescopeVersion II / CHICSI design group, 1993. - 44 p. - Текст : непосредственный.Burgess M. Fermions near two dimensional surfaces / M.Burgess,B.Jensen, 1993. - 14 p. - Текст : непосредственный.Burgess M. Is there a phase transition in Maxwell-Chern-Simons theory? / M.Burgess,D.J.Toms,N.Tveten, 1993. - 20 p. - Текст : непосредственный.Burgess M. Some notes on the effective action and its interpretation / M.Burgess, 1993. - 33 p. - Текст : непосредственный.Jacobsen T. Note of fission / T.Jacobsen, 1993. - 4 p. - Текст : непосредственный.Valberg A. Primate visual pathways / A.Valberg,B.Lee, 1993. - 41 p. - Текст : непосредственный.Burgess M. Classical optics in generalized Maxwell Chern-Sinoms theory / M.Burgess,J.M.Leinaas,O.M.Lovvik, 1993. - 11 p. - Текст : непосредственный.Jensen B. A connection between plane and cylindrical symmetry in general relactivity / B.Jensen,J.Kucera, 1993. - 6 p. - Текст : непосредственный.Jensen B. On a gravitational Aharonov-Bohm effect / B.Jensen,J.Kucera, 1993. - 18 p. - Текст : непосредственный.Kolsrud M. Full-functions and Bases for Lie elements in two generators.Application to the Baker-Hausdorff formula / M.Kolsrud, 1993. - 43 p. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыРастровый туннельный микроскоп с широким растром наблюдения / Ин-т сверхтвердых материалов. - 18 с. - Текст : непосредственный.Давыдов Д.Н. Низкотемпературная сканирующая туннельная микроскопия : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.01 / Д. Н. Давыдов, 1991. - 18 с. - Текст : непосредственный.Лобкис О.И. Дифракционные эффекты и формирование изображения в акустическом микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ-мат.наук:01.04.06 / О. И. Лобкис, 1991. - 20 с. - Текст : непосредственный.Стрепетов А.Н. Формирование и регистрация изображения в нейтронном микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.16 / А. Н. Стрепетов, 1991. - 29 с. - Текст : непосредственный.Рабинович В.Б. Пути повышения сборочно-юстировочной технологичности конструкций световых микроскопов : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.11.07 / В. Б. Рабинович, 1991. - 21 с. - Текст : непосредственный.Тавров А.В. Экспериментальная регистрация субмикронных структур поверхности на компьютерном фазовом микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.27.03 / А. В. Тавров, 1992. - 17 с. - Текст : непосредственный.Гавриков С.И. Электронно-микроскопические исследования окислов с использованием видеозаписи и цифровой обработки изображений : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:01.04.07 / С. И. Гавриков, 1992. - 16 с. - Текст : непосредственный.Стабилизатор луча 35-BST : Инструкции / ВЦП. - 13 c. - Текст : непосредственный.Инструкция по работе и описание электронного микроскопа JEM-100CX фирмы Джеол. Гл.5. Работа на приборе / ВЦП. - 194 c. - Текст : непосредственный.Инструкция по работе и описание электронного микроскопа JEM-100CX фирмы Джеол. Гл. 6. Обслуживание / ВЦП. - 206 c. - Текст : непосредственный.Система "МГВ АУТОМАТИК" : Информация по техн.обслуживанию / ВЦП. - 119 c. - Текст : непосредственный.Информация по обслуживанию автоматического устройства "MVG Automatik" / ВЦП. - 193 c. - Текст : непосредственный.Электронный микроскоп модель JEM-2000EX/FX : Спецификация деталей / ВЦП.Киев.ред. - 63 c. - Текст : непосредственный.Антонов А.П. Исследование и разработка методов,алгоритмов и устройств управления съемом и предварительной обработки информации в сканирующем туннельном микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.05 / А. П. Антонов, 1996. - 17 с. - Текст : непосредственный.Селектор изображений ИМС / ТПП Москвы. - 4 c. - Текст : непосредственный.Техника контроля и измерений с помощью электронных лучей / ТПП БССР. - 29 c. - Текст : непосредственный.Литвинов В.Л. Исследование и разработка методов и алгоритмов предварительной обработки изображений в задачах электронной микроскопии : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.01 / В. Л. Литвинов, 1997. - 16 с. - Текст : непосредственный.Рехвиашвили С.Ш. Силовые взаимодействия и зонды в атомно-силовом микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук:01.04.07 / С. Ш. Рехвиашвили, 1999. - 19 с. - Текст : непосредственный.Горбенко О.М. Автосигнализация отражений твердотельных наноструктур и биологических клеток в сканирующей зондовой и световой оптической микроскопии : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук: 01.04.01 / О. М. Горбенко, 2000. - 18 с. - Текст : непосредственный.Мурясов Р.Р. Вопросы теории туннелирования электронов в СТМ : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук: 01.04.17 / Р. Р. Мурясов, 2000. - 20 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыРастровый туннельный микроскоп с широким растром наблюдения / Ин-т сверхтвердых материалов. - 18 с. - Текст : непосредственный.Инструкция по работе и описание электронного микроскопа JEM-100CX фирмы Джеол. Гл. 1. Общая часть. Гл.2,3,4 / ВЦП. - 106 c. - Текст : непосредственный.Инструкция к прибору Камебакс-SX 50. (Электронный микроскоп) / ВЦП. - 135 c. - Текст : непосредственный.Стабилизатор луча 35-BST : Инструкции / ВЦП. - 13 c. - Текст : непосредственный.Инструкция по работе и описание электронного микроскопа JEM-100CX фирмы Джеол. Гл.5. Работа на приборе / ВЦП. - 194 c. - Текст : непосредственный.Инструкция по работе и описание электронного микроскопа JEM-100CX фирмы Джеол. Гл. 6. Обслуживание / ВЦП. - 206 c. - Текст : непосредственный.Система "МГВ АУТОМАТИК" : Информация по техн.обслуживанию / ВЦП. - 119 c. - Текст : непосредственный.Информация по обслуживанию автоматического устройства "MVG Automatik" / ВЦП. - 193 c. - Текст : непосредственный.Электронный микроскоп модель JEM-2000EX/FX : Спецификация деталей / ВЦП.Киев.ред. - 63 c. - Текст : непосредственный.Селектор изображений ИМС / ТПП Москвы. - 4 c. - Текст : непосредственный.Техника контроля и измерений с помощью электронных лучей / ТПП БССР. - 29 c. - Текст : непосредственный.Новиков Ю.А. Physical principles of the linewidth measurement of submicron relief structures / Ю.А.Новиков,А.В.Раков, 1995. - 16 p. - Текст : непосредственный.Новиков Ю.А. Измерение диаметра электронного зонда РЭМ, ПРЭМ и электронных литографов / Ю. А. Новиков, А. В. Раков, И. Ю. Стеколин, 1995. - 23 c. - Текст : непосредственный.Bierwolf R. Ein Verfahren zur quantitativen Bestimmung von Abbildungsparametern und zur Rekonstruktion der Austrittswellenfunktion in der hochauflosenden Elektronenmikroskopie : Diss / R.Bierwolf, 1995. - 140 S. - Текст : непосредственный.Koltun R. Aufbau eines Ultrahochvakuum-Rastertunnelmikroskops und Untersuchungen des magnetischen Kontrasts auf atomarer und Mikrometer-Skala : Diss. / R.Koltun, 1995. - 120 S. - Текст : непосредственный.Kaltenbrunner K. Entwicklung und Bau eines Tieftemperatur-Ultrahochvakuum-Niedervolt-Projektionselektronenmikroskops : Diss. / K.Kaltenbrunner, 1994. - 125 S. - Текст : непосредственный.Skjerpe P. CRYSTAL.EXE 2.0 a FORTRAN program for an IBM PC compatible computer for calculating kinematical electron diffraction patterns : Diazocopy / P.Skjerpe, 1989. - 23 мкфш. - Текст : непосредственный.Muller M. Raster - Tunnelmikroskop zur Messung lokaler Materialfehler : Diss. / M.M@:uller, 1990. - 90 S. - Текст : непосредственный. Приборы, средства автоматизации и системы управления..ТС-4, Аналитические приборы и приборы для научных исследований : Обзор.информ. / ЦНИИТЭИприборостроения (Информприбор). Вып. 2(1991) : Новые приборы электронной микроскопии и масс-спектрометрии, 1991. - 41 с. - Текст : непосредственный.Kaczmarek D. Rekonstrukcja obrazu powierzchni probki w elektronowym mikroskopie skaningowym za pomoca elektronow wstecznie rozproszonych / D.Kaczmarek, 1999. - 110 s. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыЗаказ фрагмента документа ₽