• ВХОД
  •  

    Полное описание

    Ж2-25/80633
    537.5/Ч-493
    Черноголовская конференция по электронной микроскопии КЭМ-25 с международным участием, Черноголовка, 16-19 июня 2025 г. : тезисы докладов / Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов Российской академии наук, Акционерное общество "Научно-исследовательский институт молекулярной электроники". - Москва : Гефест, 2025. - 221 с. : ил. - Библиогр. в конце докл. - 20 экз. - ISBN 978-5-6054026-1-9 : 400 р. - Текст (визуальный) : непосредственный.
    ГРНТИ УДК
    29.35.43537.533.35(062)
    47.33.33621.383(062)
    620.22:620.187(062)

    Рубрики:
    Микроскопия электронная -- Съезды и конференции
    Оптоэлектронные приборы -- Съезды и конференции
    Материалы -- Микроскопический метод исследования -- Съезды и конференции

    Кл.слова (ненормированные): электронная дифракция -- микроанализ -- растровая микроскопия -- ионная микроскопия -- конфокальная микроскопия -- сканирующая микроскопия -- зондовая микроскопия -- литография
    Аннотация: На конференции рассмотрены современные методы растровой, просвечивающей, зондовой микроскопии и их применение в исследованиях наноструктур и наноматериалов, а также в медицине, биологии, материаловедении, геологии, физике.
    Доп. точки доступа:
    Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов (Москва)
    Экз-ры полностью Ж2-25/80633
    Имеются экземпляры в отделах: всего 2 : ПНТ (1), ХРЦ (1)
    Свободны: ПНТ (1), ХРЦ (1)
    Обложка



    Заказ фрагмента документа ₽