• ВХОД
  •  

    Полное описание

    Д11-22/2754
    620.2/М 545
    Методы структурного анализа материалов : учебное пособие / О. В. Башков, А. А. Бурдасова, И. В. Белова [и др.] ; под общей редакцией О. В. Башкова ; Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Комсомольский-на-Амуре государственный университет. - Комсомольск-на-Амуре : КнАГУ, 2022. - 59 с. : цв. ил. - Авт. указ. на обороте тит. л. - Библиогр.: с. 58-59 (9 назв.). - 49 экз. - ISBN 978-5-7765-1514-9 : 100 р. - Текст (визуальный) : непосредственный.
    ГРНТИ УДК
    81.09.03620.22

    Рубрики:
    Материалы -- Методы исследования

    Кл.слова (ненормированные): оптическая микроскопия -- просвечивающая электронная микроскопия -- растровая электронная микроскопия -- автоионная микроскопия -- эмиссионный спектральный анализ
    Аннотация: В учебном пособии приводятся физические основы методов анализа структуры, состава материалов и контроля качества, представления о состоянии и тенденциях развития методов и средств для осуществления структурного анализа материалов различного класса. Предложены основные принципы построения и функционирования конкретных приборов, установок и их отдельных узлов. Предназначено для студентов специальности 22.03.01 - "Материаловедение и технологии материалов".
    Доп. точки доступа:
    Башков, Олег Викторович
    Бурдасова, Александра Александровна
    Белова, Инна Валерьевна
    Башкова, Татьяна Игоревна
    Афанасьева, Анна Алексеевна
    Комсомольский-на-Амуре государственный университет
    Экз-ры полностью Д11-22/2754
    Имеются экземпляры в отделах: всего 2 : ХРЦ (2)
    Свободны: ХРЦ (2)
    Обложка



    Заказ фрагмента документа ₽