• ВХОД
  •  

    Полное описание

    Ар21-8157
    004.33/З-179
    Зайцева, Юлия Сергеевна. Структура тонких пленок материалов фазовой памяти на основе Ge-Sb-Te по данным электронной микроскопии : специальность 01.04.10 - физика полупроводников : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук / Зайцева Юлия Сергеевна ; Национальный исследовательский университет "МИЭТ", Научно-исследовательская лаборатория электронной микроскопии. - Москва : [б. и.], 2021. - 23 с. : ил. - Библиогр.: с. 19-23 (29 назв.). - 80 экз. - Текст : непосредственный.
    ГРНТИ УДК
    50.11004.33.076.4(043)

    Кл.слова (ненормированные): энергонезависимые запоминающие устройства -- халькогенидные полупроводниковые материалы -- полупроводниковые пленки -- атомарное строение -- фазовые превращения -- поверхностные явления
    Доп. точки доступа:
    "МИЭТ", национальный исследовательский университет (Москва). Научно-исследовательская лаборатория электронной микроскопии
    Экз-ры полностью Ар21-8157
    Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХРЦ (1)
    Свободны: ХРЦ (1)



    Заказ фрагмента документа ₽