Полное описание
>
Методы и приборы сканирующей зондовой микроскопии : учеб. пособие / А. В. Ищенко [и др.] ; Урал. федер. ун-т им. первого Президента России Б. Н. Ельцина, Физ.-технол. ин-т. - Екатеринбург : УрФУ, 2017. - 179 с. : ил. - Библиогр.: с. 167-168. - 70 экз. - ISBN 978-5-321-02523-9 : 200 р. - Текст : непосредственный.
| ГРНТИ | УДК | |
| 29.35.43 | 621.385.833.2 |
Рубрики:
Микроскопия электронная
Аннотация: В учебном пособии представлены основы методов получения изображений в сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ). Практическая часть пособия знакомит с устройством зондовых приборов, принципами их работы и режимами настройки. Представлены примеры лабораторных практикумов для обучения основным навыкам работы с оборудованием для СЗМ и со специализированным программным обеспечением, которое позволяет проводить анализ и обработку изображений, полученных при различных режимах работы зондового микроскопа. Пособие предназначено для бакалавров, магистров и специалистов инженерно-технических и естественнонаучных образовательных направлений.
Доп. точки доступа:
Ищенко, А.В.
Вохминцев, А.С.
Огородников, И.И.
Вайнштейн, И.А.
Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б. Н. Ельцина (Екатеринбург). Физико-технологический институт
>
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХРЦ (1)
Свободны: ХРЦ (1)
Методы и приборы сканирующей зондовой микроскопии : учеб. пособие / А. В. Ищенко [и др.], 2017. - 179 с. - Текст : непосредственный.Огородников, Игорь Николаевич. Введение в обратные задачи физической диагностики. Модельные расчеты в Матлаб : учебное пособие / И. Н. Огородников, 2017. - 126 с. - Текст : непосредственный.Петров В.Л. Методы и средства обнаружения делящихся материалов : лабораторный практикум / В. Л. Петров, 2017. - 97 с. - Текст : непосредственный.Моисейкин Е.В. Микроконтроллеры семейства MCS-51. Теория и практика : учебно-методическое пособие / Е. В. Моисейкин, 2017. - 143 с. - Текст : непосредственный.Баранова А.А. Радиационная биофизика : лабораторный практикум / А. А. Баранова, 2018. - 100 с.Слесарев А.И. Аспекты проектирования электронных схем на основе микроконтроллеров : учебное пособие / А. И. Слесарев, Е. В. Моисейкин, Ю. Г. Устьянцев, 2018. - 135, [1] с.Денисова Э.И. Прикладное материаловедение: металлы и сплавы : учебное пособие / Э. И. Денисова, В. В. Карташов, В. Н. Рычков, 2018. - 215 с. - Текст : непосредственный.Звонарев С.В. Функциональные и конструкционные наноматериалы : учебно-методическое пособие / С. В. Звонарев, 2018. - 131 с.Пунанов И.Ф. Высоковольтный наносекундный пробой конденсированных сред : учебное пособие / И. Ф. Пунанов, И. С. Жидков, С. О. Чолах, 2018. - 115 с.Методы анализа структуры и свойств материалов : практикум / М. Ю. Ларионов, А. В. Ищенко, Е. В. Петрова [и др. ; научный редактор Б. В. Шульгин], 2019. - 123 с. - Текст : непосредственный.Экологические основы охраны водных ресурсов : учебное пособие / А. Ф. Никифоров, А. С. Кутергин, В. С. Семенищев, С. В. Никифоров, 2019. - 191 с. - Текст : непосредственный.Петров В.Л. Методы и средства обнаружения делящихся материалов : лабораторный практикум / В. Л. Петров, 2019. - 95 с. - Текст : непосредственный.Звонарев С.В. Основы математического моделирования : учебное пособие / С. В. Звонарев, 2019. - 111 с. - Текст : непосредственный.Аспекты проектирования усилительных устройств систем контроля : учебное пособие / А. С. Вохминцев, Е. А. Бунтов, Е. В. Моисейкин, Ю. Г. Устьянцев, 2019. - 111 с. - Текст : непосредственный.Жидков И.С. Электрофизические методы обработки материалов : учебное пособие / И. С. Жидков, А. И. Кухаренко, С. О. Чолах, 2019. - 193 с. - Текст : непосредственный.Кутергин А.С. Прикладная экология. Оценка антропогенных воздействий на окружающую среду : учебно-методическое пособие / А. С. Кутергин, А. Ф. Никифоров, 2019. - 134 с. - Текст : непосредственный.Огородников, Игорь Николаевич. Радиационные воздействия излучений на материалы электронной техники. Оксид бериллия : учебное пособие / И. Н. Огородников, В. Ю. Иванов, 2019. - 319 с. - Текст : непосредственный.Половов И.Б. Ядерно-химическая технология тория : учебное пособие / И. Б. Половов, А. В. Абрамов, Р. В. Камалов, 2019. - 141 с. - Текст : непосредственный.Школа, Николай Федорович. Схемотехника аналоговых устройств : лабораторный практикум / Н. Ф. Школа, 2020. - 191 с. - Текст (визуальный) : непосредственный.Сурнев, Виктор Борисович. Высшая математика для физиков. Линейная алгебра : учебное пособие / В. Б. Сурнев, 2020. - 436 с. - Текст (визуальный) : непосредственный.
Показать все результатыРастровый туннельный микроскоп с широким растром наблюдения / Ин-т сверхтвердых материалов. - 18 с. - Текст : непосредственный.Давыдов Д.Н. Низкотемпературная сканирующая туннельная микроскопия : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.01 / Д. Н. Давыдов, 1991. - 18 с. - Текст : непосредственный.Лобкис О.И. Дифракционные эффекты и формирование изображения в акустическом микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ-мат.наук:01.04.06 / О. И. Лобкис, 1991. - 20 с. - Текст : непосредственный.Стрепетов А.Н. Формирование и регистрация изображения в нейтронном микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.16 / А. Н. Стрепетов, 1991. - 29 с. - Текст : непосредственный.Рабинович В.Б. Пути повышения сборочно-юстировочной технологичности конструкций световых микроскопов : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.11.07 / В. Б. Рабинович, 1991. - 21 с. - Текст : непосредственный.Тавров А.В. Экспериментальная регистрация субмикронных структур поверхности на компьютерном фазовом микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.27.03 / А. В. Тавров, 1992. - 17 с. - Текст : непосредственный.Гавриков С.И. Электронно-микроскопические исследования окислов с использованием видеозаписи и цифровой обработки изображений : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:01.04.07 / С. И. Гавриков, 1992. - 16 с. - Текст : непосредственный.Стабилизатор луча 35-BST : Инструкции / ВЦП. - 13 c. - Текст : непосредственный.Инструкция по работе и описание электронного микроскопа JEM-100CX фирмы Джеол. Гл.5. Работа на приборе / ВЦП. - 194 c. - Текст : непосредственный.Инструкция по работе и описание электронного микроскопа JEM-100CX фирмы Джеол. Гл. 6. Обслуживание / ВЦП. - 206 c. - Текст : непосредственный.Система "МГВ АУТОМАТИК" : Информация по техн.обслуживанию / ВЦП. - 119 c. - Текст : непосредственный.Информация по обслуживанию автоматического устройства "MVG Automatik" / ВЦП. - 193 c. - Текст : непосредственный.Электронный микроскоп модель JEM-2000EX/FX : Спецификация деталей / ВЦП.Киев.ред. - 63 c. - Текст : непосредственный.Антонов А.П. Исследование и разработка методов,алгоритмов и устройств управления съемом и предварительной обработки информации в сканирующем туннельном микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.05 / А. П. Антонов, 1996. - 17 с. - Текст : непосредственный.Селектор изображений ИМС / ТПП Москвы. - 4 c. - Текст : непосредственный.Техника контроля и измерений с помощью электронных лучей / ТПП БССР. - 29 c. - Текст : непосредственный.Литвинов В.Л. Исследование и разработка методов и алгоритмов предварительной обработки изображений в задачах электронной микроскопии : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.01 / В. Л. Литвинов, 1997. - 16 с. - Текст : непосредственный.Рехвиашвили С.Ш. Силовые взаимодействия и зонды в атомно-силовом микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук:01.04.07 / С. Ш. Рехвиашвили, 1999. - 19 с. - Текст : непосредственный.Горбенко О.М. Автосигнализация отражений твердотельных наноструктур и биологических клеток в сканирующей зондовой и световой оптической микроскопии : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук: 01.04.01 / О. М. Горбенко, 2000. - 18 с. - Текст : непосредственный.Мурясов Р.Р. Вопросы теории туннелирования электронов в СТМ : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук: 01.04.17 / Р. Р. Мурясов, 2000. - 20 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыRuijter W.J.de Quantitative high-resolution electron microscopy and holography : Diss. / W.J.de Ruijter, 1992. - 167 p. - Текст : непосредственный.Горелик С.С. Рентгенографический и электронно-оптический анализ : Учеб.пособие для вузов,обучающихся по направлению "Материаловедение и технология новых материалов" / С. С. Горелик, Ю. А. Скаков, Л. Н. Расторгуев, 1994. - 328 c. - Текст : непосредственный.The TEM-accelerators facility at JAERI-Takasaki and its application to materials science / H.Abe,H.Naramoto,K.Hojou,S.Furuno, 1996. - III,18 p. p. - Текст : непосредственный.Байбурин, В. Б. Многофункциональный комплекс сканирующей зондовой микроскопии и его применение. Ч. 1, 1998. - 120 с. - Текст : непосредственный.Hohenstein M. Rekonstruktion der Elektronen-Austrittswellenfunktion durch Abbildung mit einem Seitenband ihres Frequenzspektrums in der hochauflosenden Elektronenmikroskopie : Diss. / M.Hohenstein, 1991. - 101 S. - Текст : непосредственный.Иванов С.А. Электронная микроскопия : Учеб. пособие / С.А.Иванов, 1991. - 92 с. - Текст : непосредственный.Hugo D.von Einfluss des delokalisierten Anregungsprozesses bei der Bestimmung von Fremdatompositionen mit Hilfe des Channeling Effekts : Diss. / D.von Hugo, 1989. - 86 S. - Текст : непосредственный.Электронная микроскопия и прочность материалов : Сб. науч. тр. / АН УССР.Ин-т проблем материаловедения им.И.Н.Францевича,Науч.совет АН УССР по пробл."Физика твердого тела", 1991. - 134 с. - Текст : непосредственный.Дюков В.Г. Электронная микроскопия локальных потенциалов / В. Г. Дюков, С. А. Непийко, Н. Н. Седов, 1991. - 198 с. - Текст : непосредственный.Advances in optical and electron microscopy. Vol. 11, 1989. - XI, 185 p. 185 p. - Текст : непосредственный.Reimer L. Transmission electron microscopy:Physics of image formation and microanalysis / L.Reimer, 1989. - XIII, 547 p. 547 p. - Текст : непосредственный.Olsen A. CTF. BAS Ver 1.1 : A Basic program for an IBM PC compatible computer for drawing the weak phase object contrast transfer function / A.Olsen,P.Skjerpe, 1989. - 6 p. - Текст : непосредственный.Орелович О.Л. Приемы препарирования образцов трековых мембран для растровой электронной микроскопии / О.Л.Орелович,П.Ю.Апель, 2000. - 8 с. - Текст : непосредственный.Просвечивающая и растровая электронная микроскопия : Учеб. пособие для студентов по спец. 551600, 071000 / В.И.Темных,Г.М.Зеер,Е.М.Артемьев и др., 2000. - 80 с. - Текст : непосредственный.Электронная микроскопия и прочность материалов : Сб. науч. тр. / АН УССР. Ин-т пробл. материаловедения им.И.Н.Францевича, 1989. - 190 с. - Текст : непосредственный.Сороко Л.М. Мезооптический микроскоп как томографические устройство / Л.М.Сороко;Объед. ин-т ядер. исслед., 1989. - 12 с. - Текст : непосредственный.Основы аналитической электронной микроскопии / Под ред. Д.Д.Грена и др.; Пер. с англ. под ред. М. П. Усикова, 1990. - 584 c. - Текст : непосредственный.Трофимов О.Е. Об одном способе численного восстановления изображения по многоракурсной томограмме / О.Е.Трофимов,Л.В.Тюренкова, 1989. - 16 c. - Текст : непосредственный.Петров, В. И. Сканирующая микроскопия. Ч. 1, 2001. - 108 с. - Текст : непосредственный.Грудин Б.Н. Моделирование и анализ изображений в электронной и оптической микроскопии / Б. Н. Грудин, В. С. Плотников, В. К. Фищенко, 2001. - 221 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыАнтонов А.П. Исследование и разработка методов,алгоритмов и устройств управления съемом и предварительной обработки информации в сканирующем туннельном микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.05 / А. П. Антонов, 1996. - 17 с. - Текст : непосредственный.Литвинов В.Л. Исследование и разработка методов и алгоритмов предварительной обработки изображений в задачах электронной микроскопии : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.01 / В. Л. Литвинов, 1997. - 16 с. - Текст : непосредственный.Рехвиашвили С.Ш. Силовые взаимодействия и зонды в атомно-силовом микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук:01.04.07 / С. Ш. Рехвиашвили, 1999. - 19 с. - Текст : непосредственный.Горбенко О.М. Автосигнализация отражений твердотельных наноструктур и биологических клеток в сканирующей зондовой и световой оптической микроскопии : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук: 01.04.01 / О. М. Горбенко, 2000. - 18 с. - Текст : непосредственный.Шелковников Е.Ю. Исследование метрологических характеристик сканирующего туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук: 05.11.13 / Е. Ю. Шелковников, 2000. - 20 с. - Текст : непосредственный.Гуляев П.В. Разработка и исследование пьезоэлектрических устройств и методов управления ими в сканирующем туннельном микроскопе для изучения кластерных материалов : автореф. дис. .. канд. техн. наук : 05.11.13 / П. В. Гуляев, 2003. - 20 с. - Текст : непосредственный.Новиков Ю.А. Physical principles of the linewidth measurement of submicron relief structures / Ю.А.Новиков,А.В.Раков, 1995. - 16 p. - Текст : непосредственный.Новиков Ю.А. Измерение диаметра электронного зонда РЭМ, ПРЭМ и электронных литографов / Ю. А. Новиков, А. В. Раков, И. Ю. Стеколин, 1995. - 23 c. - Текст : непосредственный.Bierwolf R. Ein Verfahren zur quantitativen Bestimmung von Abbildungsparametern und zur Rekonstruktion der Austrittswellenfunktion in der hochauflosenden Elektronenmikroskopie : Diss / R.Bierwolf, 1995. - 140 S. - Текст : непосредственный.Koltun R. Aufbau eines Ultrahochvakuum-Rastertunnelmikroskops und Untersuchungen des magnetischen Kontrasts auf atomarer und Mikrometer-Skala : Diss. / R.Koltun, 1995. - 120 S. - Текст : непосредственный.Kaltenbrunner K. Entwicklung und Bau eines Tieftemperatur-Ultrahochvakuum-Niedervolt-Projektionselektronenmikroskops : Diss. / K.Kaltenbrunner, 1994. - 125 S. - Текст : непосредственный.Skjerpe P. CRYSTAL.EXE 2.0 a FORTRAN program for an IBM PC compatible computer for calculating kinematical electron diffraction patterns : Diazocopy / P.Skjerpe, 1989. - 23 мкфш. - Текст : непосредственный.Muller M. Raster - Tunnelmikroskop zur Messung lokaler Materialfehler : Diss. / M.M@:uller, 1990. - 90 S. - Текст : непосредственный. Lenc M. Immersion objective lenses in electron optics : Diss. / M.Lenc, 1992. - 82 p. - Текст : непосредственный.Солдатенко Г.А. Объектив электронного микроскопа на постоянных магнитах / Г.А.Солдатенко, 1991. - 28 с. - Текст : непосредственный.Kaczmarek D. Rekonstrukcja obrazu powierzchni probki w elektronowym mikroskopie skaningowym za pomoca elektronow wstecznie rozproszonych / D.Kaczmarek, 1999. - 110 s. - Текст : непосредственный.Zach J. Entwurf und Berechnung eines hochauflosenden Niederspannungs-Rasterelektronenmikroskops : Diss. / J.Zach, 1989. - 72 S. - Текст : непосредственный.Namba S. Microscopic construction electronics / S.Namba. - VII,522 p. p. - Текст : непосредственный.Gloede W. Vom Lesestein zum Elektronenmikroskop / W.Gloede, 1986. - 248 S. - Текст : непосредственный.Bleeker A.J. Optical and mechanical design for 1 nm resolution auger spectroscopy in an electron microscope : Diss. / A.J.Bleeker, 1991. - Pag.var. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыЗаказ фрагмента документа ₽