Приложение
для AndroidПолное описание
Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2016 (МЭС-2016) : VII Всерос. науч.-техн. конф., 3-7 окт. 2016 г., Москва : сб. тр. / Ин-т проблем проектирования в микроэлектронике Рос. акад. наук. - М. : ИППМ РАН, 2016 - . - Описано по обл. - ISSN 2078-7707. - Текст : непосредственный.
Ч. 4 : Проектирование электронной компонентной базы. Проектирование радиационно-стойких СБИС и элементов для космической техники. Элементы памяти и сенсорные устройства на обнове магнитных и магнитотранспортных свойств материалов. - 2016. - 246 с. : ил. - Текст рус., англ. - Библиогр. в конце ст. - 250 экз. - ISBN 978-5-903559-46-7 : 260 р.
| ГРНТИ | УДК | |
| 47.14.07 | 621.3.049.76-047.56(062) | |
| 621.384-022.532-047.56(062) |
Рубрики:
Микроэлектронные приборы -- Проектирование -- Съезды и конференции
Наноэлектронные устройства -- Проектирование -- Съезды и конференции
Доп. точки доступа:
Институт проблем проектирования в микроэлектронике(Москва)
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Стекольников А.Ф. Численное моделирование процессов в корпускулярно-оптических системах и реакторных камерах оборудования для модификации поверхностных свойств материалов : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат.наук:05.27.02 / А. Ф. Стекольников, 1993. - 35 с. - Текст : непосредственный.Руководство для администратора системы Омнибодс / ВЦП. - 122 c. - Текст : непосредственный.Шевкун И.М. Автоматизация терхмерного моделирования элементов микроэлектронных структур : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наука:05.13.16 / И. М. Шевкун, 1993. - 19 с. - Текст : непосредственный.Муратов А.В. Моделирование и алгоритмизация процесса опережающего теплофизического проектирования в САПР микроэлектронных устройств и аппаратуры : Диссертация на соискание ученой степени д-ра техн. наук в форме науч. докл.:05.13.12 / А. В. Муратов, 1993. - 33 с. - Текст : непосредственный.Кодзасова Т.Л. Автоматизация проектирования герметиков заданной надежности для изделий электронной техники : автореф. дис. .. канд. техн. наук : 05.13.12 / Т. Л. Кодзасова, 2003. - 24 с. - Текст : непосредственный.Олендский О.З. Моделирование воздействия внешних электромагнитных полей на элементы наноструктур : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:05.13.16 / О. З. Олендский, 1993. - 15 с. - Текст : непосредственный.Манукян К.П. Методы построения моделей чувствительности и их применение в САПР средств контроля : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.12,05.13.16 / К. П. Манукян, 1993. - 19 с. - Текст : непосредственный.Шишкин В.М. Прогнозирование и оптимизация серийноспособности схем в интегрированной САПР микроэлектронных устройств : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн.наук:05.13.12 / В. М. Шишкин, 1995. - 33 с. - Текст : непосредственный.Власов С.Е. Разработка системы проектирования гибких полиимидных носителей на базе геометрических методов трассировки : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук: 05.13.12 / С. Е. Власов, 1995. - 24 с. - Текст : непосредственный.Идея "бессеточной" многоступенчатой трассировки печатных плат со смешанным завершенным монтажом / ВЦП. - 21 c. - Текст : непосредственный.Язык - посредник для описания вентильных матриц (GAIL). В 5-ти кн. / ВЦП.Минская ред. - 292 c. - Текст : непосредственный.Питолин В.М. Алгоритмизация и моделирование надежностного схемотехнического проектирования аналоговых микроэлектронных устройств в рамках интегрированной САПР : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн. наук: 05.13.12 / В. М. Питолин, 1997. - 32 с. - Текст : непосредственный.Рыбаков В.В. Разработка подсистемы САПР тестопригодного проектирования СБИС и МЭА : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.12 / В. В. Рыбаков, 1997. - 25 с. - Текст : непосредственный.Зенин В.В. Обеспечение качества микросоединений в полупроводниковых изделиях в процессе их разработки и серийного производства : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн.наук:05.27.01 / В. В. Зенин, 1997. - 32 с. - Текст : непосредственный.Нисков В.Я. Разработка конструктивно-технологических методов создания высококачественных изделий кремниевой микроэлектроники : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн. наук:05.27.01 / В. Я. Нисков, 1998. - 34 с. - Текст : непосредственный.Бакшеев Д.Г. Моделирование влияния пространственных неоднородностей потенциала, высокочастотных полей и кулоновской блокады на электронный транспорт в наноструктурах : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук: 05.13.16 / Д. Г. Бакшеев, 1998. - 19 с. - Текст : непосредственный.Евсиков И.А. Применение спектральных методов линейной декомпозиции для синтеза на современной элементной базе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук: 05.13.05 / И. А. Евсиков, 1998. - 16 с. - Текст : непосредственный.Гладков Л.А. Разработка и исследование генетических алгоритмов определения планарности схем ЭВА : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.12 / Л. А. Гладков, 1999. - 15 с. - Текст : непосредственный.Мещеряков М.В. Оптимизация функциональных параметров аналоговых микросхем на этапе конструкторско-топологического проектирования : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук: 05.13.12 / М. В. Мещеряков, 1998. - 16 с. - Текст : непосредственный.Петров В.Н. Программно-аппаратный комплекс измерения и идентификации параметров схемотехнических моделей полупроводниковых структур : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук: 05.12.17 / В. Н. Петров, 1998. - 18 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыПроблемы разработки перспективных микроэлектронных систем-2005 : всерос. науч.-техн. конф. : сб. тр. / Под общ. ред. А.Л. Стемпковского, 2005. - 537 с. - Текст : непосредственный.Проблемы разработки перспективных микроэлектронных систем - 2006 : II Всерос. научно-техн. конф.(МЭС-2006), 09-13 октября 2006 г. : сб. тр. / Институт проблем проектирования в микроэлектронике (Москва), 2006. - 452 с. - Текст : непосредственный.Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2008 : III Всерос. науч.-техн. конф., 6-10 окт. 2008 : сб. тр. / Институт проблем проектирования в микроэлектронике (Москва), 2008. - 550 с. - Текст : непосредственный.Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2010 (МЭС-2010) : IV Всерос. науч.-техн. конф. : сб. тр. / Институт проблем проектирования в микроэлектронике (Москва), 2010. - 694 с. - Текст : непосредственный.Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2012 (МЭС-2012) : V Всерос. науч.-техн. конф., 08-12 окт. 2012 г. : сб. тр., 2012. - 716 с. - Текст : непосредственный.Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2014 (МЭС-2014) : VI Всерос. науч.-техн. конф., 29 сент. - 03 окт. 2014 г., Москва (Зеленоград) : сб. тр. Ч. 2 : Верификация и тестирование на верхнем уровне. Приборно-технологическое моделирование, 2014. - 206 с.Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2014 (МЭС-2014) : VI Всерос. науч.-техн. конф., 29 сент. - 03 окт. 2014 г., Москва (Зеленоград) : сб. тр. Ч. 4 : Проектирование цифровых функциональных блоков СБИС и систем на кристалле. Цифровая обработка сигналов. Нетрадиционная арифметика, 2014. - 195 с.Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2014 (МЭС-2014) : VI Всерос. науч.-техн. конф., 29 сент. - 03 окт. 2014 г., Москва (Зеленоград) : сб. тр. Ч. 3 : Проектирование аналоговых и смешанных функциональных блоков СБИС. Проектирование радиационно-стойких СБИС, 2014. - 210 с.Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2014 (МЭС-2014) : VI Всерос. науч.-техн. конф., 29 сент. - 03 окт. 2014 г., Москва (Зеленоград) : сб. тр. Ч. 1 : Моделирование характеристик СБИС, 2014. - 190 с.Problems of advanced micro- and nanoelectronic systems development (MES) : proceedings of VI All-Russia Science&Technology Conference MES-2014 : Extended abstracts / Institute for design problems in microelectronics of Russian academy of sciences. Pt. 1 : Simulation of VLSI characteristics, 2015. - 46 p.Problems of advanced micro- and nanoelectronic systems development (MES) : proceedings of VI All-Russia Science&Technology Conference MES-2014 : Extended abstracts / Institute for design problems in microelectronics of Russian academy of sciences. Pt. 2 : Methods for high-level simulation. Methods of device technology simulation, 2015. - 51 p.Problems of advanced micro- and nanoelectronic systems development (MES) : proceedings of VI All-Russia Science&Technology Conference MES-2014 : Extended abstracts / Institute for design problems in microelectronics of Russian academy of sciences. Pt. 3 : Design of analog and mixed VLSI IP-blocks. Design of radiation-resistant VLSI circuits, 2015. - 57 с.Problems of advanced micro- and nanoelectronic systems development (MES) : proceedings of VI All-Russia Science&Technology Conference MES-2014 : Extended abstracts / Institute for design problems in microelectronics of Russian academy of sciences. Pt. 4 : Design of system-on-chip (SoC) and IP-blocks. Digital signal processing. Unconventional cpmputing systems, 2015. - 46 с.Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2016 (МЭС-2016) : VII Всерос. науч.-техн. конф., 3-7 окт. 2016 г., Москва : сб. тр. / Ин-т проблем проектирования в микроэлектронике Рос. акад. наук. Ч. 2 : Верификация и тестирование. Высокопроизводительные вычислительные микроэлектронные системы, 2016. - 281 с.Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2016 (МЭС-2016) : VII Всерос. науч.-техн. конф., 3-7 окт. 2016 г., Москва : сб. тр. / Ин-т проблем проектирования в микроэлектронике Рос. акад. наук. Ч. 3 : Проектирование аналоговых и смешанных функциональных блоков СБИС. Проектирование цифровых функциональных блоков подсистем СБИС, 2016. - 248 с.Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2016 (МЭС-2016) : VII Всерос. науч.-техн. конф., 3-7 окт. 2016 г., Москва : сб. тр. / Ин-т проблем проектирования в микроэлектронике Рос. акад. наук. Ч. 1 : Моделирование характеристики СБИС. Цифровая обработка и кодирование сигналов, 2016. - 279 с.Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2016 (МЭС-2016) : VII Всерос. науч.-техн. конф., 3-7 окт. 2016 г., Москва : сб. тр. / Ин-т проблем проектирования в микроэлектронике Рос. акад. наук. Ч. 4 : Проектирование электронной компонентной базы. Проектирование радиационно-стойких СБИС и элементов для космической техники. Элементы памяти и сенсорные устройства на обнове магнитных и магнитотранспортных свойств материалов, 2016. - 246 с.Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС) : сб. избр. трудов на англ. яз. VII Всерос. науч.-техн. конф. МЭС-2016 : [в 4 ч.] / Ин-т проблем проектирования в микроэлектронике Рос. акад. наук. Ч. 3, 2017. - VI,72 с. - Текст : непосредственный.Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС) : сб. избр. тр. на англ. яз. VII Всерос. науч.-техн. конф. МЭС-2016 : [в 4 ч.] / Ин-т проблем проектирования в микроэлектронике Рос. акад. наук. Ч. 4, 2017. - VI,67 с. - Текст : непосредственный.Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС) : сб. избр. тр. на англ. яз. VII Всерос. науч.-техн. конф. МЭС-2016 : [в 4 ч.] / Ин-т проблем проектирования в микроэлектронике Рос. акад. наук. Ч. 1, 2017. - VII,71 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыЗаказ фрагмента документа ₽