Приложение
для AndroidПолное описание
Asian test symposium (1 ; 1992 ; Hiroshima). First Asian test symposium,Nov.26-27,1992,Hiroshima : proc. / ATS'92. - Los Alamitos, Ca [etc.] : IEEE computer soc. press, 1992. - X,259 p. p. : ill. - (IEEE publications / Inst.of electrical and electronics engineers, ISSN 0149-144X ; 92THO458-0). - ISBN 0-8186-2985-1 : 66000 р. - Текст : непосредственный.
Библиогр.в конце статей.Указ.в конце книги
| ГРНТИ | УДК | |
| 47.33 | 621.384.001.4(063) | |
| 47.01.13 |
Рубрики:
Электронные приборы -- Испытание -- Съезды и конференции
Имеются экземпляры в отделах: всего 3 : ХР (1), (2)
Свободны: ХР (1), (2)
Копия:
Digest of papers of the 10th IEEE symp.on mass storage systems,May 7-10,1990,Monterey(Ca) / Symposium on mass storage systems (10 ; 1990 ; Monterey,Ca) , 1990. - XII,172 p. мкф. - Текст : непосредственный.Proceedings of the 1990 IEEE international conference on computer design VLSI in computers and processors,Sept.17-19,Cambridge / ICCD'90, 1990. - XX,474 p. мкф. - Текст : непосредственный.IEEE international conference on systems engineering ,New york ,Aug.9-11,1990 / International conference on systems engineering (1990 ; New York) , 1990. - 640 мкф. - Текст : непосредственный.Proceedings of the 17th annual international symposium on computer architecture,May 28-31,1990,Seattle(Wa) / International symposium on computer architecture (17 ; 1990 ; Seattle,Wa) , 1990. - XV,378 p. мкф. - Текст : непосредственный.Black U.X. X.25 and related protocols / U.X.Black, 1991. - 287 p. - Текст : непосредственный.Hard real-time systems / ed. J. A. Stankovic, ed. K. Ramamritham, 1988. - VI,618 p. p. - Текст : непосредственный.Database management : Tutorial / ed. J. A. Larson, 1987. - VI,440 p. p. - Текст : непосредственный.Modeling and control of automated manufacturing systems / сост.ed. A. A. Desrochers, 1990. - VIII,373 p. p. - Текст : непосредственный.Computer and network security : Tutorial / comp. M. D. Abrams, comp. H. J. Podell, 1987. - VII,430 p. p. - Текст : непосредственный.Tutorial on advanced microprocessors and high-level language computer architecture / сост.ed. V. Milutinovic, 1986. - X,597 p. p. - Текст : непосредственный.Tutorial:Fault tolerant computing / ed. V. P. Nelson, ed. B. D. Carroll, 1987. - VII,419 p. p. - Текст : непосредственный.Tutorial programing productivity : Issues for the eighties / сост.ed. C. Jones, 1986. - XI,462 p. p. - Текст : непосредственный.Tutorial:computer communications:architectures,protocols,and standards / ed. W. Stallings, 1987. - VII,439 p. p. - Текст : непосредственный.Computers for artificial intelligence applications : Tutorial / ed. B. Wah, ed. G. -J. Li, 1986. - VIII,648 p. p. - Текст : непосредственный.Tutorial:Digital private branch exchanges(PBXs) / ed. E. R. Coover, 1989. - IX,381 p. p. - Текст : непосредственный.Tutorial:distributed-software engineering / ed. S. M. Shatz, ed. J. -P. Wang, 1989. - IX,279 p. p. - Текст : непосредственный.Tutorial : Computer graphics:image synthesis / ed. K. I. Joy, 1988. - VII,368 p. p. - Текст : непосредственный.Huck J.C. Analyzing computer architectures / J.C.Huck,M.J.Flynn, 1989. - XIII,188 p. p. - Текст : непосредственный.Tutorial:gallium arsende computer design / ed. V. M. Milutinovi@wc, ed. D. A. Fura, 1988. - VI,354 p. p. - Текст : непосредственный.Distributed computing systems : Concepts and structures / ed. A. L. Ananda, ed. B. Srinivasan, 1991. - VII,404 p. p. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыКонтактное сопротивление в системах YBa2Cu307-b-пленка металла / ВЦП. - 12 с. - Текст : непосредственный.Нитрид алюминия и область его применения / ЦНИИТЭСТРОЙМАШ. - 14 с. - Текст : непосредственный.Схема разработки топологии СБИС / ВЦП МР. - 17 с. - Текст : непосредственный.Многополюсная модель схемы для оценок потери излучения и паразитной связи между нарушениями непрерывности в микрополосковых церях / ВЦП КР. - 16 с. - Текст : непосредственный.Плюсы и минусы полифенилхининоксалина (ПФХ) / ВЦП. - 11 c. - Текст : непосредственный.Исследования в области ИС ЗУ различных видов и поколений. Выбор ИС при проектировании систем и указания по их применению. Ч.3,4 / ВЦП. - 107 c. - Текст : непосредственный.Технические данные / ВЦП. - 48 c. - Текст : непосредственный.Мультиплексный тестер жидких кристаллов / ВЦП. - 26 c. - Текст : непосредственный.Семь ключевых защитных модулей фирмы MTL Inc. для обеспечения собственной безопасности электронных устройств / ВЦП. - 26 c. - Текст : непосредственный.Фиксаторный конвертер для внутрисхемного тестирования плат р/п 2260-3360 и -3560. Фиксаторы 2270 и 2276 к рабочей станции по проверке плат / ВЦП. - 52 c. - Текст : непосредственный.Преобразователь контрольного приспособления для внутрисхемных испытаний N 2260-3315 / ВЦП. - 36 c. - Текст : непосредственный.Преобразователь контрольного приспособления для внутрисхемных испытаний N 2260-3325 / ВЦП. - 34 c. - Текст : непосредственный.Преобразователь контрольного приспособления для внутрисхемных испытаний NN 2260-3329 и 2260-3526 / ВЦП. - 53 c. - Текст : непосредственный.Конвертер для устройства тестирования плат / ВЦП. - 34 c. - Текст : непосредственный.Левицкий Д.О. Методы логико-динамического и логико-структурного диагностирования матричных КМОП БИС : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.12 / Д. О. Левицкий, 1991. - 25 с. - Текст : непосредственный.Ефанов В.А. Организация процесса трассировки матричных БИС и СБИС : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.13:05.13.12 / В. А. Ефанов, 1991. - 22 с. - Текст : непосредственный.Анаров Н. Эпитаксиальные пленки селенида цинка и гетероструктуры на их основе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.10 / Н. Анаров, 1991. - 22 с. - Текст : непосредственный.Аль-Яхья А. Фотоэлектрические свойства фосфида галлия и арсенида галлия,легированных изоэлектронными примесями : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.10 / А. Аль-Яхья, 1991. - 13 с. - Текст : непосредственный.Абдуллаев Х.О. Исследование электрических и фотоэлектрических свойств фоточувствительных структур в системах GaAs-AlGaAs и InP -InGaAs со встроенным потенциальным барьером : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ-мат.наук:01.04.10 / Х. О. Абдуллаев, 1991. - 16 с. - Текст : непосредственный.Харламова И.Ю. Напряженно-деформированное состояние тонких кольцевых пластин при локальном нагреве внутренними источниками тепла : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.23.17 / И. Ю. Харламова, 1991. - 18 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыInternational test conference,Oct.26-30,1991,Nashville(TN):Proc. / ITC, 1991. - XIV,1135 p. p. - Текст : непосредственный.First Asian test symposium,Nov.26-27,1992,Hiroshima : Proc. / ATS'92, 1992. - X,259 p. p. - Текст : непосредственный.2nd European test conference Munich,Apr.10-12,1991 : Proc. / ETC'91, 1991. - 532 p. - Текст : непосредственный.Proceedings of the international test conference,Washington,sept.1990 / ITC, 1990. - XIV,1083 p. мкф. - Текст : непосредственный.Electron and optical beam testing of electronic devices : Proc.of the 3rd Europ.conf.on electron and optical beam testing of electronic devices,Sept.1-3,1993,Zurich / ed. A. Birolini, 1994. - XIII,442 p. p. - Текст : непосредственный.Electron and optical beam testing of electronic devices : Proc.of the 5th European conf.on electron..Aug.27-30,1995,Wuppertal,Germany / ed. E. Wolfgang, 1996. - XII,432 p. p. - Текст : непосредственный.Proceedings.:Intern.test conf. Aug.29-31,1989 Washington(DC) / International test conference (1989 ; Washington,DC) , 1989. - XXXIV,959 p. мкф. - Текст : непосредственный.New frontiers in testing : Intern.test conf.,Sept.12-14, 1988,Washington(DC): Proc. / ITC, 1988. - xxx,1005 p. p. - Текст : непосредственный.Integration of test with desigh and manufacturing : Intern.test conf.Sept.1-3,1987,Washington(DC):Proc. / ITC, 1987. - XXXI,1151 p. p. - Текст : непосредственный.Design, automation and test in Europe : Conference and exhibition, Munich, March 13-16, 2001: Proc. / Ed. W. Nebel, 2001. - XXXVI, 829 p. 829 p. - Текст : непосредственный.Proceedings of the seventh international on-line testing workshop, 9-11 July 2001, Giardini Naxos, Taormina, Italy / IOLTW 2001, 2001. - XI,228 p. p. - Текст : непосредственный.Proceedings of the IEEE European test workshop, ETW 2001, 29 May - June 2001, Stockholm, Sweden / Spons. by IEEE Computer soc. test technology council (TTTC) Link@:oping univ. (LiU), 2001. - XII,147 p. p. - Текст : непосредственный.Республиканская научно-техническая конференция "Проблемы автоматизации контроля электронных устройств" : г.Винница, 13-15 нояб. 1990 г.:Тез. докл. Вып. 1 : Методы и средства диагностирования цифровых устройств, 1990. - 61 c. - Текст : непосредственный.Республиканская научно-техническая конференция "Проблемы автоматизации контроля электронных устройств" : г.Винница, 13-15 нояб. 1990 г.:Тез. докл. Вып. 3 : Вопросы автоматизации контрольно-диагностических процедур, 1990. - 59 с. - Текст : непосредственный.
Заказ фрагмента документа ₽