Приложение
для AndroidПолное описание
Scanning tunneling microscopy / Ed.:R.Wiesendanger, H.J.Guntherodt. - Berlin [etc.] : Springer. - Текст : непосредственный.
Pt. 2 : Further applications and related scanning techniques. - 1992. - XI,308 p. p. : ill. - (Springer series in surface sciences ; n 28). - ISBN 3-540-54555-7 : 60000 р., 35000 р.
Библиогр.:с.300-302.Указ.:с.303-308
| ГРНТИ | УДК | |
| 29.35.43 | 537.533.35 |
Рубрики:
Микроскопия туннельная
Имеются экземпляры в отделах: всего 4 : ХР (1), ПНТ (1), (2)
Свободны: ХР (1), ПНТ (1), (2)
Копия:
Stohr J. NEXAFS spectroscopy / J.Stohr, 1992. - XV,403 p. p. - Текст : непосредственный.Helium atom scattering from surfaces / сост.ed. E. Hulpke, 1992. - XIV,323 p. p. - Текст : непосредственный.Scanning tunneling microscopy / Ed.:R.Wiesendanger, H.J.Guntherodt. Pt. 2 : Further applications and related scanning techniques, 1992. - XI,308 p. p. - Текст : непосредственный.Scanning tunneling microscopy : Intern.colloquium on scanning tunneling microscopy,held in Hirosima,9-11 Dec.1993 / Ed. A. Kawazu, 1994. - V,3657-3790,11 p. p. - Текст : непосредственный.Scanning tunneling microscopy / Ed.:R.Wiesendanger, H.J.Guntherodt. Pt. 3 : Theory of STM and related scanning probe methods, 1993. - XV,375 p. p. - Текст : непосредственный.Surface analysis methods in materials science / сост.ed D. J. O'Connor, 1992. - XXI,453 p. p. - Текст : непосредственный.Adsorption on ordered surfaces of ionic solids and thin films : Proc.of the 106th WE-heraeus seminar,Bad Honnef,Feb.15-18,1993 / ed. H. -J. Freund, ed. E. Umbach, 1993. - X,291 p. p. - Текст : непосредственный.Surface reactions / ed. R. J. Madix, 1994. - XII,282 с. - Текст : непосредственный.Scanning tunneling microscopy : 2nd intern.colloquium on scanning tunneling microscopy,held in Kanazawa,Dec.8-10,1994 / Ed. A. Kawazu, 1995. - 3309-3411 p. p. - Текст : непосредственный.Scanning tunneling microscopy : Papers were presented at the inten. colloquium on scanning tunneling microscopy,Kanazawa,Dec.7-9,1995 / Ed. S. Hosoki, 1996. - 3695-3797 p. p. - Текст : непосредственный.Scanning tunneling microscopy : Sixth intern. colloquium on scanning tunneling microscopy was held at Atagawa Haitsu, Shizuoka, from Dec.10-12, 1998 / Ed. S. Hosoki, 1999. - 3805-3965,/13/ p. p. - Текст : непосредственный.Surface phonons / ed. W. Kress, ed. F. W.de Wette, 1991. - 301 p. - Текст : непосредственный.Lannoo M. Atomic and electronic structure of surfaces : Theoretical foundations / M.Lannoo,P.Friedel, 1991. - XII,256 p. p. - Текст : непосредственный.structure of surfaces III : Proc.of the 3rd intern.conf.,Milwaukee (Wi), July 9-12, 1990 / ICSOS III, 1991. - XVIII,683 p. p. - Текст : непосредственный. Adhesion and friction : Proc.of the 3 intern.conf.interface phenomena, Halifax, Aug.23-27, 1988 / ed.: M. Grunze, H. J. Kreuzer, 1989. - VII, 129 p. 129 p. - Текст : непосредственный.Desorption induced by electronic transitions : Proc. of the 4th intern. workshop, Gloggnitz, Oct. 2-4, 1989 / ed.: G. Betz, P. Varga, 1990. - XIV, 392 p. 392 p. - Текст : непосредственный.Auger spectroscopy and electronic structure : Proc.of the first intern. workshop, Messina Sept.10- 14, 1988 / Ed. G. Gubiotti, 1989. - X, 277 p. 277 p. - Текст : непосредственный.Chemistry and physics of solid surfaces / Ed.:R.Vanselow, R.Howe. Pt. 8, 1990. - XV, 464 p. 464 p. - Текст : непосредственный.Stenzel O. The physics of thin film optical spectra : an introduction / O. Stenzel, 2005 r=on-line.Shimizu K. New horizons of applied scanning electron microscopy / K. Shimizu, T. Mitani, 2010 r=on-line.
Показать все результатыРастровый туннельный микроскоп с широким растром наблюдения / Ин-т сверхтвердых материалов. - 18 с. - Текст : непосредственный.Давыдов Д.Н. Низкотемпературная сканирующая туннельная микроскопия : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.01 / Д. Н. Давыдов, 1991. - 18 с. - Текст : непосредственный.Лобкис О.И. Дифракционные эффекты и формирование изображения в акустическом микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ-мат.наук:01.04.06 / О. И. Лобкис, 1991. - 20 с. - Текст : непосредственный.Стрепетов А.Н. Формирование и регистрация изображения в нейтронном микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.16 / А. Н. Стрепетов, 1991. - 29 с. - Текст : непосредственный.Рабинович В.Б. Пути повышения сборочно-юстировочной технологичности конструкций световых микроскопов : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.11.07 / В. Б. Рабинович, 1991. - 21 с. - Текст : непосредственный.Тавров А.В. Экспериментальная регистрация субмикронных структур поверхности на компьютерном фазовом микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.27.03 / А. В. Тавров, 1992. - 17 с. - Текст : непосредственный.Гавриков С.И. Электронно-микроскопические исследования окислов с использованием видеозаписи и цифровой обработки изображений : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:01.04.07 / С. И. Гавриков, 1992. - 16 с. - Текст : непосредственный.Стабилизатор луча 35-BST : Инструкции / ВЦП. - 13 c. - Текст : непосредственный.Инструкция по работе и описание электронного микроскопа JEM-100CX фирмы Джеол. Гл.5. Работа на приборе / ВЦП. - 194 c. - Текст : непосредственный.Инструкция по работе и описание электронного микроскопа JEM-100CX фирмы Джеол. Гл. 6. Обслуживание / ВЦП. - 206 c. - Текст : непосредственный.Система "МГВ АУТОМАТИК" : Информация по техн.обслуживанию / ВЦП. - 119 c. - Текст : непосредственный.Информация по обслуживанию автоматического устройства "MVG Automatik" / ВЦП. - 193 c. - Текст : непосредственный.Электронный микроскоп модель JEM-2000EX/FX : Спецификация деталей / ВЦП.Киев.ред. - 63 c. - Текст : непосредственный.Антонов А.П. Исследование и разработка методов,алгоритмов и устройств управления съемом и предварительной обработки информации в сканирующем туннельном микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.05 / А. П. Антонов, 1996. - 17 с. - Текст : непосредственный.Селектор изображений ИМС / ТПП Москвы. - 4 c. - Текст : непосредственный.Техника контроля и измерений с помощью электронных лучей / ТПП БССР. - 29 c. - Текст : непосредственный.Литвинов В.Л. Исследование и разработка методов и алгоритмов предварительной обработки изображений в задачах электронной микроскопии : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.01 / В. Л. Литвинов, 1997. - 16 с. - Текст : непосредственный.Рехвиашвили С.Ш. Силовые взаимодействия и зонды в атомно-силовом микроскопе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук:01.04.07 / С. Ш. Рехвиашвили, 1999. - 19 с. - Текст : непосредственный.Горбенко О.М. Автосигнализация отражений твердотельных наноструктур и биологических клеток в сканирующей зондовой и световой оптической микроскопии : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук: 01.04.01 / О. М. Горбенко, 2000. - 18 с. - Текст : непосредственный.Мурясов Р.Р. Вопросы теории туннелирования электронов в СТМ : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук: 01.04.17 / Р. Р. Мурясов, 2000. - 20 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыScanning tunneling microscopy / Ed.:R.Wiesendanger, H.J.Guntherodt. Pt. 2 : Further applications and related scanning techniques, 1992. - XI,308 p. p. - Текст : непосредственный.Scanning tunneling microscopy / Ed.:R.Wiesendanger, H.J.Guntherodt. Pt. 3 : Theory of STM and related scanning probe methods, 1993. - XV,375 p. p. - Текст : непосредственный.Сканирующая туннельная микроскопия : Руководство пользователя / И.С.Суровцев,Л.А.Битюцкая,Д.С.Долгих,М.В.Мамута, 1997. - 42 с. - Текст : непосредственный.Springer series in optical sciences / ed. W. T. Rhodes [et al.]. 99 : Mono-cycle photonics and optical scanning tunneling microscopy. Route to femtosecond Angstrom technology / ed. M. Yamashita [et al.], 2005. - XX, 389 p. - Текст : непосредственный.Теория и практика измерений геометрических параметров ультрадисперсных частиц кластерных материалов сканирующим туннельным микроскопом / Е. Ю. Шелковников, 2008. - 250 с. - Текст : непосредственный.Андреева Н.В. Экспериментальные методы исследования. Методики туннельной и атомно-силовой микроскопии : учеб. пособие / Н. В. Андреева, П. Г. Габдуллин, А. М. Журкин, 2015. - 104 с.
Руколайне С.А. Прямые и обратные задачи количественного электронно-зондового микроанализа и просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:05.13.16 / С. А. Руколайне, 1994. - 15 с. - Текст : непосредственный.Роддатис В.В. Электронная микроскопия бикристаллов и пленок на бикристаллических и ступенчатых подложках : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук: 01.04.07 / В. В. Роддатис, 1999. - 19 с. - Текст : непосредственный.Мурясов Р.Р. Вопросы теории туннелирования электронов в СТМ : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук: 01.04.17 / Р. Р. Мурясов, 2000. - 20 с. - Текст : непосредственный.Лапшин Р.В. Объектно-ориентированное сканирование для зондовой микроскопии и нанотехнологии : автореф. дис. .. канд. техн. наук : 05.27.01 / Р. В. Лапшин, 2002. - 34 с. - Текст : непосредственный.Ruijter W.J.de Quantitative high-resolution electron microscopy and holography : Diss. / W.J.de Ruijter, 1992. - 167 p. - Текст : непосредственный.Scanning tunneling microscopy / Ed.:R.Wiesendanger, H.J.Guntherodt. Pt. 2 : Further applications and related scanning techniques, 1992. - XI,308 p. p. - Текст : непосредственный.Всесоюзное совещание по электронной микроскопии : Тез.докл. / Всесоюзное совещание по электронной микроскопии (4 ; 1963 ; Сумы) , 1960. - 39 c. - Текст : непосредственный.Scanning tunneling microscopy : Intern.colloquium on scanning tunneling microscopy,held in Hirosima,9-11 Dec.1993 / Ed. A. Kawazu, 1994. - V,3657-3790,11 p. p. - Текст : непосредственный.Scanning tunneling microscopy / Ed.:R.Wiesendanger, H.J.Guntherodt. Pt. 3 : Theory of STM and related scanning probe methods, 1993. - XV,375 p. p. - Текст : непосредственный.Scanning tunneling microscopy : 2nd intern.colloquium on scanning tunneling microscopy,held in Kanazawa,Dec.8-10,1994 / Ed. A. Kawazu, 1995. - 3309-3411 p. p. - Текст : непосредственный.Photons and local probes : Proc.of the NATO advanced research workshop on photons and local probes,Reichenau,Sept.11-17,1994 / ed. O. Marti, ed. R. M@:oller, 1995. - IX,360 p. p. - Текст : непосредственный.Forces in scanning probe methods : Proc.of the NATO advanced study inst.on forces in scanning probe methods Schluchsee,March 7-18,1994 / Ed. H.-J. Guntherodt, 1995. - XIII,644 p. p. - Текст : непосредственный.Papers from the eighth International conference on scanning tunneling microscopy/spectroscopy and related techniques / International conference on scanning tunneling microscopy/spectroscopy and related techniques (1996 ; New York) , 1996. - 585-1576 p. p. - Текст : непосредственный.Scanning tunneling microscopy : Papers were presented at the inten. colloquium on scanning tunneling microscopy,Kanazawa,Dec.7-9,1995 / Ed. S. Hosoki, 1996. - 3695-3797 p. p. - Текст : непосредственный.Миллер М. Зондовый анализ в автоионной микроскопии : Принципы и прил. в материаловеденииПер. с англ. под ред. А. Л. Суворова / М.Миллер,Г.Смит, 1993. - 301 с. - Текст : непосредственный.Scanning tunneling microscopy.Quantum dot structures : Papers presented at the 4th Intern.colloquium on scanning tunneling microscopy,Kanazawa,Dec.12-14,1996 / ed. S. Hosoki, 1997. - Pag.var. - Текст : непосредственный.Сканирующая туннельная микроскопия : Руководство пользователя / И.С.Суровцев,Л.А.Битюцкая,Д.С.Долгих,М.В.Мамута, 1997. - 42 с. - Текст : непосредственный.Proceedings / Multi-national congress on electron microskopy(1997;Portoroz). Pt. 1 : Microscopy applications in the life sciences, 1996. - 165-290 p. p. - Текст : непосредственный.Proceedings / Multi-national congress on electron microskopy(1997;Portoroz). Pt. 2 : Microscopy applications in the material science, 1997. - 68 p. - Текст : непосредственный.Proceedings / Multi-national congress on electron microskopy(1997;Portoroz). Pt. 3, 1997. - 126 p. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыЗаказ фрагмента документа ₽