Приложение
для AndroidПолное описание
Wustenhagen, V. Photoemissions- und photoneninduzierte Auger-Mikroskopie unter Verwendung von Undulatorstrahlung : Diss. / V.Wustenhagen. - Stuttgart : [s. n.], 1992. - 352 S. - Текст : непосредственный.
Библиогр.в конце книги
| ГРНТИ | УДК | |
| 31.15.25 | 543.428.2(043) |
Рубрики:
Оже-спектроскопия
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХР (1)
Свободны: ХР (1)
Спектрометр AtomScan-25 : Инструкция по эксплуатации, обслуживанию и уходу / ВЦП. - 453 c. - Текст : непосредственный.Спектрометр "Атомскан-25" : Руководство для оператора / ВЦП. - 356 c. - Текст : непосредственный.Справочник по спектрометрии индуктивно связанной плазмы / ВЦП. - 24 c. - Текст : непосредственный.Справочник по спектрометрии с индуктивно связанной плазмой. Гл.2. Аналитические характеристики / ВЦП. - 85 c. - Текст : непосредственный.Справочник по спектрометрии индуктивно связанной плазмы. Методы впрыскивания твердых образцов / ВЦП. - 27 c. - Текст : непосредственный.Руководство по спектрометрии индуктивно-связанной плазмы. 3. Оборудование для ИСП-АЭС / ВЦП. - 71 c. - Текст : непосредственный.Руководство по эксплуатации спектрофотометра "CADAS 100" (LPG 210) / ВЦП. - 98 c. - Текст : непосредственный.Калибровка Х40. Процедура полного количественного анализа / ВЦП. - 28 c. - Текст : непосредственный.Щелевая трубчатая атомная ловушка (STAT) типа PU-9035/01 : Руководство для потребителя / ВЦП. - 18 c. - Текст : непосредственный.Проспект спектрометра PU 9200 фирмы Филипс / ВЦП. - 45 c. - Текст : непосредственный.Проспект спектрометра PU 9400 фирмы Филипс / ВЦП. - 42 c.:ил. - Текст : непосредственный.Спектроанализатор JY38 PLUS с плазменной горелкой ICP / ВЦП. - 27 c. - Текст : непосредственный.Химия низких температур.4.4 / ВЦП. - 19 c. - Текст : непосредственный.Анализатор элементов EА 1108 : Руководство по эксплуатации / ВЦП. - 68 c. - Текст : непосредственный.Инструкция по работе и описание атомно-абсорбционного спектрофотометра модели 3030В фирмы Перкин-Элмер. Гл.8. Работа блока управления горелкой с цифровым отсчетом. Гл.9-12 / ВЦП. - 154 c. - Текст : непосредственный.Аналитическая атомно-абсорбционная спектрометрия в печи фирмы Перкин-Элмер / ВЦП. - 244 с. - Текст : непосредственный.Графитовая печь HGA-600 : Руководство для оператора по техн.оснащению / ВЦП. - 47 c. - Текст : непосредственный.Инструкция по работе и описание атомно-абсорбционного спектрофотометра модели 3030В фирмы Перкин-Элмер. Гл.13.Диагностика и устранение неисправностей. Гл.14. Приложения 1-4 / ВЦП. - 128 с. - Текст : непосредственный.Арцебашев Г.В. Оптимизация и метрологическое обоснование одновременного определения концентраций в многокомпонентных системах неселективными методами(фотометрия,каталиметрия,флуориметрия) : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.хим.наук:02.00.02 / Г. В. Арцебашев, 1991. - 19 с. - Текст : непосредственный.Сиденко Р.И. Теоретическое исследование процесса разделения многокомпонентных смесей изотопномодифицированных молекул в каскадах при наличии изотопного обмена : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:01.04.14 / Р. И. Сиденко, 1991. - 20 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыWustenhagen V. Photoemissions- und photoneninduzierte Auger-Mikroskopie unter Verwendung von Undulatorstrahlung : Diss. / V.Wustenhagen, 1992. - 352 S. - Текст : непосредственный.Valeri S. Auger electron spectroscopy for structural studies / S.Valeri,A.Di Bona, 1993. - 73 p. - Текст : непосредственный.Петренко А.З. Программное обеспечение для оже-электронной спектроскопии. Программа PROFILE v.1.01 / А.З.Петренко,И.П.Петренко, 1994. - 21 c. - Текст : непосредственный.Тронева Н.В. Электронно-зондовый микроанализ неоднородных поверхностей в свете теории распознавания образов / Н.В.Тронева,М.А.Тронева, 1996. - 208 с. - Текст : непосредственный.Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". Вып. 9(1534) : Технологическое применение электронной оже-спектроскопии : По дан.отеч.и зарубеж.печати за 1975-1989 гг. / Е.В.Мальнева,А.А.Свентицкий, 1990. - 59 с. - Текст : непосредственный.Scanning auger electron microscopy / Ed.: M.Prutton; Ed.: M.El Gomati, 2006. - XVII, 368 p. - Текст : непосредственный.Электронная оже-спектроскопия с разрешением по спину : учеб. пособие / В. Н. Петров, 2011. - 75 с. - Текст : непосредственный.Inzynieria materialowa : pr. naukowe / Politechnika Warszawska. z. 29 : Spektroskopia elektronowa AES jako narzedzie analityczno-diagnostyczne w inzynierii materialowej / M. Pisarek, 2013. - 97 s. - Текст : непосредственный.
Wustenhagen V. Photoemissions- und photoneninduzierte Auger-Mikroskopie unter Verwendung von Undulatorstrahlung : Diss. / V.Wustenhagen, 1992. - 352 S. - Текст : непосредственный.Дронова, Дарья Алексеевна. Комплекс методик анализа профильного распределения химического состава по глубине нанообъектов и тонких пленок методами оже-спектроскопии и времяпролетной вторично-ионной масс-спектрометрии : специальность 2.6.6. Нанотехнологии и наноматериалы : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук / Дронова Дарья Алексеевна, 2023. - 33 с. - Текст : непосредственный.
Заказ фрагмента документа ₽