Приложение
для AndroidПолное описание
W243CAD/1995/14/4Журнал
Institute of Electrical and Electronics Engineers (New York, NY). IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems/ IEEE. - New York, NY ; IEEE . - . - ISSN 0278-0070. - Выходит раз в два месяца. - Текст : непосредственный.
1995г. Vol.14 № 4
Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ЧЗХР (1)
Свободны: ЧЗХР (1)
Контактное сопротивление в системах YBa2Cu307-b-пленка металла / ВЦП. - 12 с. - Текст : непосредственный.Нитрид алюминия и область его применения / ЦНИИТЭСТРОЙМАШ. - 14 с. - Текст : непосредственный.История развития и стратегия систем компьютерного обеспечения проектирования (CAD), производства (CAM) и инженерной проработки изделий (САЕ) компании Ниссан Мотор / НАМИ. - 28 с. - Текст : непосредственный.Схема разработки топологии СБИС / ВЦП МР. - 17 с. - Текст : непосредственный.Многополюсная модель схемы для оценок потери излучения и паразитной связи между нарушениями непрерывности в микрополосковых церях / ВЦП КР. - 16 с. - Текст : непосредственный.Плюсы и минусы полифенилхининоксалина (ПФХ) / ВЦП. - 11 c. - Текст : непосредственный.Исследования в области ИС ЗУ различных видов и поколений. Выбор ИС при проектировании систем и указания по их применению. Ч.3,4 / ВЦП. - 107 c. - Текст : непосредственный.Технические данные / ВЦП. - 48 c. - Текст : непосредственный.Мультиплексный тестер жидких кристаллов / ВЦП. - 26 c. - Текст : непосредственный.Семь ключевых защитных модулей фирмы MTL Inc. для обеспечения собственной безопасности электронных устройств / ВЦП. - 26 c. - Текст : непосредственный.Системы для автоматизированных заводов фирмы Манделли / ЦНИИТЭСТРОЙМАШ. - 10 c. - Текст : непосредственный.Фиксаторный конвертер для внутрисхемного тестирования плат р/п 2260-3360 и -3560. Фиксаторы 2270 и 2276 к рабочей станции по проверке плат / ВЦП. - 52 c. - Текст : непосредственный.Преобразователь контрольного приспособления для внутрисхемных испытаний N 2260-3315 / ВЦП. - 36 c. - Текст : непосредственный.Преобразователь контрольного приспособления для внутрисхемных испытаний N 2260-3325 / ВЦП. - 34 c. - Текст : непосредственный.Преобразователь контрольного приспособления для внутрисхемных испытаний NN 2260-3329 и 2260-3526 / ВЦП. - 53 c. - Текст : непосредственный.Конвертер для устройства тестирования плат / ВЦП. - 34 c. - Текст : непосредственный.Левицкий Д.О. Методы логико-динамического и логико-структурного диагностирования матричных КМОП БИС : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.12 / Д. О. Левицкий, 1991. - 25 с. - Текст : непосредственный.Ефанов В.А. Организация процесса трассировки матричных БИС и СБИС : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.13.13:05.13.12 / В. А. Ефанов, 1991. - 22 с. - Текст : непосредственный.Маланьин Д.С. Алгоритмы стабилизации и структурные свойства неопределенных объектов с транспортным запаздыванием : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:01.01.11 / Д. С. Маланьин, 1991. - 24 с. - Текст : непосредственный.Анаров Н. Эпитаксиальные пленки селенида цинка и гетероструктуры на их основе : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.физ.-мат.наук:01.04.10 / Н. Анаров, 1991. - 22 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыIEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems / IEEE. - Журнал.Special section of on high-level design, validation and test : Spec.sect. of is based on the 4th HLDVT workshop organized in San Diego(Ca) in Nov.1999, 2001. - 353-474 p. p. - Текст : непосредственный.IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems. - Журнал, 1993г. Vol. 12 № 8.IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems. - Журнал, 1993г. Vol. 12 № 9.IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems. - Журнал, 1993г. Vol. 12 № 10.IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems. - Журнал, 1993г. Vol. 12 № 12.IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems. - Журнал, 1993г. Vol. 12 № 11.IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems. - Журнал, 1995г. Vol. 14 № 4.IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems. - Журнал, 1995г. Vol. 14 № 2.IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems. - Журнал, 1995г. Vol. 14 № 1.IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems. - Журнал, 1995г. Vol. 14 № 5.IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems. - Журнал, 1995г. Vol. 14 № 7.IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems. - Журнал, 1995г. Vol. 14 № 6.IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems. - Журнал, 1995г. Vol. 14 № 8.IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems. - Журнал, 1995г. Vol. 14 № 9.IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems. - Журнал, 1995г. Vol. 14 № 10.IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems. - Журнал, 1995г. Vol. 14 № 11.IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems. - Журнал, 1995г. Vol. 14 № 3.IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems. - Журнал, 1995г. Vol. 14 № 12.IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems. - Журнал, 1994г. Vol. 13 № 1.
Показать все результатыЗаказ фрагмента документа ₽