• ВХОД
  •  

    Полное описание

    Ар03-12286
    Новиков, А. С. Методы и алгоритмы тестирования памяти ЭВМ с обнаружением кратных функциональных неисправностей : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.13.15 / А. С. Новиков. - Владивосток : [б. и.], 2002. - 18 с. - Текст : непосредственный.
    В надзаг.: Дальневост. гос. техн. ун-т. Библиогр.: с. 18(8 назв.)
    ГРНТИ УДК
    50.11004.332.3.052.32(043)
    Экз-ры полностью Ар03-12286
    Имеются экземпляры в отделах: всего 1 : ХРЦ (1)
    Свободны: ХРЦ (1)



    Заказ фрагмента документа ₽