Приложение
для AndroidПолное описание
Leach, R. Fundamental principles of engineering nanometrology / R. Leach. - Oxford [etc.] : William Andrew: Elsevier, 2010. - XXVI, 321 p. : ill. - (Micro & nano technologies series). - Библиогр. в конце частей. Указ.: с. 317-321. - ISBN 978-0-08-096454-6. - Текст : непосредственный.
| ГРНТИ | УДК | |
| 90.01 | 006.91-022.532 |
Рубрики:
Нанометрология
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): J2/28215)
Шифр в сводном ЭК: 22c9ffb4f921af6dbf3350ec6b92233d
Leach R. Fundamental principles of engineering nanometrology / R. Leach, 2010. - XXVI, 321 p. - Текст : непосредственный.Characterisation of areal surface texture / Ed. R. Leach, 2013 r=on-line. - Текст : электронный.Optical Measurement of Surface Topography : монография / edited by Richard Leach., 2011 r=on-line (Введено оглавление). - Текст : электронный.
Leach R. Fundamental principles of engineering nanometrology / R. Leach, 2010. - XXVI, 321 p. - Текст : непосредственный.Semiconductor nanomaterials for flexible technologies : from photovoltaics and electronics to sensors and energy storage/Harvesting devices / Ed. Y. Sun, 2010. - XVII, 300 p. - Текст : непосредственный.Ramsden J. J. Nanotechnology: an introduction / J. J. Ramsden, 2011. - XIII, 272 p. - Текст : непосредственный.
Метрология и радиоизмерения : учебник / В. И. Нефедов [и др.] ; под ред. В. И. Нефедова, 2006. - 526 с. с. - Текст : непосредственный.Ковликов В.И. Стандартизация, сертификация и метрология / В. И. Ковликов, В. А. Сычев, 2005. - 95 с. - Текст : непосредственный.Эрастов В.Е. Метрология, стандартизация и сертификация : учебное пособие / В. Е. Эрастов, 2010. - 204 с. - Текст : непосредственный.Лифшиц И.М. Основы стандартизации, метрологии и управления качеством товаров / И. М. Лифшиц, 1994. - 165 c. - Текст : непосредственный.Корнеева Т.В. Толковый словарь по метрологии, измерительной технике и управлению качеством : словарь / Т. В. Корнеева, 1990. - 463 c. - Текст : непосредственный.Метрология и повышение качества промышленной продукции : материалы временных коллективов / Ленинградский Дом науч.-технической пропаганды, 1990. - 74 с. - Текст : непосредственный.Кошевая И.П. Метрология, стандартизация, сертификация : учебное пособие / И. П. Кошевая, А. А. Канке, 2009. - 414 с. - Текст : непосредственный.Кириллов В. И. Метрологическое обеспечение технических систем : выставочные материалы / В. И. Кириллов, 2013. - 424 с. - Текст : непосредственный.Солопченко Г.Н. Метрология, стандартизация, сертификация. Основы законодательной и прикладной метрологии : выставочные материалы / Г. Н. Солопченко, 2012. - 202 с. - Текст : непосредственный.Кузнецова Т.Л. История государственной метрологической службы в России (1906 - 1922 гг.) (на материалах Курской поверочной палатки) / Т. Л. Кузнецова, 2012. - 28 с. - Текст : непосредственный.Дубовой Н.Д. Основы метрологии, стандартизации и сертификации : учебное пособие / Н. Д. Дубовой, Е. М. Портнов, 2008. - 255 с. - Текст : непосредственный.Метрология, стандартизация и сертификация : учебное пособие / А. И. Аристов, Л. И. Карпов, В. М. Приходько, Т. М. Раковщик, 2008. - 384 с. - Текст : непосредственный.Радкевич Я.М. Метрология, стандартизация и сертификация : выставочные материалы / Я. М. Радкевич, А. Г. Схиртладзе, 2012. - 813 с. - Текст : непосредственный.Сигов, Александр Сергеевич. Метрология, стандартизация и технические измерения : учебник / А. С. Сигов, В. И. Нефедов, 2008. - 624 с. - Текст : непосредственный.Эрастов В.Е. Метрология, стандартизация и сертификация : учебное пособие / В. Е. Эрастов, 2008. - 204 с. - Текст : непосредственный.Метрология времени и пространства, 2016. - 309 с. - Текст : непосредственный.Попова О.С. Основы метрологии / О. С. Попова, Т. М. Петрова, А. В. Полетаев, 2004. - 39 с. - Текст : непосредственный.Астайкин, Анатолий Иванович. Метрология и радиоизмерения : учебное пособие / А. И. Астайкин, А. П. Помазков, Ю. П. Щербак ; ред. А. И. Астайкин, 2010. - 404 с. - Текст : электронный.Самсонов Ю.П. Основы метрологии. Средства измерения в механике материалов и конструкций : учебное пособие / Ю. П. Самсонов, В. Н. Щугорев, 2010. - 93 с. - Текст : непосредственный.Метрологическое обеспечение измерений : Обзор.информ. / ВНИИ техн.информации,классификации и кодирования.ВНИИКИ. Вып. 1(1990) : Вопросы представления результатов метрологических исследований с использованием ЭВМ, 1990. - 56 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыСергеев А.Г. Нанометрология / А. Г. Сергеев, 2011. - 413 с. - Текст : непосредственный.Leach R. Fundamental principles of engineering nanometrology / R. Leach, 2010. - XXVI, 321 p. - Текст : непосредственный.Минин И.В. Метрология в фотонике и нанооптике : монография / И. В. Минин, О. В. Минин, 2016. - 171 с. - Текст : непосредственный.Сергеев А.Г. Введение в нанометрологию : учеб. пособие / А. Г. Сергеев, 2010. - 295 с. - Текст : непосредственный.Иванов, Николай Борисович. Оборудование и приборы для метрологического обеспечения нанотехнологий : учебное пособие / Н. Б. Иванов, Н. И. Сальникова, 2021. - 95 с. - Текст (визуальный) : непосредственный.
Сергеев А.Г. Нанометрология / А. Г. Сергеев, 2011. - 413 с. - Текст : непосредственный.Leach R. Fundamental principles of engineering nanometrology / R. Leach, 2010. - XXVI, 321 p. - Текст : непосредственный.Минин И.В. Метрология в фотонике и нанооптике : монография / И. В. Минин, О. В. Минин, 2016. - 171 с. - Текст : непосредственный.Сергеев А.Г. Введение в нанометрологию : учеб. пособие / А. Г. Сергеев, 2010. - 295 с. - Текст : непосредственный.Иванов, Николай Борисович. Оборудование и приборы для метрологического обеспечения нанотехнологий : учебное пособие / Н. Б. Иванов, Н. И. Сальникова, 2021. - 95 с. - Текст (визуальный) : непосредственный.
Заказ фрагмента документа ₽