• ВХОД
  •  

    Полное описание

    Рубаник, Ю. Т. Методы обеспечения надежности изделий микроэлектроники на основе принципов теории управления качеством : специальность 05.27.01 "Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и нано-электроника, приборы на квантовых эффектах" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра техн.наук / Ю. Т. Рубаник. - М., 1996. - 41 с. : ил. - Текст : непосредственный.
    Библиогр.:с. 39-41(27назв.)

    ГРНТИ УДК
    47.33.37621.3.049.76.019.3(043)

    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): АР97-287)

    Шифр в сводном ЭК: 202a654f331b474ac5f91809ccab032e



    Заказ фрагмента документа ₽