Полное описание
> Специальные методы рентгенографии и электронно-микроскопического исследования материалов : учебное пособие / В. Д. Андреева, Е. В. Новиков, И. К. Боричева, А. Б. Спешилова. - СПб. : Изд-во Политехн. ун-та, 2008 (СПб.). - 89 с. : ил. - (Приоритетный национальный проект "Образование") (Инновационная образовательная программа Санкт-Петербургского политехнического университета). - Библиогр.: с. 89 (11 назв.). - 100 экз. - ISBN 978-5-7422-1986-6. - Текст : непосредственный.
В надзаг.: С.-Петерб. гос. политехн. ун-т
| ГРНТИ | УДК | |
| 29.19.19 | 548.7 | |
| 29.35.43 | 537.533.35 |
Рубрики:
Рентгенография
Электронная микроскопия
Доп. точки доступа:
Андреева, В.Д.
Новиков, Е.В.
Боричева, И.К.
Спешилова, А.Б.
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Д9-08/53686)>
Шифр в сводном ЭК: 8650eedc7c237e026e7ebf62ae4739e1
Специальные методы рентгенографии и электронно-микроскопического исследования материалов : учебное пособие / В. Д. Андреева, Е. В. Новиков, И. К. Боричева, А. Б. Спешилова, 2008. - 89 с. - Текст : непосредственный.Экологическая безопасность / И. С. Асаенок, В. И. Жалковский, Е. В. Новиков, Р. С. Шакиров, 1997. - 66 с. - Текст : непосредственный.Андреева В.Д. Рентгенография и электронная микроскопия. Электронная микроскопия материалов : учебное пособие / В. Д. Андреева, И. И. Горшков, 2017. - 142 с. - Текст : непосредственный.Андреева В.Д. Основы рентгеновского анализа материалов : учебное пособие / В. Д. Андреева, Е. В. Новиков, 2019. - 84 с. - Текст : непосредственный.Спешилова А.Б. Разработка технологии формирования фоторезистивных пленок прецизионной толщины с минимальной шероховатостью поверхности плазмохимическим травлением : специальность 05.27.06 - Технология и оборудование для производства полупроводников, материалов и приборов электронной техники: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук / А. Б. Спешилова, 2019. - 21 с. - Текст : непосредственный.Новиков Е.В. Повышение надежности транспортных электрохимических генераторов при использовании суперконденсаторов : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.20.03 / Е. В. Новиков, 2006. - 18 с. - Текст : непосредственный.Новиков Е.В. Физика металлов. Физические методы исследований : учеб. пособие / Е. В. Новиков, О. В. Толочко, В. Д. Андреева, 2010. - 188 с. - Текст : непосредственный.Андреева В.Д. Методы анализа. Рентгеноструктурный анализ : Учеб. пособие / В. Д. Андреева, М. И. Анисимов, Е. В. Новиков, 2004. - 97 с. - Текст : непосредственный.Рентгенография и электронная микроскопия материалов : учеб. пособие / В. Д. Андреева [и др.], 2008. - 180 с. - Текст : непосредственный.Физика металлов : учеб. пособие / Е. В. Новиков [и др.], 2005. - 110 с. - Текст : непосредственный.Направления модернизации государственного геодезического обеспечения Республики Казахстан с использованием спутниковых и телекоммуникационных технологий / У. Д. Самратов [и др.], 2016. - 87 с. - Текст : непосредственный.Дубровский А.В. Windows 3.1 и Windows 3.11 для рабочих групп : Русская версия / А.В.Дубровский,Е.В.Новиков, 1997. - 446 с. - Текст : непосредственный.Новиков Е.В. Методы анализа надежности сложных технических систем с временной избыточностью инфраструктуры железнодорожного транспорта : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.13.01 / Е. В. Новиков, 2012. - 24 с. - Текст : непосредственный.Андреева В.Д. Плазменные керамические покрытия как носители нейтрализаторов отработанных газов : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.18.06 / В. Д. Андреева, 1995. - 16 с. - Текст : непосредственный.Новиков Е.В. Организационно-экономические методы модернизации производственных мощностей промышленных предприятий : автореф. дис. .. канд. экон. наук: 08.00.05 / Е. В. Новиков, 2012. - 24 с. - Текст : непосредственный.Разработка концепции новой энергосберегающей технологии переработки автомобильных покрышек / М.М. Макаров, С.Б. Кокунов, П.А. Кураков, Е.В. Новиков. - Текст : непосредственный // Международный технико-экономический журнал. - М. - 2009. - № 5. - с. 49-52Александров С.Е. Методы и приборы для анализа и диагностики наночастиц и наноматериалов. Сканирующая зондовая микроскопия : учеб. пособие / С. Е. Александров, А. Б. Спешилова, 2005. - 83 с. - Текст : непосредственный.Дубровский А.В. Windows 3.1 и Windows 3.11 : Для рабочих группРусская версияПракт.пособие / А.В.Дубровский,Е.В.Новиков, 1996. - 446 с. - Текст : непосредственный.Новиков Е.В. Совершенствование методов оценки бизнес-идеи инвестиционного проекта : автореф. дис. .. канд. экон. наук: 08.00.05 / Е.В. Новиков, 2003. - 19 с. - Текст : непосредственный.Экспресс-методика прогнозирования максимально возможной зоны заражения вредными веществами, являющимися сжатыми газами / Д. С. Котов, С. А. Золотой, С. Г. Котов [и др.]. - Текст : непосредственный // Безопасность труда в промышленности. - М. : НТЦ ПБ, 2019. - № 7. - с. 60-66
Козлов В.Н. Теория автоматического управления : учебное пособие / В. Н. Козлов, В. Е. Куприянов, В. Н. Шашихин, 2008. - 126 с. - Текст : непосредственный.Челпанов И.Б. Автоматические технологические машины и оборудование. Испытания машин : учебное пособие / И. Б. Челпанов, 2008. - 296 с. - Текст : непосредственный.Пальмов В.А. Нелинейная механика деформируемых тел. Термодинамический и энергетический подходы : учебное пособие / В. А. Пальмов, 2010. - 164 с. - Текст : непосредственный.Ролле Н.Н. Экология строительства : выставочные материалы / Н. Н. Ролле, Л. М. Молодкина, А. Н. Чусов, 2014. - 233 с. - Текст : непосредственный.Солопченко Г.Н. Метрология, стандартизация, сертификация. Основы законодательной и прикладной метрологии : выставочные материалы / Г. Н. Солопченко, 2012. - 202 с. - Текст : непосредственный.Завьялов С.В. Стеганографические методы защиты информации : выставочные материалы / С. В. Завьялов, Ю. В. Ветров, 2012. - 189 с. - Текст : непосредственный.Солдатенко Т.Н. Сметное дело. Сметная документация на ремонт и реконструкцию зданий и сооружений : выставочные материалы / Т. Н. Солдатенко, 2012. - 97 с. - Текст : непосредственный.Птухина И.С. Экономика и ценообразование в строительстве. Распределение экономической ответственности : выставочные материалы / И. С. Птухина, 2012. - 84 с. - Текст : непосредственный.Ватин Н.И. Технология строительных процессов. Каменные работы : выставочные материалы / Н. И. Ватин, В. М. Галузин, 2012. - 109 с. - Текст : непосредственный.Капралова В.М. Физика макромолекул : выставочные материалы / В. М. Капралова, 2012. - 239 с. - Текст : непосредственный.Шкаровский А.Л. Инженерные системы зданий и сооружений. Основы расчетов по безопасной и эффективной эксплуатации систем газоснабжения : выставочные материалы / А. Л. Шкаровский, 2012. - 163 с. - Текст : непосредственный.Александрова В.Ф. Организация и планирование в строительстве. Разработка календарных и строительных генеральных планов при проектировании жилых объектов : выставочные материалы / В. Ф. Александрова, Ч. О. Бахтинова, 2012. - 79 с. - Текст : непосредственный.Солдатенко В.С. Математическое моделирование. Управление рисками проектов уникальных зданий и сооружений : выставочные материалы / В. С. Солдатенко, 2012. - 83 с. - Текст : непосредственный.Тучкевич Е.И. Технологии работы с векторной графикой : выставочные материалы / Е. И. Тучкевич, 2012. - 252 с. - Текст : непосредственный.Управление проектами : учебное пособие / Л. Г. Матвеева, А. Ю. Никитаева, Д. А. Фиськов, Е. Ф. Щипанов, 2009. - 423 с. - Текст : непосредственный.Инженерная геодезия. Геодезические задачи и полевые работы : учебное пособие / Н. Н. Загрядская, Е. Б. Махаленко, Н. Д. Беляев [и др.], 2008. - 192 с. - Текст : непосредственный.Компьютерные технологии в промышленном дизайне. Геометрическое моделирование в SolidWorks : учебное пособие / А. А. Андреев, В. Ю. Клюкин, А. Г. Массаев, М. Н. Полищук, 2008. - 97 с. - Текст : непосредственный.Мараховский В.Б. Параллельные процессы в дискретных системах. Спецификация. Анализ. Поведение : выставочные материалы / В. Б. Мараховский, Л. Я. Розенблюм, А. В. Яковлев, 2011. - 378 с. - Текст : непосредственный.Любомудров С.А. Метрологическое обеспечение производства : учебное пособие / С. А. Любомудров, С. Н. Степанов, С. Б. Тарасов, 2008. - 544 с. - Текст : непосредственный.Институциональные аспекты бухгалтерского учета и контроля / В. В. Панков, Л. А. Чайковская, И. Н. Санникова [и др.], 2009. - 428 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыСолдатенко Г.А. Постоянные магниты в осветителе электронного микроскопа высокого разрешения / Г. А. Солдатенко, 1988. - 16 c. - Текст : непосредственный.Сойфер Г.Б. ЯКР спектроскопия и молекулярные движения в твердых телах : специальность 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат.наук / Г. Б. Сойфер, 1998. - 31 с. - Текст : непосредственный.Пунегов В.И. Теория рассеяния рентгеновских лучей на латеральных структурах / В. И. Пунегов, 2007. - 219 с. - Текст : непосредственный.Болотина Н.Б. Атомное строение и механизмы образования модулированных кристаллов по данным рентгеноструктурного анализа : специальность 01.04.18 "Кристаллография, физика кристаллов " : диссертация на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / Н. Б. Болотина, 2007. - 45 с. - Текст : непосредственный.Operation manual for EDXRDDA-A software package for Bragg peak analysis of energy dispersive powder x-ray diffraction data / B. Jayaswal, V. Vijayakumar, S. N. Momin, S. K. Sikka, 1992. - 39 p. - Текст : непосредственный.Подурец К.М. Исследование макроструктуры вещества с помощью преломления нейтронов : специальность 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / К. М. Подурец, 2000. - 30 с. - Текст : непосредственный.Mono-cycle photonics and optical scanning tunneling microscopy / SpringerLink (Online service), 2005 r=on-line. - Текст : электронный.Electron scattering in solid matter / SpringerLink (Online service), 2005 r=on-line. - Текст : электронный.Electron crystallography / SpringerLink (Online service), 2006 r=on-lineTorok P. Optical imaging and microscopy / P. Torok, F. J. Kao, 2007 r=on-line. - Текст : электронный.Papers presented at the 6th microoptics conference and 14th topical meeting on gradient-index..,Tokyo, Oct.7-9,1997 / Microoptics conference (6th ; 1997 ; Tokyo) , Topical meeting on gradient-index optical systems (14th ; 1997 ; 895(#1) / 895(#2) / 895(#3))! , 1998. - 3633-3637 p. p. - Текст : непосредственный.Mathematical methods of texture analysis. Abstracts, 1995. - 34 p. - Текст : непосредственный.Scanning tunneling microscopy : материалы временных коллективов / Ed. S. Hosoki, 1999. - 3805-3965,/13/ p. p. - Текст : непосредственный.Forces in scanning probe methods : материалы временных коллективов / Ed. H.-J. Guntherodt, 1995. - XIII,644 p. p. - Текст : непосредственный.Аксенов В.Л. Исследования поверхностей и тонких пленок с помощью нейтронов / В. Л. Аксенов, 1996. - 16 с. - Текст : непосредственный.Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие / В. Л. Миронов, 2009. - 143 с. - Текст : непосредственный.Шеин А.Б. Физические методы исследований (металлография, электронная микроскопия, электронная спектроскопия) : учебное пособие / А. Б. Шеин, 2008. - 108 с. - Текст : непосредственный.Journal of Microscopy. - Журнал выходит с 1841г. r=on-line. - Текст : электронный.Гасилов С.В. Исследование мягкого рентгеновского излучения фемтосекундной лазерной плазмы и его использование для формирования фазово-контрастных изображений наноструктур / С. В. Гасилов, 2008. - 22 с. - Текст : непосредственный.Journal Electron Microscopy. - Журнал. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыШеин А.Б. Физические методы исследований (металлография, электронная микроскопия, электронная спектроскопия) : учебное пособие / А. Б. Шеин, 2008. - 108 с. - Текст : непосредственный.Специальные методы рентгенографии и электронно-микроскопического исследования материалов : учебное пособие / В. Д. Андреева, Е. В. Новиков, И. К. Боричева, А. Б. Спешилова, 2008. - 89 с. - Текст : непосредственный.Козловский В.Н. Информация в импульсной рентгенографии / В. Н. Козловский, 2006. - 304 с. - Текст : непосредственный.
Кузьмичева, Г. М. Рентгенография наноразмерных объектов : учеб. пособие. Ч. 2, 2010. - 80 с. - Текст : непосредственный.Нахмансон М.С. Диагностика состава материалов рентгенодифракционными и спектральными методами / М.С.Нахмансон,В.Г.Фекличев, 1990. - 357 c. - Текст : непосредственный.Хритохин Н.А. Рентгенография : Учеб. пособие / Н. А. Хритохин, А. В. Кертман, О. В. Андреев, 1993. - 70 с. - Текст : непосредственный.Вегман Е.Ф. Кристаллография, минералогия, петрография и рентгенография : Учеб. пособие для металлург. спец. вузов / Е. Ф. Вегман, Ю. Г. Руфанов, И. Н. Федорченко, 1990. - 261 с. - Текст : непосредственный.Китайгородский А.И. Рентгеновские лучи и рентгеновские методы исследования / проф. А. И. Китайгородский, 1948. - 46, [2] с. - Текст : непосредственный.Симанов, Юрий Петрович. Практические работы по рентгенографии : учебное пособие для студентов химических факультетов государственных университетов / Ю. П. Симанов; под редакцией проф. А. В. Фроста, 1950. - 70, [1] с. - Текст : непосредственный.
| Лицевая сторона карточки | Обратная сторона карточки |
![]() | ![]() |
Пунегов В.И. Теория рассеяния рентгеновских лучей на латеральных структурах / В. И. Пунегов, 2007. - 219 с. - Текст : непосредственный.Болотина Н.Б. Атомное строение и механизмы образования модулированных кристаллов по данным рентгеноструктурного анализа : специальность 01.04.18 "Кристаллография, физика кристаллов " : диссертация на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / Н. Б. Болотина, 2007. - 45 с. - Текст : непосредственный.Operation manual for EDXRDDA-A software package for Bragg peak analysis of energy dispersive powder x-ray diffraction data / B. Jayaswal, V. Vijayakumar, S. N. Momin, S. K. Sikka, 1992. - 39 p. - Текст : непосредственный.Подурец К.М. Исследование макроструктуры вещества с помощью преломления нейтронов : специальность 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / К. М. Подурец, 2000. - 30 с. - Текст : непосредственный.Mono-cycle photonics and optical scanning tunneling microscopy / SpringerLink (Online service), 2005 r=on-line. - Текст : электронный.Baryshevsky V.G. Parametric x-ray radiation in crystals / V. G. Baryshevsky, I. D. Feranchuk, A. P. Ulyanenkov, 2005 r=on-line. - Текст : электронный.Electron crystallography / SpringerLink (Online service), 2006 r=on-linePapers presented at the 6th microoptics conference and 14th topical meeting on gradient-index..,Tokyo, Oct.7-9,1997 / Microoptics conference (6th ; 1997 ; Tokyo) , Topical meeting on gradient-index optical systems (14th ; 1997 ; 895(#1) / 895(#2) / 895(#3))! , 1998. - 3633-3637 p. p. - Текст : непосредственный.Mathematical methods of texture analysis. Abstracts, 1995. - 34 p. - Текст : непосредственный.Scanning tunneling microscopy : материалы временных коллективов / Ed. S. Hosoki, 1999. - 3805-3965,/13/ p. p. - Текст : непосредственный.Структурные исследования кристаллов : сборник / Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова (Москва), 1996. - 491 c. - Текст : непосредственный.Forces in scanning probe methods : материалы временных коллективов / Ed. H.-J. Guntherodt, 1995. - XIII,644 p. p. - Текст : непосредственный.Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии : учебное пособие / В. Л. Миронов, 2009. - 143 с. - Текст : непосредственный.Gamma-ray Diffractometer at the ET-RR-1 Reactor for Material Science Research / A. I. Kurbakov, R. M. Maayouf, A. E. Sokolov, 1994. - 22 p. - Текст : непосредственный.Гасилов С.В. Исследование мягкого рентгеновского излучения фемтосекундной лазерной плазмы и его использование для формирования фазово-контрастных изображений наноструктур / С. В. Гасилов, 2008. - 22 с. - Текст : непосредственный.Рабаданов М.Х. Прецизионные структурные исследования, тепловые колебания атомов и физические свойства кристаллов : специальность 01.04.18 "Кристаллография, физика кристаллов " : диссертация на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / М. Х. Рабаданов, 2004. - 42 с. - Текст : непосредственный.Новые достижения ЯМР в структурных исследованиях : материалы временных коллективов / Ред. А. В. Аганов, 2000. - 131 с. - Текст : непосредственный.Волошин А.Э. Количественная рентгеновская топография и ее применение для анализа слабых неоднородностей состава кристаллов : специальность 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / А. Э. Волошин, 2013. - 38 с. - Текст : непосредственный.Орешко А.П. Анизотропные и интерференционные эффекты в резонансной дифракции синхротронного излучения : специальность 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / А. П. Орешко, 2013. - 37 с. - Текст : непосредственный.Костюк А.Н. Динамическая теория дифракций рентгеновских лучей в упруго изогнутых монокристаллах с микродефектами / А. Н. Костюк, В. Б. Молодкин, С. И. Олиховский, 1991. - 31 с. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыЗаказ фрагмента документа ₽

