• ВХОД
  •  

    Полное описание

    Beam injection assessment of defects in semiconductors : материалы временных коллективов. - Paris : [s. n.], 1989. - XIV,Pag.var. - ISBN 2-86883-125-7. - Текст : непосредственный.
    Библиогр.в конце гл.Указ.в конце кн.Suppl.a la Revue de physique appliquee,1989,T.24,Fasc.6

    ГРНТИ УДК
    29.19.31537.311.322:548.4(063)

    Рубрики:
    Полупроводники -- Кристаллы -- Дефекты -- Съезды и конференции

    Кл.слова (ненормированные): ПОЛУПРОВОДНИК -- ПОЛУПРОВОДНИК
    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): J2/21436)

    Шифр в сводном ЭК: cc7e3ef53ac26cfdf26b38f70e6b1286



    Заказ фрагмента документа ₽