• ВХОД
  •  

    Полное описание

    Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". - М. : [б. и.], 19 - . - Текст : непосредственный.
    Вып. 2(1601) : Математические модели для системного уровня диагностики неисправностей в мультипроцессорных системах / В.Г.Баранов,В.В.Гладков,Б.Н.Махалин. - 1991. - 58 с. : ил. - (Серия 8,Управлением качеством, стандартизация, метрология, испытания)

    Библиогр.: с. 56-58 (19 назв.)

    ГРНТИ УДК
    50.39.19004.38.052.42

    Рубрики:
    Вычислительные машины -- Автоматический поиск неисправностей

    Кл.слова (ненормированные): АВТОМАТИЧЕСКИЙ ПОИСК -- ВЫЧИСЛИТЕЛЬНАЯ МАШИНА -- НЕИСПРАВНОСТЬ
    Доп. точки доступа:
    Гладков, В.В.
    Махалин, Б.Н.
    "Электроника", ин-т (Москва)
    Экз-ры полностью 0e33c2ff4cff27a26c9744a26f13dd95
    Нет сведений об экземплярах
    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): М/15125/2(1601))

    Шифр в сводном ЭК: 0e33c2ff4cff27a26c9744a26f13dd95



    Заказ фрагмента документа ₽