Полное описание
New frontiers in testing : материалы временных коллективов. - New York : [s. n.], 1988. - xxx,1005 p. p. : ill. - (IEEE publications / Inst.of electrical and electronics engineers, ISSN 0149-144X ; 88CH2610-4). - ISBN 0-8186-0870-6. - Текст : непосредственный.
ГРНТИ УДК 47.33 621.384.001.4(063)
Рубрики: Электронные приборы -- Испытание -- Съезды и конференции
Держатели документа: Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): R/6736/88CH2610-4)
Шифр в сводном ЭК: 16d9f7a1459336cdb27133c94261c261
Cameron J.R. JSP and JSD : сборник научных трудов / J. R. Cameron, 1989. - X,526 p. p. - Текст : непосредственный. Supercomputing'91 : материалы временных коллективов, 1991. - XXIII,917 p. p. - Текст : непосредственный. Artificial neural networks : сборник научных трудов / Ed. J. Diederich, 1990. - VII,141 p. p. - Текст : непосредственный. Artificial neural networks : сборник научных трудов / Ed. N. Morgan, 1990. - VIII,130 p. p. - Текст : непосредственный. Prieto-Diaz R. Domain analysis and software systems modeling / R. Prieto-Diaz, G. Arango, 1991. - VIII,299 p. p. - Текст : непосредственный. Matley B.G. National computer policies / B. G. Matley, T. A. McDannold, 1987. - XVII,172 p. p. - Текст : непосредственный. Artificial neural networks:concepts and theory / Сост.Compl.: P. Mehra, B. W. Wah, 1992. - XI,667 p. p. - Текст : непосредственный. Nearest neighbor (NN) norms:NN patern classification techniques / Ed. B. V. Dasarathy, 1991. - XII,447 p. p. - Текст : непосредственный. Multiple-valued logic in VLSI design / Ed. J. T. Butler, 1991. - VII,120 p. p. - Текст : непосредственный. Tutorial:Microprogramming and firmware engineering / Ред.Compl. V. Milutinovic, 1989. - VII,409 p. p. - Текст : непосредственный. Tutorial : материалы временных коллективов / Ред.Compl. D. D. Gajski, 1987. - IX,593 p. p. - Текст : непосредственный. AUTOTESTCON'87 : материалы временных коллективов, 1987. - XVII,434 p. p. - Текст : непосредственный. Engineering leadership in the 90's (from Al to Jz) : материалы временных коллективов, 1988. - 224 p. - Текст : непосредственный. New frontiers in testing : материалы временных коллективов, 1988. - xxx,1005 p. p. - Текст : непосредственный. Black U.X. X.25 and related protocols / U. X. Black, 1991. - 287 p. - Текст : непосредственный. Hard real-time systems / Ed.: J. A. Stankovic, K. Ramamritham, 1988. - VI,618 p. p. - Текст : непосредственный. Database management : сборник научных трудов / Ed. J. A. Larson, 1987. - VI,440 p. p. - Текст : непосредственный. Modeling and control of automated manufacturing systems / Ed. A. A. Desrochers, 1990. - VIII,373 p. p. - Текст : непосредственный. Computer and network security : сборник научных трудов / Comp.: M. D. Abrams, H. J. Podell, 1987. - VII,430 p. p. - Текст : непосредственный. Tutorial : сборник научных трудов / Ed. K. I. Joy, 1988. - VII,368 p. p. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Куртев Н.Д. Электронные цепи и устройства / Н. Д. Куртев, В. И. Нефедов, 1990. - 53 с. - Текст : непосредственный. Захаров Н.П. Механические явления в интегральных структурах / Н. П. Захаров, А. В. Багдасарян, 1992. - 144 с. - Текст : непосредственный. Физика и техника полупроводников / Российская академия наук, Физико-технический ин-т им. А. Ф. Иоффе (Санкт-Петербург). - Журнал выходит с 1967г. - Текст : непосредственный. Цырлин Г.Э. Эффекты самоорганизации наноструктур на поверхности полупроводников при молекулярно-пучковой эпитаксии : специальность 01.04.01 "Приборы и методы экспериментальной физики", 01.04.10 "Физика полупроводников" : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук / Г. Э. Цырлин, 2001. - 41 с. - Текст : непосредственный. Шугуров А.Р. Эволюция рельефа поверхностей тонких пленок в процессе их формирования при внешних воздействиях: фрактальный анализ : специальность 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / А. Р. Шугуров, 2001. - 20 с. - Текст : непосредственный. Воскресенский В.В. Применение туннельных диодов в импульсной технике, 1974. - 120 с. - Текст : непосредственный. Полупроводниковая микроэлектроника : сборник научных трудов / Новосибирский электротехнический ин-т, 1989. - 113,5 c. c. - Текст : непосредственный. Лазерная и оптико-электронная техника : сборник научных трудов / Белорусский ун-т им. В. И. Ленина (Минск), 1989. - 215 c. - Текст : непосредственный. Кристовский Г.В. Электронно-физическое моделирование КМОП БИС / Г. В. Кристовский, Л. А. Маслова, Ю. В. Фастовец, 1990. - 15 с. - Текст : непосредственный. Кравченко А.Ф. Магнитная электроника / А. Ф. Кравченко ; Ред. И. Г. Неизвестный, 2002. - 398 с. - Текст : непосредственный. Зотов А.А. Физические основы устройств функциональной электроники / А. А. Зотов, Т. И. Чернышова, В. Н. Чернышов, 1993. - 208 c. - Текст : непосредственный. Multiple-valued logic in VLSI design / Ed. J. T. Butler, 1991. - VII,120 p. p. - Текст : непосредственный. Хилько А.Ю. Рост из молекулярных пучков и свойства гетероструктур с эпитаксиальными слоями фторида кадмия : специальность 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / А. Ю. Хилько, 1998. - 26 с. - Текст : непосредственный. Наноэлектроника, нанофотоника и нелинейная физика : материалы временных коллективов, 2014. - 240 с. - Текст : непосредственный. Петров П.В. Исследование A+ центров в двумерных структурах на основе GaAs : специальность 01.04.10 "Физика полупроводников" : диссертация на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / П. В. Петров, 2006. - 16 с. - Текст : непосредственный. Щука А. А. Наноэлектроника / А. А. Щука, 2007. - 463 с. - Текст : непосредственный. Малинаускас К.К. Разработка математического и программного обеспечения систем топологического проектирования СБИС с использованием диаграмм Вороного : специальность 05.13.11 "Математическое и программное обеспечение вычислительных машин,комплексов и компьютерных сетей" : диссертация на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / К. К. Малинаускас, 2007. - 23 с. - Текст : непосредственный. Пигулев Р. В. Получение и исследование многокомпонентных гетероструктур на основе твердых растворов А111ВV / Р. В. Пигулев, 2007. - 21 с. - Текст : непосредственный. Основы электротехники, микроэлектроники и управления. Теория и расчет : учеб. пособие: в 2 т. / Ю. А. Комиссаров [и др.] ; ред. П. Д. Саркисов. Т. 1, 2007. - 450 с. - Текст : непосредственный. Основы электротехники, микроэлектроники и управления. Теория и расчет : учеб. пособие: в 2 т. / Ю. А. Комиссаров [и др.] ; ред. П. Д. Саркисов. Т. 2, 2007. - 310 с. - Текст : непосредственный. Показать все результаты New frontiers in testing : материалы временных коллективов, 1988. - xxx,1005 p. p. - Текст : непосредственный. Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
Лицевая сторона карточки Обратная сторона карточки
International test conference,Oct.26-30,1991,Nashville(TN):Proc. / ITC, 1991. - XIV,1135 p. p. - Текст : непосредственный. First Asian test symposium,Nov.26-27,1992,Hiroshima : Proc. / ATS'92, 1992. - X,259 p. p. - Текст : непосредственный. Design, automation and test in Europe : Conference and exhibition, Munich, March 13-16, 2001: Proc. / Ed. W. Nebel, 2001. - XXXVI, 829 p. 829 p. - Текст : непосредственный. Proceedings of the seventh international on-line testing workshop, 9-11 July 2001, Giardini Naxos, Taormina, Italy / IOLTW 2001, 2001. - XI,228 p. p. - Текст : непосредственный. Республиканская научно-техническая конференция "Проблемы автоматизации контроля электронных устройств" : г.Винница, 13-15 нояб. 1990 г.:Тез. докл. Вып. 3 : Вопросы автоматизации контрольно-диагностических процедур, 1990. - 59 с. - Текст : непосредственный. Integration of test with desigh and manufacturing : Intern.test conf.Sept.1-3,1987,Washington(DC):Proc. / ITC, 1987. - XXXI,1151 p. p. - Текст : непосредственный. Proceedings of the IEEE European test workshop, ETW 2001, 29 May - June 2001, Stockholm, Sweden / Spons. by IEEE Computer soc. test technology council (TTTC) Link@:oping univ. (LiU), 2001. - XII,147 p. p. - Текст : непосредственный. Electron and optical beam testing of electronic devices : Proc.of the 3rd Europ.conf.on electron and optical beam testing of electronic devices,Sept.1-3,1993,Zurich / ed. A. Birolini, 1994. - XIII,442 p. p. - Текст : непосредственный. Electron and optical beam testing of electronic devices : Proc.of the 5th European conf.on electron..Aug.27-30,1995,Wuppertal,Germany / ed. E. Wolfgang, 1996. - XII,432 p. p. - Текст : непосредственный. Республиканская научно-техническая конференция "Проблемы автоматизации контроля электронных устройств" : г.Винница, 13-15 нояб. 1990 г.:Тез. докл. Вып. 1 : Методы и средства диагностирования цифровых устройств, 1990. - 61 c. - Текст : непосредственный. 2nd European test conference Munich,Apr.10-12,1991 : Proc. / ETC'91, 1991. - 532 p. - Текст : непосредственный. Proceedings of the international test conference,Washington,sept.1990 / ITC, 1990. - XIV,1083 p. мкф. - Текст : непосредственный. Показать все результаты Заказать
Заказ фрагмента документа ₽
Приложение
для Android
