Приложение
для AndroidПолное описание
Нелюбин, Илья Вадимович. Исследование и разработка комплекса неразрушающих методик контроля трехмерного профиля элементов наноразмерных ИС : специальность: 2.2.2. Электронная компонентная база микро- и наноэлектроники, квантовых устройств: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук / Нелюбин Илья Вадимович ; Национальный исследовательский университет "МИЭТ", Институт интегральной электроники имени К. А. Валиева. - Москва, 2025. - 22 с. : ил., табл. - Библиогр.: с. 19-21. - 80 экз. - Текст : непосредственный.
| ГРНТИ | УДК | |
| 47.13.81 | 621.3.049.77:658.562(043) | |
| 47.33.31 |
Рубрики:
Интегральные схемы -- Технический контроль
Доп. точки доступа:
"МИЭТ", национальный исследовательский университет (Москва). Институт интегральной электроники имени К. А. Валиева
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Ар26-2409)
Шифр в сводном ЭК: A018AEBF12D5F9E8CFBCDB1F14AAA143
Попов, Александр Владимирович. Исследование и разработка одноканальных эмиссионных приемников изображений объектов, излучающих в тепловом и ультрафиолетовом диапазонах, в привязке к изображению окружающей местности : специальность: 2.2.2. - Электронная компонентная база микро- и наноэлектроники, квантовых устройств": автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук / Попов Александр Владимирович, 2024. - 28 с. - Текст : непосредственный.Котляров, Евгений Юрьевич. Исследование и разработка монолитных интегральных схем СВЧ фазовращателей для приемно-передающего тракта систем АФАР : специальность 2.2.2. Электронная компонентная база микро- и наноэлектроники, квантовых устройств: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук / Котляров Евгений Юрьевич, 2024. - 25 с. - Текст : непосредственный.Тимаков, Алексей Валерьевич. Физико-технологические решения создания межсоединений металлизации высокотемпературных кремниевых ИС на основе сплавов вольфрама : специальность 2.2.2. Электронная компонентная база микро- и наноэлектроники, квантовых устройств: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук / Тимаков Алексей Валерьевич, 2024. - 22 с. - Текст : непосредственный.Стручков, Николай Сергеевич. Исследование и разработка мультисенсорных датчиков газов на основе тонких слоёв углеродных нанотрубок и производных графена : специальность 2.2.2. Электронная компонентная база микро- и наноэлектроники, квантовых устройств: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук / Стручков Николай Сергеевич, 2025. - 24 с. - Текст : непосредственный.Чуканова, Ольга Борисовна. Исследование и моделирование AlGaN/GaN наногетероструктутр для создания нормально-закрытых транзисторов : 2.2.2. Электронная компонентная база микро- и наноэлектроники, квантовых устройств: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук / Чуканова Ольга Борисовна, 2024. - 22 с. - Текст : непосредственный.Котляров, Евгений Юрьевич. Исследование и разработка монолитных интегральных схем СВЧ фазовращателей для приемо-передающего тракта систем АФАР : специальность 2.2.2. Электронная компонентная база микро- и наноэлектроники, квантовых устройств: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук / Котляров Евгений Юрьевич, 2024. - 26 с. - Текст : непосредственный.Калёнов, Александр Дмитриевич. Исследование и разработка дифференциальных СВЧ ключей и аттенюаторов с расширенной полосой рабочих частот сигнала : специальность 2.2.2. Электронная компонентная база микро- и наноэлектроники, квантовых устройств: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук / Калёнов Александр Дмитриевич, 2025. - 26 с. - Текст : непосредственный.Можжухина, Арина Валерьевна. Методика и алгоритмы размещения библиотечных элементов с применением машинного обучения для автоматизации проектирования микросхем на базовых структурированных кристаллах : специальность 2.3.7. Компьютерное моделирование и автоматизация проектирования: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук / Можжухина Арина Валерьевна, 2025. - 24 с. - Текст : непосредственный.Нелюбин, Илья Вадимович. Исследование и разработка комплекса неразрушающих методик контроля трехмерного профиля элементов наноразмерных ИС : специальность: 2.2.2. Электронная компонентная база микро- и наноэлектроники, квантовых устройств: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук / Нелюбин Илья Вадимович, 2025. - 22 с. - Текст : непосредственный.Горностай-Польский, Вадим Станиславович. Конструктивно-технологические решения формирования элементов металлизации силовых МДП-транзисторных структур с вертикальным каналом с топологическими нормами 0,25 мкм : специальность 2.2.2. Электронная компонентная база микро- и наноэлектроники, квантовых устройств: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук / Горностай-Польский Вадим Станиславович, 2026. - 24 с. - Текст : непосредственный.
Захаров Н.П. Механические явления в интегральных структурах / Н. П. Захаров, А. В. Багдасарян, 1992. - 144 с. - Текст : непосредственный.Чебуркин А.Н. Диагностика источников электронов по двумерным изображениям : специальность 05.27.01 "Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и нано-электроника, приборы на квантовых эффектах" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / А. Н. Чебуркин, 2001. - 20 с. - Текст : непосредственный.Шугуров А.Р. Эволюция рельефа поверхностей тонких пленок в процессе их формирования при внешних воздействиях: фрактальный анализ : специальность 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / А. Р. Шугуров, 2001. - 20 с. - Текст : непосредственный.Кристовский Г.В. Электронно-физическое моделирование КМОП БИС / Г. В. Кристовский, Л. А. Маслова, Ю. В. Фастовец, 1990. - 15 с. - Текст : непосредственный.Multiple-valued logic in VLSI design / Ed. J. T. Butler, 1991. - VII,120 p. p. - Текст : непосредственный.Малинаускас К.К. Разработка математического и программного обеспечения систем топологического проектирования СБИС с использованием диаграмм Вороного : специальность 05.13.11 "Математическое и программное обеспечение вычислительных машин,комплексов и компьютерных сетей" : диссертация на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / К. К. Малинаускас, 2007. - 23 с. - Текст : непосредственный.Баринов С.В. Разработка и исследование комплекса генетических алгоритмов разбиения схем с учетом временных задержек / С. В. Баринов, 2008. - 16 с. - Текст : непосредственный.Усикова М.А. Методы сверхлокального и селективного препарирования кремниевых интегральных схем / М. А. Усикова, 2011. - 16 с. - Текст : непосредственный.Назаров А.А. Проектирование тестовых схем для аттестации технологичесчких процессов производства СБИС : специальность 05.27.05 "" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук / А. А. Назаров, 2000. - 16 с. - Текст : непосредственный.Семенов Ю.Г. Контроль качества / Ю. Г. Семенов, 1990. - 111 c. - Текст : непосредственный.Венцов Н.Н. Исследование и разработка генетических алгоритмов и автоматов адаптации для повышения эффективности доступа к данным САПР СБИС : специальность 05.13.12 "Системы автоматизации проектирования (по отраслям)", 05.13.17 "Теоретические основы информатики" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / Н. Н. Венцов, 2006. - 16 с. - Текст : непосредственный.Никифоров А.Ю. Радиационные эффекты в КМОП ИС / А. Ю. Никифоров, В. А. Телец, А. И. Чумаков, 1994. - 164 c. - Текст : непосредственный.Чураев С.О. Встраиваемые системы контроля параметров интегральных схем пикосекундного разрешения / С. О. Чураев, 2012. - 19 с. - Текст : непосредственный.Special issue on high-speed circuits : материалы временных коллективов / Ed.: M. Mokhtari, M. G. Stubbs. - 1095-1210 p. p. - Текст : непосредственный.Papers presented at the 12th IEEE VLSI test symposium,1994 / VLSI test symposium (12 ; 1994 ; New York) , 1995. - 529-649 p. p. - Текст : непосредственный.Курейчик В.М. Контролепригодное проектирование и самотестирование СБИС: проблемы и перспективы / В. М. Курейчик, С. И. Родзин, 1994. - 174 c. - Текст : непосредственный.Микросхемы интегральные серии КР580.. К744 / "Электростандарт", российский НИИ (Санкт-Петербург), 1993. - 224 c. - Текст : непосредственный.Автоматизация проектирования комплементарных микросхем с учетом одиночных событий / И. П. Потапов, В. М. Антимиров, Ю. К. Фортинский, К. И. Таперо, 2007. - 121 с. - Текст : непосредственный.Овечкин Р.М. Новые технологичные СВЧ устройства для перестраиваемых мощных плотноупакованных СВЧ схем и настроечные корпуса для них : специальность 05.12.07 "Антенны, СВЧ устройства и их технологии" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / Р. М. Овечкин, 2004. - 16 c. - Текст : непосредственный.Packaging handbook, 1991. - Pag.var. мкф. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыСмирнов Д.Ю. Диагностические методы оценки надежности интегральных схем с использованием шумовых параметров : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.27.01 / Д. Ю. Смирнов, 2006. - 17 с. - Текст : непосредственный.Винокуров А.А. Диагностические методы оценки качества и надежности интегральных схем с использованием метода критического напряжения питания : специальность: 05.27.01 - Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и наноэлектроника, приборы на квантовых эффектах: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук / А. А. Винокуров, 2019. - 19 с. - Текст : непосредственный.Аргунов, Дмитрий Пантелеевич. Программно-аппаратный комплекс автоматизации технологического процесса зондового контроля электрических параметров интегральных схем : специальность 2.3.3 - Автоматизация и управление технологическими процессами и производствами: автореферат диссертации на соискание учёной степени кандидата технических наук / Аргунов Дмитрий Пантелеевич, 2024. - 21 с. - Текст : непосредственный.Нелюбин, Илья Вадимович. Исследование и разработка комплекса неразрушающих методик контроля трехмерного профиля элементов наноразмерных ИС : специальность: 2.2.2. Электронная компонентная база микро- и наноэлектроники, квантовых устройств: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук / Нелюбин Илья Вадимович, 2025. - 22 с. - Текст : непосредственный.
Заказ фрагмента документа ₽