Полное описание
> Шубин, Владимир Владимирович. Отказы интегральных схем / В. В. Шубин. - Новосибирск : СО РАН, 2025. - 135, [2] с. : ил., цв. ил., табл. - Библиогр. в конце гл. - 300 экз. - ISBN 978-5-6052504-7-0. - Текст (визуальный) : непосредственный.
| ГРНТИ | УДК | |
| 47.33.31 | 621.3.049.77.019.3 | |
| 47.14.23 |
Рубрики:
Интегральные схемы -- Надежность
Кл.слова (ненормированные): ЗАГРЯЗНЕНИЯ -- МЕТАЛЛИЗАЦИЯ -- ПАРАЗИТНЫЕ ЭЛЕМЕНТЫ -- ФОТОЛИТОГРАФИЯ -- ЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ ПЕРЕНАПРЯЖЕНИЯ
Аннотация: В монографии представлено описание многочисленных проблем отказов в работе интегральных схем (ИС) и их предотвращение конструктивно-технологическими и схемо-топологическими способами на ранних этапах проектирования. Рассмотрены, обобщены и систематизированы многие вопросы, связанные с проблемами отказов в работе ИС, включая обзор и анализ информационных материалов. Представлено множество примеров, которые можно использовать в практической деятельности с учетом современных тенденций развития в области разработки ИС, основанных, в том числе на многолетнем опыте работы автора в индустрии микроэлектроники. Материал монографии тщательно структурирован и изложен в форме, доступной широкому кругу читателей, знакомых с основными понятиями в предметных областях физики твердого тела, физики полупроводниковых приборов, технологии изготовления и с принципами и методологией проектирования современных ИС. Текст сопровождается наглядными рисунками, расшифровками и пояснениями. Монография рекомендована широкому кругу исследователей и разработчиков, связанных по роду своей деятельности с проектированием и изготовлением ИС, исследованиями в области повышения качества и надежности компонентов и изделий ИС, представляет интерес для научных работников, аспирантов и студентов, специализирующихся в данных областях.
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Д11-25/44456)>
Шифр в сводном ЭК: df459d4341833a413a22faa8398327c1
Шубин, Владимир Владимирович. Верификация топологии интегральных схем / В. В. Шубин, 2020. - 156, [1] с. - Текст (визуальный) : непосредственный.Игнатов, Александр Николаевич. Справочник по компонентной базе микро- и наноэлектронной техники : Справочная литература / Сибирский государственный университет телекоммуникаций и информатики, 2024. - 496 с. - Текст : электронный.Шубин, Владимир Владимирович. Защита информации в волоконно-оптических системах : в 2 томах. Т. 1, 2025. - 293 с. - Текст : непосредственный.Шубин, Владимир Владимирович. Защита информации в волоконно-оптических системах : в 2 томах. Т. 2, 2025. - 343 с. - Текст : непосредственный.Шубин, Владимир Владимирович. Отказы интегральных схем / В. В. Шубин, 2025. - 135, [2] с. - Текст (визуальный) : непосредственный.
Захаров Н.П. Механические явления в интегральных структурах / Н. П. Захаров, А. В. Багдасарян, 1992. - 144 с. - Текст : непосредственный.Боровиков С.М. Надежность радиоэлектронных устройств / С. М. Боровиков, 1997. - 79 с. - Текст : непосредственный.Шугуров А.Р. Эволюция рельефа поверхностей тонких пленок в процессе их формирования при внешних воздействиях: фрактальный анализ : специальность 01.04.07 "Физика конденсированного состояния" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / А. Р. Шугуров, 2001. - 20 с. - Текст : непосредственный.Торгашев В.А. Система остаточных классов и надежность ЦВМ, 1973. - 118 с. - Текст : непосредственный.Современные методы обеспечения качества и надежности электронных приборов : материалы временных коллективов / Московский Дом науч.-технической пропаганды им. Ф. Э. Дзержинского, 1990. - 148 c. - Текст : непосредственный.Кристовский Г.В. Электронно-физическое моделирование КМОП БИС / Г. В. Кристовский, Л. А. Маслова, Ю. В. Фастовец, 1990. - 15 с. - Текст : непосредственный.Multiple-valued logic in VLSI design / Ed. J. T. Butler, 1991. - VII,120 p. p. - Текст : непосредственный.Малинаускас К.К. Разработка математического и программного обеспечения систем топологического проектирования СБИС с использованием диаграмм Вороного : специальность 05.13.11 "Математическое и программное обеспечение вычислительных машин,комплексов и компьютерных сетей" : диссертация на соискание ученой степени канд. физ.-мат. наук / К. К. Малинаускас, 2007. - 23 с. - Текст : непосредственный.Баринов С.В. Разработка и исследование комплекса генетических алгоритмов разбиения схем с учетом временных задержек / С. В. Баринов, 2008. - 16 с. - Текст : непосредственный.Усикова М.А. Методы сверхлокального и селективного препарирования кремниевых интегральных схем / М. А. Усикова, 2011. - 16 с. - Текст : непосредственный.Венцов Н.Н. Исследование и разработка генетических алгоритмов и автоматов адаптации для повышения эффективности доступа к данным САПР СБИС : специальность 05.13.12 "Системы автоматизации проектирования (по отраслям)", 05.13.17 "Теоретические основы информатики" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / Н. Н. Венцов, 2006. - 16 с. - Текст : непосредственный.Никифоров А.Ю. Радиационные эффекты в КМОП ИС / А. Ю. Никифоров, В. А. Телец, А. И. Чумаков, 1994. - 164 c. - Текст : непосредственный.Чураев С.О. Встраиваемые системы контроля параметров интегральных схем пикосекундного разрешения / С. О. Чураев, 2012. - 19 с. - Текст : непосредственный.Special issue on high-speed circuits : материалы временных коллективов / Ed.: M. Mokhtari, M. G. Stubbs. - 1095-1210 p. p. - Текст : непосредственный.Papers presented at the 12th IEEE VLSI test symposium,1994 / VLSI test symposium (12 ; 1994 ; New York) , 1995. - 529-649 p. p. - Текст : непосредственный.Курейчик В.М. Контролепригодное проектирование и самотестирование СБИС: проблемы и перспективы / В. М. Курейчик, С. И. Родзин, 1994. - 174 c. - Текст : непосредственный.Микросхемы интегральные серии КР580.. К744 / "Электростандарт", российский НИИ (Санкт-Петербург), 1993. - 224 c. - Текст : непосредственный.Серых В.И. Обеспечение надежности РЭА в процессе производства / В. И. Серых, П. П. Мищенко, 1995. - 91 с. - Текст : непосредственный.Автоматизация проектирования комплементарных микросхем с учетом одиночных событий / И. П. Потапов, В. М. Антимиров, Ю. К. Фортинский, К. И. Таперо, 2007. - 121 с. - Текст : непосредственный.Овечкин Р.М. Новые технологичные СВЧ устройства для перестраиваемых мощных плотноупакованных СВЧ схем и настроечные корпуса для них : специальность 05.12.07 "Антенны, СВЧ устройства и их технологии" : диссертация на соискание ученой степени канд. техн. наук / Р. М. Овечкин, 2004. - 16 c. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыКоролев С.Ю. Повышение надежности интегральных схем в процессе серийного производства методом выравнивающей технологии : специальность 05.27.01 "Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и нано-электроника, приборы на квантовых эффектах" : автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук / С. Ю. Королев, 1997. - 16 с. - Текст : непосредственный.Обзор отечественной и зарубежной литературы. за 1979-1988 гг.№ 100. Методы повышения отказоустойчивости КМДП интегральных схем / О.А.Титов, 1989. - 40 с. - Текст : непосредственный.Строгонов А.В. Прогнозирование долговечности кремниевых биполярных интегральных схем по параметрическим отказам : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. техн. наук: 05.27.01 / А. В. Строгонов, 1997. - 15 с. - Текст : непосредственный.Горлов М.И. Физические основы надежности интегральных микросхем : Учеб. пособие / М.И.Горлов,С.Ю.Королев, 1995. - 200 c. - Текст : непосредственный.Гусев В.А. Надежность элементов микросхем / В. А. Гусев, В. Н. Кузьмин, Н. В. Шевченко, 1979. - 22 л. - Текст : непосредственный.Гадоев С.М. Паразитные эффекты в КМДП ИМС при работе в широком диапазоне температур : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук: 05.13.05;05.27.01 / С. М. Гадоев, 1993. - 10 с. - Текст : непосредственный.Бойко В.И. Повышение надежности интегральных схем серии 142 в процессе серийного производства : Диссертация в виде науч.докл.на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.27.01 / В. И. Бойко, 1995. - 18 с. - Текст : непосредственный.Федотов Я.А. Надежность и контроль качества в интегральной электронике : Учеб. пособие / Я.А.Федотов,А.А.Щука, 1997. - 66 с. - Текст : непосредственный.Архипов А.В. Электродиффузионная надежность тонкопленочного проводника на основе эпитаксиальной пленки алюминия : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук:05.27.01 / А. В. Архипов, 1996. - 16 с. - Текст : непосредственный.Расчет надежности интегральных схем по конструктивно-технологическим данным / М.И.Горлов,С.Ю.Королев,А.В.Кулаков,А.В.Строгонов, 1996. - 79 c. - Текст : непосредственный.Горлов М.И. Геронтология кремниевых интегральных схем / М. И. Горлов, В. А. Емельянов, А. В. Строгонов, 2004. - 239 с.Горлов М.И. Геронтология кремниевых интегральных схем / М. И. Горлов, В. А. Емельянов, А. В. Строгонов, 2004. - 239 с. - Текст : непосредственный.Романцов В.П. Прогнозирование надежности интегральных микросхем по параметрам низкочастотных шумов / В.П.Романцов,М.В.Долганов, 1990. - 60 c. - Текст : непосредственный.62 Научно-техническая конференция профессорско-преподавательского состава, сотрудников, аспирантов и студентов ВГТУ (г. Воронеж, 27 апреля 2022 г.) : материалы конференции: секции "Материалы и технология полупроводниковых приборов", "Проектирование и надежность полупроводниковых приборов и ИС" / Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Воронежский государственный технический университет, 2022. - 44 с. - Текст (визуальный) : непосредственный.Васильев, Федор Владимирович. Физическая надежность электроники / Ф. В. Васильев, 2022. - 159 с. - Текст (визуальный) : непосредственный.Физические основы надежности интегральных схем : учебное пособие / М. И. Горлов, А. В. Строгонов, Т. Г. Меньшикова [и др.], 2023. - 96 с. - Текст (визуальный) : непосредственный.Диагностика и оценка надежности интегральных схем / М. И. Горлов, С. А. Цыбин, В. А. Сергеев, А. В. Строгонов, 2024. - 96 с. - Текст (визуальный) : непосредственный.Шубин, Владимир Владимирович. Отказы интегральных схем / В. В. Шубин, 2025. - 135, [2] с. - Текст (визуальный) : непосредственный.
Заказ фрагмента документа ₽