• ВХОД
  •  

    Полное описание

    International test conference (1990 ; Washington). Proceedings of the international test conference,Washington,sept.1990 / ITC. - Los Alamitos, Ca [etc.] : IEEE computer soc. press, 1990. - XIV,1083 p. мкф. : ill. - (IEEE publications / Inst.of electrical and electronics engineers, ISSN 0149-144X ; 90CH2910-8). - ISBN 0-8186-2064-1. - Текст : непосредственный.
    Библиогр.в конце статей

    ГРНТИ УДК
    47.33621.384.001.4(063)(086.2)

    Рубрики:
    Электронные приборы -- Испытание -- Съезды и конференции

    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): MR-104969)

    Шифр в сводном ЭК: 5d8c668ec429420dd5d9fe34c205efa0