• ВХОД
  •  

    Полное описание

    Сюй, Александр Вячеславович. Электронная микроскопия наноматериалов : учебное пособие / А. В. Сюй ; Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Московский физико-технический институт (национальный исследовательский университет). - Москва : МФТИ, Физтех, 2025. - 163 с. : ил. - Библиогр. в конце гл. - 30 экз. - ISBN 978-5-7417-0858-3. - Текст (визуальный) : непосредственный.
    ГРНТИ УДК
    81.09.30620.22-022.532:537.533.35

    Рубрики:
    Наноструктурные материалы -- Методы исследования

    Кл.слова (ненормированные): АТОМНО-СИЛОВАЯ МИКРОСКОПИЯ -- НАНОСТРУКТУРЫ -- ПРОСВЕЧИВАЮЩАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- РАСТРОВАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- РЕНТГЕНОВСКАЯ ДИФРАКТОМЕТРИЯ -- РЕНТГЕНОВСКАЯ ФОТОЭЛЕКТРОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ -- ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ
    Аннотация: Учебное пособие написано на основе лекций, читаемых автором для студентов физтех-школы физики и исследований им. Ландау Московского физико-технического института (национального исследовательского университета) по дисциплине "Физические методы исследования наноматериалов". Содержит изложение основных методов электронной микроскопии, применяемых для исследования наноматериалов: электрофизические методы исследования наноматериалов, атомно-силовая микроскопия, растровая электронная микроскопия, просвечивающая электронная микроскопия, рентгеновская дифрактометрия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия и др. Предназначено для студентов математических, физических и инженерных специальностей.
    Доп. точки доступа:
    Московский физико-технический институт (национальный исследовательский университет)

    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Д11-25/39578)

    Шифр в сводном ЭК: d54b442989286097dade568baf0e36a7



    Заказ фрагмента документа ₽