Приложение
для AndroidПолное описание
Шамин, Евгений Сергеевич. Оптимизация в задачах моделирования, связанных с формированием фотолитографического изображения : специальность: 2.2.2 Электронная компонентная база микро- и наноэлектроники, квантовых устройств: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук / Шамин Евгений Сергеевич ; Акционерное общество "Научно-исследовательский институт молекулярной электроники". - Долгопрудный, 2024. - 22 с. : ил., цв. ил. - Библиогр.: с. ( назв.). - 100 экз. - Текст : непосредственный.
| ГРНТИ | УДК | |
| 47.33.37 | 655.226.2-047.58(043) |
Кл.слова (ненормированные): АЛГОРИТМ SLSQP -- АЛГОРИТМ SLSQPЮ -- АЛГОРИТМ РАССТАНОВКИ SRAF -- БЕНЧМАРКИНГ -- ТОПОЛОГИЧЕСКИЕ ЭЛЕМЕНТЫ -- ФУНКЦИЯ ХИММЕЛЬБЛАУ -- ШЕРОХОВАТОСТЬ БОКОВЫХ СТЕНОК
Доп. точки доступа:
Научно-исследовательский институт молекулярной электроники (Москва)
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Ар24-6167)
Шифр в сводном ЭК: 4163449c9b88de0c5515c7a327f18e61
Разработка алгоритмов машинного обучения для определения параметров модели мемристора / Е. С. Шамин, Д. А. Жевненко, Ф. П. Мещанинов [и др.]. - Текст : непосредственный // Наноиндустрия : научно-технический журнал. - Москва : ТЕХНОСФЕРА, 2020. - Т. 13 (102) спецвып. 5s (2020), Ч. 3. - с. 866-868Поиск начального приближения для задачи экстракции параметров модели мемристора с помощью методов машинного обучения / Е. С. Шамин, Д. А. Жевненко, Ф. П. Мещанинов [и др.]. - Текст : непосредственный // Материалы электронной техники : журнал / Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС" (Москва). - Москва : МИСиС, 2021. - Т 24 N 2.- С.97-101Шамин, Евгений Сергеевич. Оптимизация в задачах моделирования, связанных с формированием фотолитографического изображения : специальность: 2.2.2 Электронная компонентная база микро- и наноэлектроники, квантовых устройств: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук / Шамин Евгений Сергеевич, 2024. - 22 с. - Текст : непосредственный.
Бокарев В.П. Поверхность и физико-химические свойства кристаллов / В. П. Бокарев, 2018. - 146 с. - Текст : непосредственный.Электронная техника : научно-технический журнал. Сер.3, Микроэлектроника / Научно-исследовательский институт молекулярной электроники. - Монографическая серия выходит с 1965г. - Текст : непосредственный.Шишлянников, Антон Валерьевич. Исследование методов формирования структур с критическими размерами до 10 нм электронно-лучевой литографией на основе HSQ резиста : 05.27.01 - твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и наноэлектроника, приборы на квантовых эффектах: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук / Шишлянников Антон Валерьевич, 2021. - 23 с. - Текст : непосредственный.Иванов, Владимир Викторович. Исследование эффектов оптической близости и разработка методов их коррекции для критических литографических слоев технологии производства СБИС проектных норм 65 нм : специальность 05.27.01- Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и наноэлектроника, приборы на квантовых эффектах: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук / Иванов Владимир Викторович, 2021. - 35 с. - Текст : непосредственный.Эннс, Виктор Иванович. Методы и средства разработки специализированных гетерогенных конфигурируемых интегральных схем для вычислительной техники и систем управления : специальность: 05.13.05 - элементы устройства вычислительной техники и систем управления, специальность: 05.13.12 - системы автоматизации проектирования (технические науки): автореферат диссертации на соискание ученой степени доктора технических наук / Эннс Виктор Иванович, 2022. - 43 с. - Текст : непосредственный.Иванов, Владимир Викторович. Исследование эффектов оптической близости и разработка методов их коррекции для критических литографических слоев технологии производства СБИС проектных норм 65 нм : специальность 2.2.2 - Электронная компонентная база микро- и наноэлектроники, квантовых устройств: автореферат диссертации на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук / Иванов Владимир Викторович, 2023. - 35 с. - Текст : непосредственный.Зюзин, Сергей Сергеевич. Атомно-слоевое осаждение оксидов гафния и циркония для структур с эффектом резистивного переключения : специальность: 2.2.2. Электронная компонентная база микро- и наноэлектроники, квантовых устройств: автореферат диссертации на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук / Зюзин Сергей Сергеевич, 2023. - 25 с. - Текст : непосредственный.Ганыкина, Екатерина Андреевна. Исследование физических принципов резистивного переключения в мемристорных структурах на основе оксидов переходных металлов : специальность: 2.2.2. Электронная компонентная база микро- и наноэлектроники, квантовых устройств: автореферат диссертации на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук / Ганыкина Екатерина Андреевна, 2023. - 26 с. - Текст : непосредственный.Харченко, Екатерина Леонидовна. Исследование физических основ построения рельефа в фоторезистивной маске с разработкой компактной литографической модели : специальность: 2.2.2. Электронная компонентная база микро- и наноэлектроники, квантовых устройств: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук / Харченко Екатерина Леонидовна, 2023. - 21 с. - Текст : непосредственный.Кравцов, Александр Сергеевич. Архитектура кэш-памяти в "системах на кристалле" для мультимедийных приложений : специальность: 2.2.2. Электронная компонентная база микро- и наноэлектроники, квантовых устройств: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук / Кравцов Александр Сергеевич, 2024. - [25] с. - Текст : непосредственный.Шамин, Евгений Сергеевич. Оптимизация в задачах моделирования, связанных с формированием фотолитографического изображения : специальность: 2.2.2 Электронная компонентная база микро- и наноэлектроники, квантовых устройств: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук / Шамин Евгений Сергеевич, 2024. - 22 с. - Текст : непосредственный.Ларионов, Михаил Юрьевич. Исследование принципов проектирования метаматериалов для радиочастотной идентификации и поглощающих селективных поверхностей : специальность 2.2.2 Электронная компонентная база микро- и наноэлектроники, квантовых устройств: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук / Ларионов Михаил Юрьевич, 2024. - 25 с. - Текст : непосредственный.Пяточкин, Михаил Дмитриевич. Исследование тепловых процессов в гетероинтегрированных многокристальных микромодулях на основе кремния для СВЧ применений : специальность: 2.2.2. Электронная компонентная база микро- и наноэлектроники, квантовых устройств: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук / Пяточкин Михаил Дмитриевич, 2025. - 23 с. - Текст : непосредственный.Бокарев, Валерий Павлович. Физическая химия поверхности материалов микро- и наноэлектроники : учебное пособие / В. П. Бокарев, 2025. - 157 с. - Текст (визуальный) : непосредственный.Бокарев, Валерий Павлович. Модель координационного плавления кристалла : учебное пособие / В. П. Бокарев, Е. С. Горнев, 2025. - 57 с. - Текст (визуальный) : непосредственный.Эпов, Илья Владимирович. Методология разработки бесчиповых и ультракомпактных UHF-меток с учетом электродинамического окружения : специальность: 2.2.2. Электронная компонентная база микро- и наноэлектроники, квантовых устройств: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук / Эпов Илья Владимирович, 2025. - 24 с. - Текст : непосредственный.Тихонова, Елена Дмитриевна. Исследование многократной литографии для улучшения разрешающей способности при производстве СБИС : специальность: 2.2.2. Электронная компонентная база микро- и наноэлектроники, квантовых устройств: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук / Тихонова Елена Дмитриевна, 2025. - 22 с. - Текст : непосредственный.Миннуллин, Рамиль Талгатович. Резонансные эффекты в периодических структурах нанофотоники на основе кремния и материалов с изменяемым фазовым состоянием : специальность 1.3.5 - Физическая электроника: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук / Миннуллин Рамиль Талгатович, 2025. - 27 с. - Текст : непосредственный.
Полупроводниковая микроэлектроника : сборник научных трудов / Новосибирский электротехнический ин-т, 1989. - 113,5 c. c. - Текст : непосредственный.Зотов А.А. Физические основы устройств функциональной электроники / А. А. Зотов, Т. И. Чернышова, В. Н. Чернышов, 1993. - 208 c. - Текст : непосредственный.Наноэлектроника, нанофотоника и нелинейная физика : материалы временных коллективов, 2014. - 240 с. - Текст : непосредственный.Щука А. А. Наноэлектроника / А. А. Щука, 2007. - 463 с. - Текст : непосредственный.Основы электротехники, микроэлектроники и управления. Теория и расчет : учеб. пособие: в 2 т. / Ю. А. Комиссаров [и др.] ; ред. П. Д. Саркисов. Т. 1, 2007. - 450 с. - Текст : непосредственный.Основы электротехники, микроэлектроники и управления. Теория и расчет : учеб. пособие: в 2 т. / Ю. А. Комиссаров [и др.] ; ред. П. Д. Саркисов. Т. 2, 2007. - 310 с. - Текст : непосредственный.The second international workshop on surfaces..,Hawaii,7-12 Dec.1997 / Workshop on surfaces and interfaces of mesoscopic devices (2nd ; 1997 ; Hawaii) , 1998. - 183 p. - Текст : непосредственный.Очерки истории российской электроники. Вып. 5 : 50 лет отечественной микроэлектронике. Краткие основы и история развития / Б. М. Малашевич, 2013. - 799 с. - Текст : непосредственный.Орлова М.Н. Наноэлектроника : выставочные материалы / М. Н. Орлова, И. В. Борзых, 2013. - 49 с. (Введено оглавление). - Текст : непосредственный.Micro-and nanoengineering 95 : материалы временных коллективов / Ed. J. Perrocheau, 1996. - XVIII,626 p. p. - Текст : непосредственный.Гетеромагнитная микроэлектроника : Сб. науч. тр. / Рос. агентство по системам упр. Вып. 10 : Гетеромагнитная микро- и наноэлектроника. Прикладные аспекты. Экономика. Методические аспекты физического образования / под ред. А. В. Ляшенко, 2011. - 147 с. - Текст : непосредственный.Ефимов И.Е. Основы микроэлектроники : учебное пособие / И. Е. Ефимов, И. Я. Козырь, 2008. - 384 с. - Текст : непосредственный.Комаров А.С. Управление техническим уровнем высокоинтегрированных электронных систем (научно-технологические проблемы и аспекты развития) / А. С. Комаров, Д. В. Крапухин, Е. И. Шульгин ; Ред. П. П. Мальцев, 2014. - 239 с. - Текст : непосредственный.Бобров И.И. Физические основы микроэлектроники : Курс лекций. Ч. 1, 1995. - 81 с. - Текст : непосредственный.Беседина К.Н. Разработка методов управляемого формирования и исследование тонкопленочных опаловых наноструктур / К. Н. Беседина, 2014. - 16 с. - Текст : непосредственный.Journal of Nanoelectronics and Optoelectronics . - Журнал выходит с 2006г.Субмикронные технологии : сборник научных трудов / Ред. В. Н. Репин, 1995. - 79 c. - Текст : непосредственный.Физико-химические основы микроэлектроники. Процессы получения пленок / В. Г. Нефедов, О. Б. Гусев, Ю. С. Кулешов, О. В. Шакин, 1991. - 66 с. - Текст : непосредственный.Микроэлектроника и информатика-2001 : сборник, 2001. - 336 с. - Текст : непосредственный.physics and fabrication of microstructures and microdevices : материалы временных коллективов / Ed.: M. J. Kelly, C. Weisbuch, 1986. - XI,469 p. p. - Текст : непосредственный.
Показать все результатыЗаказ фрагмента документа ₽