• ВХОД
  •  

    Полное описание

    Смирнова, Вера Петровна. Исследование и разработка методов оценки сечения сбоя и повышения стойкости интегральных запоминающих устройств к воздействию тяжелых заряженных частиц : специальность 2.2.2. Электронная компонентная база микро- и наноэлектроники, квантовых устройств: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук / Смирнова Вера Петровна ; Национальный исследовательский университет "Московский институт электронной техники", Кафедра интегральной электроники и микросхем. - 2023. - 26 с. : ил. - Библиогр.: с. 8. - 100 экз. - Текст : непосредственный.

    ГРНТИ УДК
    50.11004.33'144:621.3.049.771.14(043)
    47.33.31004.33.087.2:539.16(043)
    621.3.049.771.14:539.16(043)

    Кл.слова (ненормированные): ВЛИЯНИЕ ИОНИЗИРУЮЩИХ ИЗЛУЧЕНИЙ -- ЗАПОМИНАЮЩИЕ УСТРОЙСТВА -- ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ -- МИКРОСХЕМЫ ПАМЯТИ -- ПЛОТНОУПАКОВАННЫЕ СВЕРХБОЛЬШИЕ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ -- РАДИАЦИОННАЯ СТОЙКОСТЬ -- СХЕМЫ ПАМЯТИ
    Доп. точки доступа:
    "Московский институт электронной техники", национальный исследовательский университет. Кафедра интегральной электроники и микросхем

    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Ар23-7241)

    Шифр в сводном ЭК: 4785f48cf1e56b6260f9a7949dc851b2



    Заказ фрагмента документа ₽