• ВХОД
  •  

    Полное описание

    Мороз, Андрей Викторович.
    Физические основы микроэлектроники : лабораторный практикум / А. В. Мороз, В. Е. Филимонов ; Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Поволжский государственный технологический университет. - Йошкар-Ола : ПГТУ, 2024 - . - Текст : непосредственный.
    Ч. 1 : Исследование параметров полупроводников. - 2024. - 59 с. : ил. - Библиогр.: с. 59 (7 назв.). - 100 экз. - ISBN 978-5-8158-2268-9

    ГРНТИ УДК
    47.09.29621.315.592.08(076.5)

    Рубрики:
    Полупроводники -- Параметры -- Измерение -- Учебники и пособия

    Кл.слова (ненормированные): ЗОННАЯ СТРУКТУРА ПОЛУПРОВОДНИКОВ -- МАГНИТНЫЕ ЯВЛЕНИЯ -- ПОТЕНЦИАЛ ФЕРМИ -- ТЕМПЕРАТУРНАЯ ЗАВИСИМОСТЬ -- ТЕРМО-ЭДС -- ЧЕТЫРЕХЗОНДОВЫЙ МЕТОД -- ЭЛЕКТРОПРОВОДНОСТЬ -- ЭФФЕКТ ЗЕЕБЕКА -- ЭФФЕКТ ХОЛЛА
    Аннотация: Представлены основные теоретические сведения, охватывающие свойства и параметры полупроводников. Приведены содержание и порядок выполнения лабораторных работ по дисциплине "Физические основы электроники", посвященные исследованию параметров полупроводников. Для студентов радиотехнических специальностей и направлений подготовки.
    Доп. точки доступа:
    Филимонов, Виталий Евгеньевич
    Поволжский государственный технологический университет(Йошкар-Ола)
    Экз-ры полностью 8de18504aadc467f97a3112327efe526
    Нет сведений об экземплярах
    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): М/76229/1)

    Шифр в сводном ЭК: 8de18504aadc467f97a3112327efe526



    Заказ фрагмента документа ₽